Рентгеноструктурный анализ и рентгенография

М.: Наука. Гл. ред. физ.-мат. лит., 1986.— (Проблемы науки и технического прогресса).—96 с. Изложены основные идеи физики дифракции рентгеновских лучей, направленные на создание методов анализа кристаллической структуры тончайших приповерхностных слоев и границ раздела кристаллов высокой степени совершенства, в первую очередь полупроводниковых кристаллов, являющихся основой современной микроэлектроники.

М.: Государственное издательство технико-теоретической литературы , 1957. — 518 с. В предлагаемой книге изложены общие основы физики рентгеновских лучей, необходимые для дальнейшего изучения специальных вопросов применения рентгеновских лучей в науке и технике: рентгеноструктурного анализа, рентгеноспектрального анализа, технического просвечивания и др. Кроме того, более подробно изложены работы по тонкой структуре рентгеновских спектров, так как...

Москва: Издательство Московского университета, 1951. - 430 с. Предназначается в качестве учебного пособия для высших учебных заведений Теория структуры кристаллов Е. С. Федорова Рентгеновские лучи и кристаллы Сканированная копия, разрешение скана - 300dpi, цветность - черно-белая

М: Изд-во АН СССР, 1956, 342с Наряду с классическим методом анализа атомной структуры кристаллов — рентгенографией — все большее значение приобретают в настоящее время другие диффракционные методы: электронография и нейтронография. При помощи электронографического метода могут решаться как некоторые общие вопросы структурного анализа, доступные двум другим методам, так и специальные задачи, рентгенографическое (или нейтроиографическое) изучение к...

М.: «Металлургия», 1977. — 240 с. Рассмотрена методика локального микроанализа элементного состава тонких объектов (пленок) и идентификации микрофаз вещества по характеристическим рентгеновским спектрам. Этот метод позволяет проводить комплексное изучение электронномикроскопических объектов и в настоящее время выделился в самостоятельное направление — электронно-зондовый микроанализ тонких пленок. Область применения метода весьма широка и разнооб...

Перевод с французского Е. Н. Беловой, С. С. Квитки, В. П. Тарасовой под редакцией академика Н. В. Белова` М. Наука 1961г. 604 с. Рентгеноструктурный анализ занимается изучением строения тел из атомов и молекул. Он основан на том, что рентгеновские лучи рассеиваются электронами, окружающими атомы, которые в кристаллическом теле образуют естественную дифракционную решетку для рентгеновского излучения. В настоящей книге, написанной выдающимся францу...

М.: Изд-во «Металлургия», 2-е изд., 1970. — 366 с. Книга является учебным пособием по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии. В ней рассмотрена экспериментальная и расчетная методика решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии. В описании каждой работы имеются необходимые теоретические пояснения и изложен порядок выполнения задач. В приложении дан необходимый справочный...

Учеб. пособие для вузов. — 3-е изд. доп. и перераб. — М.: МИСИС-, 1994. —328 с. В третьем издании (второе вышло в 1970 г. ) учебного пособия описаны экспериментальные и расчетные методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения, качественному и количественному фазовому анализу, текстурному анализу и спектроскопии, анализу пленочных материалов с учетом нов...

Учеб. метод. пособие. — Н. Новгород: Изд-во ННГУ, 2007. — 59 с. Рассмотрены методы исследования элементного состава и структуры твердых тел, основанные на резерфордовском обратном рассеянии быстрых заряженных частиц и анализе ионно-индуцированного характеристического рентгеновского излучения. Кратко изложены физические явления, лежащие в основе указанных методов исследования, наиболее часто применяемых при разработке новых материалов электроники;...

Киев : Наукова думка, 1988 —200 с. —ISBN 5-12-009296-9 Ил. 44, Табл. 1, Библиогр.: с. 185—196 (208 назв.). В монографии изложены основы теории и результаты экспериментального исследования динамического рассеяния рентгеновских лучей в монокристаллах, содержащих однородно распределенные дефекты, и обсуждены возможности использования этих результатов для создания новых высокоинформативных количественных методов определения характеристик дефектов и с...

Москва. МИСИС. 2008. 99 стр. Конспект лекций по спецкурсу Физика металлов. Рентгеновская техника Анализ субструктуры по ширине, профилю и интенсивности рентгеновских линий Некоторые применения дифракционных методов исследования

Л.: Энергоатомиздат. Ленингр. отд-ние, 1989. — 200 с: ил. Рассмотрены особенности конструкции, параметры и характеристики, методы расчета основных параметров рентгеновских трубок для просвечивания материалов, рентгсноспектрального, рептгеноструктурного анализа, технологических целей. На основе анализа особенностей применения трубок в различных областях науки и техники изложены основные требования к трубкам и пути к выполнению этих требований. Для...

