Подождите немного. Документ загружается.
Глава
11
ЗАКЛЮЧИТЕЛЬНЫЕ
СООБРАЖЕНИЯ
Сейчас
выяснился
один
исключи
тельно
важный
факт,
касающийся
Космического
корабля
под
назва
нием
Земля.
Он
состоит
в
том,
что
для
этого
корабля
отсутствует
инструкция.
1)
Р.
Бакминстер
Филлер,
Инструкция
по
эксплуа
тации
Космического
ко
рабля
"Земля",
1969
§ 1.
Всеобъемлющая
роль
фононов
в
современных
твердотельных
устройствах
На
протяжении
всей
книги
приводились
примеры
того,
что
фононные
эффекты
имеют
всеобъемлющий
характер
в
современных
твердотельных
приборах.
Как
показано
на
множестве
примеров
в
гл.
7-10,
значение
этих
эффектов
для
размерно-ограниченных
структур,
как
правило,
не
меньше,
чем
для
объемных
структур.
При
этом
в
гл.
7
было
показано,
что
эффекты
размерного
ограничения
важны
даже
для
биологических
структур!
Там
на
примере
цилин
дрической
оболочки
в
виде
тонкого
слоя,
потруженной
в
жидкость,
моделировалось
колебательное
поведение
микротубулин,
погруженных
в
воду
[137].
Примеры,
приведенные
в
гл.
7,9,
также
показывают,
что
модель
упругого
континуума
дает
достаточно
точное
описание
акустических
фононов
в
размерно-ограниченных
структурах,
имеющих
разнообразные
геометрические
формы,
включая
тонкие
пленки,
нанопроволоки
прямоугольного
и
круглого
сечения
и
множество
структур
точечного
типа.
Поскольку
наноразмерные
элементы
имитируют
хорошо
известные
более
крупные
микроэлектромеха
нические
устройства,
роль этих
структур
неизбежно
оказывается
фундаментальной,
имеющей
значение
для
всей
нанотехнологии.
Например,
в
работе
[173]
сообщалось
о
методе
изготовления
наноразмерных
механических
структур
из
объемных
однокристальных
1)
Перевод
сангл.
Б.
Никифорова
и
В.
Пожара.
252
Гл.
11.
Заключительные
соображения
кремниевых
подложек.
В
качестве
другого
примера
фундаментальной
роли
акустических
фононных
эффектов
в
размерно-ограниченных
структурах
можно
упомянуть
недавнее
теоретическое
предсказание
возможности
генерации
высокочастотных
размерно-ограниченных
акустических
фононов
в
квантовых
ямах
на
основе
эффектов
черенковского
типа
[100]
(см.
§ 6
гл.
10).
В
гл.
8
было
показано,
что
значения
частот
рассеяния носителей
на
оптических
фононах,
вычисленные
для
множества
размерно-ограничен
ных
полупроводниковых
структур,
превышают
1013
с-
1
.
Понятно,
что
эти
частоты
являются
одними
из
наиболее
высоких
среди
встречаю
щихся
в
подобных
структурах, так что
во
многих
случаях
указанные
процессы
превалируют
над
другими
механизмами
рассеяния.
Хорошо
известно,
что
такое
взаимодействие
носителей
с
фононами,
являясь
весьма
сильным,
играет
основную
роль
в
определении
подвижности
носителей
[13, 9].
В
гл.
10
было
показано,
что
фононы
дают
домини
рующий
вклад
в
долинный
ток
в
некоторых
структурах,
содержащих
квантовые
ямы
с
двойным
барьером
[162],
и
что
свойства
достаточно
тонких
сверхпроводящих
пленок
зависят
от
спектра
размерно-ограни
ченных
фононов
[171].
Кроме
того,
в
гл.
10
было
показано,
что
в
полупроводнико
вых
лазерах
на
межподзонных
переходах
размерное
ограничение
фононов
при
водит
к
изменению
коэффициента
усиления
[155, 174],
а в
некоторых
лазерах
на
квантовых
ямах
с
несимметричным
двойным
барьером
-
к
росту
инверсии
населенности
[167].
