
м 1 pi it (24,1) були проведені при однакових умовах: одним
споптрії ачом, одним і тим же інструментом і при однако-
нмх приблизно зовнішніх умовах. Тоді деякі окремі фак
тори в однаковій мірі вплинуть на результати як першого,
так і другого ряду вимірів, і в різницях (24,2) елементарні
помилки, обумовлені однаковими факторами, будуть виклю
чені або вилив їх значно послаблений. Так само в різницях
будуть виключені невідомі нам малі постійні і частково
систематичні змінні, але однобічно діючі помилки. Отже,
різниці (24,2) результатів подвійних вимірів не відбивати
муть повністю впливу всіх джерел помилок. Через те і. зна
чення середньої квадратичної помилки одного виміру буде
зменшеним. Цю обставину завжди треба мати на увазі.
В тому випадку, коли різниці подвійних вимірів (24,2)
містять систематичні помилки, то перш ніж давати оцінку
точності, їх необхідно виключити. Наявність в різницях си
стематичних помилок виявляється на підставі таких мірку
вань.
Припустимо, що різниці di складаються з випадкових
помилок Д,- і систематичних помилок а;:
dl = Al + vl,
й2 = А.2 + а.г,
dn — Дл +°п ■
Тоді в сумі [rf| при достатньому числі подвійних вимірів
випадкові помилки будуть компенсуватися, а систематичні
підсумовуватися. Отже, якщо [d\ значно відрізнятиметься
від нуля, то це можна віднести лише на рахунок перева
жаючого впливу систематичних помилок, і нерівність
и # (24,7)
буде умовою наявності в різницях систематичних помилок.
Для виключення систематичних помилок припустимо, що
значення їх у всіх різницях однакові і дорівнюють
d0- £ ]. (24,8)
Виправляючи на величину d{) всі різниці, одержимо:
A dx = dx fi?0,
Д d-z ~ d2 d0,
Д dn =dn dy.
Але величина d0 e середнє арифметичне значення різниці.
Через те, беручи до уваги ті визначення, які ми давали