Статья из журнала "Квант" №2, 1978 О рентгеноструктурном анализе атомной структуры кристаллов. В этой статье речь пойдет об атомной структуре кристаллов, под которой понимается узор, создаваемый центрами атомов. Задача этой статьи заключается в том, чтобы познакомить читателя с основными идеями рентгеноструктурного анализа и дать представление о дороге, следуя которой, можно определить структуру кристалла: измерить расстояния между атомами, дать...

1950. - 651 с. В книге излагаются проблемы современного рентгеноструктурного анализа: кристаллографические основы структурного анализа, получение рентгеновских лучей и взаимодействие их с веществом. Книга рассчитана на научных работников, инженеров, аспирантов и студентов-физиков и химиков старших курсов.

Книга является продолжением книги А. И. Китайгородского "Рентгеноструктурный анализ" (Гостехиздат, 1950) и посвящена применениям рентгеноструктурного анализа и исследованию аморфных и мелкокристаллических веществ. Книга рассчитана на широкий круг научных работников, работающих с разнообразными мелкокристаллическими и аморфными веществами, неправильными кристаллами, а также сложноструктурными веществами - каучуком, белками, целлулозой, жирными кис...

Учебное пособие / Томск : Изд-воТом. гос. архит.-строит. ун-та, 2012. – 276 с. + 8 л. цв. вкл. ISBN 978-5-93057-457-9 Кинематическая теория рассеяния рентгеновского излучения Введение в геометрическую кристаллографию Индицирование порошковых рентгенограмм Прецизионное определение параметров элементарной ячейки Качественный и количественный фазовый анализ Полнопрофильный анализ рентгенограмм Упражнения по полнопрофильному анализу методом Ритвел...

Учебно-методическое пособие. Нижний Новгород. ГОУ ВПО "Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского". 2005. 23 стр. Учебно-методическое пособие содержит описание методов обработки и графического индицирования дифрактограмм кристаллов, принадлежащих к кубической сингонии. В процессе выполнения работы студенты обучаются проводить идентификацию индивидуальных веществ по их рентгенографическим характеристикам, рассчитывать число ф...

18 с. — Обзор подготовлен по материалам из отечественных и зарубежных журналов, а также на основе информации, полученной через Internet. Рассмотрен подход ведущих фирм при практической реализации цифровой маммографии и цифровой рентгенографии. Приведен перевод на русский язык статьи «Integrated digital radiography with a flat electronic detector», U. J.Neitzel («Medica Mundi», v.41, no 2, 1997)

Учебное пособие. Санкт-Петербургский университет, 2016. - 67 с. В пособии кратко даны основы и методические рекомендации по освоению метода Ритвельда и применения некоторых программ для уточнения кристаллической структуры минералов и химических соединений.

Санкт-Петербург, Санкт-Петербургский государственный университет, 2007, 112 с. В книге представлены основные принципы расшифровки и уточнения структур в программном комплексе SHELX. Данная книга является единственным издание на русском языке о программе SHELX.

Киев : Наук. думка, 1983.— 408 с. В монографии изложена современная кинематическая теория рассеяния рентгеновских лучей и нейтронов в кристаллах, содержащих различного типа несовершенства: примесные атомы и другие точечные дефекты, группы дефектов, частицы новой фазы, дислокации и т.д. Проведен общий анализ дифракционных эффектов в неидеальных кристаллах. Рассмотрено влияние дефектов на положение, интенсивность и ширину брэгговских отражений и н...

Учебное пособие. - Москва, МИТХТ им. М.В.Ломоносова, 2005. - 90 с. Данное учебное пособие является дополнением к существующим учебникам по рентгенографическим методам исследования и отражает читаемый курс лекций для студентов 3 курса по дисциплине "Методы исследования фазового состава и структуры" (бакалавриат 071000 «Материаловедение и технология новых материалов») и курсам лекций для студентов очной формы обучения 5 курса по дисциплинам "Метод...

Учебное пособие. - Москва, МИТХТ им. М.В.Ломоносова, 2006. - 88 с. Данное учебное пособие является дополнением к существующим учебникам по рентгенографическим методам исследования и отражает читаемый курс лекций для студентов 3 курса по дисциплине "Методы исследования фазового состава и структуры" (бакалавриат 071000 «Материаловедение и технология новых материалов») и курсам лекций для студентов очной формы обучения 5 курса по дисциплинам "Метод...

НТУ ХПИ, Харьков, Украина, Малыхин С. В., 50 стр. Метод порошка (или поликристаллический метод) – метод рентгеноструктурного анализа поликристаллических образцов, образец неподвижный (иногда образец вращают), излучение монохроматическое. Схемы съемок и обработка полученных результатов

- Учеб. пособие - Гродно: ГрГУ, 2003. В пособии рассмотрены элементы теории рентгеновских лучей, даны характеристики рентгеновских аппаратов, используемых для структурного анализа. Описаны особенности рентгеновских дифрактометров, методика юстировки гониометров, принципы анализа порошковых и монокристальных объектов. Рассмотрены алгоритмы рентгеновского фазового анализа. Приведены примеры использования рентгеновских дифрактометров для решения нек...