Также
в
работах
[175-178]
было
исследовано
межподзонное
рассеяние
в
лазерах
на
связанных квантовых
ямах
в
условиях
оптической
накачки
и
показано,
что
переходы
с
участием
интерфейсных
фононов
играют
важную
роль
в
таких
структурах.
Эти
результаты
иллюстрируют
необходимость
учета
эффектов
размерного
ограничения
фононов
в
лазерах
на
межподзонных
переходах.
Как
показано
в
гл.
10,
в
таких
оптических
системах,
как
полупроводниковые
лазеры
на
межпод
зонных
переходах,
детали
энергетического
спектра
фононов
крайне
критичны
к
правильной
трактовке
эффектов
размерного
квантования.
Это
утверждение
также
верно
и
для
многих
новейших
полупро
водниковых
лазеров
на
межподзонных
переходах
с
инжекцией
тока
[179, 83, 180, 157],
что
проиллюстрировано
расчетами,
проведенными
в
работах
[156, 155, 174].
§ 2.
Тенденции:
фононные
эффекты
в
наноструктурах
и
фононные
технологии
В
настоящем
пара
графе
приведены
некоторые
соображения,
касаю
щиеся
фононов
в
наноструктурах,
способные
служить
«путеводителем.
по
перспективным
направлениям
исследований
размерно-ограниченных
фононов.
Для
прогнозирования
этих
направлений
и
будущих
§2.
Тенденции
253
разработок
в
области
фононных
технологий
полезно
рассмотреть
воз
никающее
международное
сотрудничество
в
отношении
исследований
как
нано-,
так
и
объемных
структур.
Действительно,
новейшие
фононные
эффекты,
обнаруживаемые
в
объемных
материалах,
по
всей
вероятности
имеют
свои
аналоги
в
наноструктурах.
Достижения
в
области
фемтосекундных
лазеров
и
спектроскопии
сверхвысокого
временного
разрешения
и
продолжающееся
совершенствование
новейших
методов
изготовления
наноструктур,
в
частности
кван
товых
точек
[181],
явились
основой
для
экспериментального
наблюдения
когерентных
акустических
колебаний
в
сверхрешетках
[95],
затухающих
сферических
акустических
пульсирующих
мод
в
квантовых
точках
[144]
(см.
также
вспомогательный
анализ
в
работе
[146]),
оптических
фононов
вблизи
поверхности
объемного
образца
арсен
ида
галлия
[182],
оптических
фононов
в
германии
[183],
возбуждения
когерентных
фононов
в
Sb,
Вi,
Те
и
тьо,
[184].
С
когерентными
фононными
эффектами,
вероятно,
будет
связано
одно
из
главных
направлений
в
области
нанотехнологий,
а
также
фононных
технологий.
В
работе
[158]
показана
потенциальная
возможность
контроля
степени
когерентности
в
атомах,
молекулах
и
полупроводниках.
Вероятно,
фононные
технологии
в
наноструктурах
станут
будущим
магистральным
направлением
исследований
и
разработок
в
области
приборостроения.
Действительно,
умение
моделировать
поведение
фононных
мод
в
размерно-ограниченных
структурах
является
основой
проектирования
таких
наноструктур,
в
которых
механизмы
диссипации
и
рассеяния
носителей
и
Фононов
отличались
бы
от
соответствующих
механизмов
в
объемных
структурах.
В
частности,
в
работе
[185]
теоретически
проанализирована
электронная
структура
таких
объектов,
как
сверхрешетки,
образованные
квантовыми
проволоками,
и
связанные
массивы
квантовых
точек,
с
целью
проектирования
такой
структуры
подзон
энергии
электронов,
в
которой
рассеяние
носителей
на
оптических
фононах
подавлено.
Другим
примером
подобных
разработок
является идея
использования
свойств
поверхности
раздела
металл-полупроводник
для
снижения
частоты
рассеяния
носителей
на
интерфейсных
фононах
[143],
что
представляет
собой
одну
из
первых попыток
в
области
фононного
технологического
проектирования
в
наноструктурах.
В
этом
слу
чае
первые
расчеты
частот
рассеяния
носителей
на
LО-фононах
в
полярных
полупроводниковых
квантовых
проволоках
[134, 136]
показали,
что
рассеяние
носителей
интерфейсными
оптическими
фононными
модами
преобладает
над
рассеянием,
вызванным
размерно-ограниченными
фононами
и
фононными
модами
полу
пространств.
И
потому
в
качестве
метода
снижения
в
таких
структурах
нежелательного
неупругого
рассеяния,
вызываемого
интерфейсными
LО-фононами,
было
предложено
[143]
подавить
это
рассеяние
путем
заключения
полупроводниковой
квантовой
254
Гл.
11.
Заключительные
соображения
проволоки
в
металлическую
оболочку.
Еще
одним
при мер
ом
фононных
технологий
является
метод
управления
частотой
рассе
яния
и
скоростью
диссипации
в
квантовых
при борах
на
основе
гетероструктур,
промоделированный
в
работе
[186].
Этот
метод
использовался
в
работах
[175-178]
в
процессах
ме2КПОДЗОННОГО
рассеяния
с
оптической
накачкой
в
лазерах
на
связанных
кантовых
ямах.
Очевидно,
что
работы
в
области
фононных
технологий,
базирующиеся
на
представленных
в
настоящей
книге
теориях
размерного
квантования
фононов,
будут
оставаться
одним
из
ва2КНЫХ
направлений
исследований.
ПРИЛОЖЕНИЯ
Приложение
А:
теория
Хуан
Куня-Борна
Хуан
Кунь
и
Борн
[187, 188]
для
микроскопической
теории
двух
атомных
полярных
кристаллов
записали
в
наиболее
общей
форме
пару
уравнений,
связывающих
величины
w,
Е
и
Р:
w
=aw+bE
и
Р
=dw+cE.
(А.l)
Они
показали
[188],
что
d
равно
Ь
в
силу
сохранения
энергии.
В
этих
уравнениях
w = Jp,N
jV
и,
где
u -
относительное
смещение
двух
ионов,
р,
-
приведенная
масса
ионной
пары,
N -
число
элементарных
ячеек
в
кристалле
и
V -
объем
кристалла.
Вводя
временную
зависи
мость
в
виде
ехр(
-iUJt)
и
исключая
w
из
этих
уравнений,
получаем
соотношение
Р
=
(с
+
Ь
2
2)
Е.
-а
- UJ
(А.2)
Поскольку
D =
Е
+
47ГР
=
E(UJ)E,
выражение
(А.2)
может
быть
пере-
писано
в
виде
47Гь
2
E(UJ)
= 1+
47ГС
+ 2 .
(А.3)
-а
- UJ
Из
обобщенного
соотношения
Лиддейна-Сакса-
Теллера
(2.32)
видно,
что
2 2 ( 2 2)
(2
2)
(
)
_ ( )
UJ
LO
-
UJ
_ ( )
UJ
TO
-
UJ
+
UJ
LO
-
UJ
TO
_
EUJ
-ЕОО
2
2-
Е
ОО
2 2 -
UJ
TO
-
UJ
UJ
TO
-
UJ
UJL20jUJT20
- 1
Е(О)
-
Е(ОО)
=Е(ОО)+Е(ОО)
=Е(ОО)
+
(А.4)
1 - UJ2
jUJ?o
1- UJ2
jUJ?o
Сравнение
формулы
(А.3),
полученной
Борном
и
Хуан
Кунем,
с
фор
мулой,
вытекающей
из
соотношения
Лиддейна-Сакса-
Теллера,
с
оче
видностью
при
водит
к
выражению
Е(ОО)
- 1
с
=
47Г
'
2
а
=
-UJ
т
о
и
Ь
-
[Е(О)-Е(оо)]'/2
-
47Г
-то-
(А.Б)
256
Приложения
(А.б)
Таким
образом, пара
уравнений
(А.1)
и
соотношение
(А.2),
введен
ные
Хуан Кунем
и
Борном,
могут
быть записаны
в
следующем
виде:
(
2 2) _
[Е(О)
-
Е(
(0)]
1/2
Е
UJTO
-
UJ
W -
47Г
«то
'
(
2 _ 2) _
[Е(О)
-
Е(ОО)]
1/2
Е(ОО)
- 1
Е
UJTO
UJ
W -
47Г
-то
W +
47Г
.
(А.7)
Используя
вновь
параметр
относительного
смещения
U,
можно
перепи
сать
эти
уравнения
в
виде
(
V )
1/2
(UJfo
-
UJ2)u
=
4nf.1,N
V
Е(О)
-
Е(
(0)
UJToE,
( )
1/2
f-lV
Е(ОО)
- 1
р=
4nV
VE(O)-Е(оо)UJТОU+
47Г
Е.
(А.8)
(А.9)
Приложение
Б:
теория
Вендлера
Вендлер
[89]
сформулировал
теорию,
описывающую
взаимодей
ствие
носителей
с
фононами
в
диэлектрических
двухслойных
системах,
которая
учитывает
влияние
электронной
поляризуемости
на
собствен
ные
моды
фононов
и
их
частоты.
Модель
Вендлера
дает
несколько
со
отношений,
которые
помогают
при
расчете
взаимодействий
носителей
с
фононами
в
размерно-ограниченных
системах.
Как
и
в
п.
3.1
гл.
2,
поле
смещений
в
модели
Вендлера
связано
с
полями
E(r)
и
Р'(г)
через
колебательное
уравнение
с
вынуждающей
силой
и
через
эффективный
заряд
e~:
для
бинарного
вещества,
из
которого
состоит
слой
номер
п,
имеем
(Б.1
)
(Б.2)
где
f-ln
=
mnМn/(m
n
+
М
n)
-
приведенная
масса,
О:n
-
электронная
поляриэуемостъ,
отнесенная
к
элементарной
ячейке,
и
где
в
соответ
ствии
с
формулой
Лоренца
47Г
ЕЛОК(г)
=
E(r)
+
зР(г).
(Б.3)
Здесь
ЕЛОК(г)
локальное
электрическое
поле,
связанное
с
оптическими
фононами,
влияющими
на
электронные
оболочки
ионов.
Уравнение
Пуассона
имеет
вид
ДФ(г,
t) =
-4
7Г
р
о
б
щ
(
г
,
t),
(БА)
Приложенив
Б
257
(Б.5)
где
рОбш(г,
t)
включает
в
себя
плотность
как
объемных,
так
и
по
верхностных
поляризационных
зарядов.
Используя
подход,
основанный
на
функциях
Грина,
Вендлер
записал
решение
уравнения
Пуассона
в
следующей
форме:
Ф(г,
t) = -
LfdЗ
Г
'
дд
1 1
'1
Р(3(г',
t).
(3
Т(3
г-г
Отсюда
с
учетом
соотношения
Еа(г,
t) =
-дФ(г,
t)/aT
a
И
уравнения
Лоренца
(Б.3)
получается
выражение
E~OK(г,
t) =
4;
(л
n
-
Лоn)Ра(г,
t) +
+
47Т
L f
dзг'
г
а
(3
(
г
-
г')Р(3(г',
t),
(Б.б)
(3
где
тензор
Грина
дается
формулой
(Б.7)
Считая,
что
вектор
Р(г,
t)
зависит
от
времени
синусоидально,
Венд
лер
показал,
что
(л
n
-
ЛОn)
(1
-
4/з7ТПnCVn)
+
4/
з
7Т
Ра(г)
=
1-
ПnCVn(Л
n
-
ЛОn)
=
-47Т
Lf
dзг'
г
а
(3
(
г
-
г')Р(3(г',
t),
(Б.8)
(3
где
л
n
= 2 '
Wплазма,n
л
_
4nW5n
Оп
- 2 '
Wплазма,n
(Б.9)
(в.го)
а
квадрат
плазменной
частоты
W~лазма
n
дается
формулой
4
*2
2
7Тп
nе
n
,
а
(
Ь
)
W
--------'-------'--
плазма,n,а(Ь)
- /1.
r-n,a(b)
Используя двумерное
преобразование
СРурье
для
электростатиче
ских
полей,
описываемое
формулой
00
Р(г)
=
(2~)
fd
2qll
еiqll·ГIIР(qll,ТЗ),
-00
9
М.
А.
Сторшио,
М.
Дутта
(Б.ll
)
258
Приложения
где
вектор
rll
лежит
в
плоскости
поверхности
раздела
двухслойной
системы,
Вендлер
показал,
что
где
и
причем
фn
=
л
n
-
ЛОn
1-
ПnО:n(Л
n
-
ЛОn)
u(qll,rз)
=
ve:
Р(qll,rз),
пnе
n
(Б.12)
(Б.13)
(Б.14
)
(Б.16)
1
д"
=
(Б.15)
1 -
ПnО:n(Л
n
-
ЛОn)
.
Кроме
того,
применение
Вендлером
подхода,
основанного
на
функ
циях
Грина,
дает
несколько
полезных
соотношений:
( )
ПnО:n
Е
n
00
= 1+
41Г
4/
'
1 -
З1ГПnО:n
2 2
2/
2 1
wLO,n
= wO,n +
ЗWплазма,n
1+
8/
'
З
1Г
П
nО:n
2 2
'/
2 1
wTO,n
= wO,n -
ЗWплазма,n
1
4/
'
-
З
1Г
П
nО:n
2 2 2/ 2 1
wLO,n
-
wTO,n
=
ЗWплазма,n
1+
8/
+
З
1Г
П
nО:n
'/
2 1
+
ЗWплазма,n
1
4/
-
З
1Г
П
nО:n
2
Wплазма,n
где
значения
п
относятся
либо
к
материалу
1,
либо
к
материалу
2.
Как
это
может
быть
подтверждено
алгебраически,
соотношение
Лидлейна
Сакса-Теллера,
приведенное
в
п.
3.3
гл.
2,
выполняется
при
подста
новке
в
нее
частот,
задаваемых
формулой
(Б.16)
[89].
Проведенное
Вендлером
исследование
явления
диэлектрической
поляризуемости
со
ставляет
основу
для
многих
работ
по
оптическим
фононам
в
размерно
ограниченных
системах.
Применимость
полученного
Вендлером
реше
ния
проиллюстрирована
в
гл.
7.
Приложение
В:
моды
оптических
фононов
в
структурах
с
двумя
поверхностями
раздела
Нэш
[96]
внес
чрезвычайно
важный
вклад
в
физику
фононов
В
наноструктурах,
показав,
что
скорости
межподзонного
рассеяния
и
скорости
внутриподзонного
рассеяния
электронов
на
фононах
не
за
висят
от
базисного
набора
мод,
используемых
для
описания
полярных
Приложенив
В
259
оптических
фононов,
заключенных
в
полупроводниковой
пластине.
В
работе
[189]
тоже
сформулирована
модель
для
исследования
как
механических,
так
и
электростатических
полей,
связанных
с
фононами
в
гетерогенных
полупроводниковых
структурах.
В
частности,
Нэш
показал,
что
и так
называемые
моды
пластины,
удовлетворяющие
электростатическим
граничным
условиям,
и
волно
водные
моды,
удовлетворяющие
механическим
граничным
условиям,
и
комбинированные
моды
пластины
Хуан
Куня-Жу
[190]
предсказы
вают
одинаковые
скорости
рассеяния
при
условии,
что
каждая
группа
мод
является
ортогональной
и
полной.
Также
анализ,
проведенный
Нэшем,
позволил
разрешить
давние
разногласия
по
поводу
того,
каким
граничным
условиям
удовлетворяют
нормальные
моды:
механическим
или
электромагнитным;
в
частности,
Нэш
показал,
что
механические
граничные
условия
применяются
к
величине
w =
..;ри
(где
u -
отно
сительное
смещение
пар
ионов,
а
р
-
приведенная
к
единице
объема
масса,
введенные
в
приложении
А)
и
ее
производным,
а
электромагнит
ные
граничные
условия
применяются
к
величинам
Ф
и
D.
Более
того,
Нэш
показал,
что
для получения
нормальных
мод
этой
гетерострукту
ры
необходимы
оба
типа
граничных
условий.
Он
представил
плотность
лагранжиана
для
полярного
материала
в
форме
[188]
lawaw
12
r:..,
=
"2
дt
.
дt
-
"2
UJTO
w . w +
+
е(оо)'V'Ф·
'V'Ф
-,w.
'V'Ф
+ !
~
Zijkl
aWk
aWI,
(В.l)
~
2~
&.&.
ijkl
J t
где
_
[e(OO)(UJIO
-
UJ?o)]
1/2
_
{е(оо)
_
е(О)]
1/2
_
,-
-
-то
>
4~ 4~
е(оо)
{ [1 1
]}1/2
=
~
UJLQ
4~
е(оо)
-
е(О)
,
(В.2)
а
смещение
описывается
величиной
w =
..;р
u
в
силу
тех
же
причин,
что
и
в
приложении
А.
Как
станет
очевидно
ниже,
удобно
ввести
обозначения
1
4~
{[
1 1
]}
1/2
73
=
е(оо)
, =
UJLQ
4~
е(оо)
-
е(О)
(В.З)
в
выражении
для
плотности
лагранжиана
(В.l)
первый
член
описывает
кинетическую
энергию,
второй
-
потенциальную
энер
гию
короткодействующих
сил решетки,
третий
член
-
потенциаль
ную
энергию
макроскопического
электрического
поля
в
отсутствие
9*
260
Приложения
движения
ионов,
четвертый
-
потенциальную
энергию
взаимодействия
решетки
с
макроскопическим
электрическим
полем,
а
пятый
член
представляет
собой
квадратичную
дисперсию,
связанную
с
короткодей
ствующими
силами,
действующими
между
ионами,
причем
в
случае
изотропной
дисперсии
тензор
Zijkl
=
AJijJkl
+
BJikJjl
+
CJilJjk.
Уравнения
Эйлера-Лагранжа,
выведенные
Нэшем
путем
вариации
величин
w
и
Ф
и
описывающие
моды
оптических
фононов
в
пластинах
(с
границами
z =
О
и
z = d),
имеют
вид
a
2
w
at
2
+
UJfoW
+
'У\7Ф
+ A\7
2
w +
(В
+
С)\7(\7
.w) =
о,
(В.4)
\7 .
[s(оо)\7Ф
-
41Т'У!(Z)W]
=
о.
(В.5)
В
этих
уравнениях
'у
дается
выражением
(В.2)
и
J(z) =
8(z)-
-8(d
- z),
а
8
является
ступенчатой
функцией
Хевисайда.
Согласно
Нэшу,
W
записывается
как
градиент
механического
потенциала
х:
W = -
\7Х.
Последнее
уравнение
представляет
собой
уравнение
Пуассона:
или
1
-
-\7
.
[s(оо)\7Ф]
=
s(oo)
41Т'У
[2-
ах
I
дх
I ]
= - \7
Х
- - J(z - d +
17)
+ - J(z -
17)
,
s(oo)
az
z=d
az
z=o
(В.7)
где
последние
два
члена
в
правой
части
уравнения
(В.7)
вызваны
поверхностным
поляризационным
зарядом
ввиду
разрывности
в-ком
поненты
величины
W.
При
выводе
этих
соотношений
величина
W
записывалась
в
нормированном
виде,
как
описано
выше.
Таким
обра
зом,
эти
моды
нормированы
(в
соответствии
с
процедурой
§ 1
гл.
5)
и
выражены
через
величины
W
т
(qll' z),
а
не
через
величины
и
m
(qll' z),
поскольку
первые
использовать
удобнее,
как
это
следует
из
анализа,
проведенного
в
приложении
А:
(В.8)
Здесь
нижний
индекс
т
показывает,
что
это
соотношение
относится
к
m-й
среде.
Полученный
результат,
конечно,
соответствует
условию
нормировки
(7.44)
из
п.
3.1
гл.
7:
f
L
2
[
JIИi
um(q,
z)]*·
[JIИi
um(q,
z)]
dz =
2UJ~(q)
.
(В.9)