Монография Новосибирск: "Наука", 1989. - 243 с. В монографии собран и обобщён материал по повышению точности получения и обработки экспериментальных данных в дифрактометрии поликристаллов. Рассмотрены типы современных дифрактометров и их основные характеристики, математическая теория аберраций, методы юстировки гониометров для получения оптимального разрешения и светосилы. Обсуждаются приёмы обработки данных эксперимента, безэталонные методы изме...

Петрозаводск: НОЦ"Плазма", 2003. – 22 с. Проанализированы возможности рентгеноструктурного анализа в исследовании атомной структуры углеродных материалов. Показано, что методы рентгенографического анализа и компьютерного моделирования позволяют извлекать достаточно большую информацию о структурном состоянии вещества. Кроме того, могут позволить контролировать чистоту протекания этапов технологического процесса синтеза углеродных материалов.

Казань: КазГУ, 2009. - 16 с. Учебно-методическое пособие предназначено для студентов четвертого курса, приступивших к изучению спецкурса «Физика поверхности и тонких пленок». Рассмотрены вопросы послойного исследования объектов с помощью рентгеноструктурного анализа. Кратко даны общие принципы реализации метода скользящих рентгеновских лучей, приведено описание установки и порядок выполнения работы на приборе. Предложено выполнить некоторые пра...

М.: Наука. Главная редакция физико-математической литературы, 1982 — 392 с. Книга посвящена изложению динамического рассеяния рентгеновских лучей в идеальных кристаллах и кристаллах с постоянным градиентом деформации. Она является 2-м, переработанным и дополненным изданием книги «Динамическое рассеяние рентгеновских лучей в идеальных кристаллах» (М.: Наука, 1974). С возможной полнотой изложена теория рассеяния в прозрачных и поглощающих кристалла...

РГМУ, Москва, кафедра биофизики, Владимиров Ю.А., 2003 г., 19 слайдов. Рассеяние рентгеновской волны одним электроном Рассеяние рентгеновских лучей двумя электронами Картина рассеяния рентгеновского излучения в обратном пространстве Свойства вектора рассеяния Shkl от плоскости hkl Условия Лауэ Структурный фактор Векторная диаграмма колебательного движения Характеристики электромагнитной волны Параметры одной и двух волн Структурный фактор элект...

Рентгеноструктурный анализ это метод исследования строения тел, использующий явление дифракции рентгеновских лучей, метод исследования структуры вещества по распределению в пространстве и интенсивностям рассеянного на анализируемом объекте рентгеновского излучения. Дифракционная картина зависит от длины волны используемых рентгеновских лучей и строения объекта. Для исследования атомной структуры применяют излучение с длиной волны ?1?, т. е. поряд...

М.: Наука. Гл. ред. физ. -мат. лит. , 1986. — 280 с. Рассмотрено применение метода малоуглового рассеяния рентгеновского излучения и тепловых нейтронов к анализу структуры вещества на надатомном уровне. Изложены основы теории упругого рассеяния коротких волн неупорядоченными системами. Разобраны теоретические н экспериментальные методы нахождения структуры высокоднсперсных объектов в твердой фазе и в растворах по интенсивности малоуглового рассея...

М.: Наука. Гл. ред. физ. -мат. лит. , 1986. — 280 с. Рассмотрено применение метода малоуглового рассеяния рентгеновского излучения и тепловых нейтронов к анализу структуры вещества на надатомном уровне. Изложены основы теории упругого рассеяния коротких волн неупорядоченными системами. Разобраны теоретические н экспериментальные методы нахождения структуры высокоднсперсных объектов в твердой фазе и в растворах по интенсивности малоуглового рассея...

Электронное учебно-методическое пособие. – Нижний Новгород, ННГУ, 2012. – 89 с. В учебно-методическом пособии рассматриваются процессы взаимодействия рентгеновского излучения с веществом. Представлены теоретические основы кинематической теории дифракции рентгеновских лучей в кристаллах. Приведено описание рентгеновской схемы съемки Брэгга-Брентано. Приведены подробные инструкции работы на приборе. Рассмотрены теоретические основы методов количест...

Новосибирск: Институт катализа СО РАН, 2009. – 35 с. («Наноструктурный анализ веществ и материалов») Краткий обзор основ теории и практики метода малоуглового рентгеновского рассеяния (МУРР) позволяет получить навыки проведения научных анализов с использованием экспериментальных данных МУРР от реальных образцов наносистем и современных материалов с целью определения значений их структурных и дисперсных характеристик. Приведен обзор типов малоугло...

В основе описания структуры и свойств металлов и сплавов лежат представления об их кристаллическом строении. Это вызвало необходимость привести в первой части пособия основные уравнения и понятия геометрической кристаллографии: симметрии, прямой и обратной решёток, кристаллографических проекций. Здесь выделены только те узловые вопросы, использование которых необходимо для расчета картин электронной дифракции, анализа деталей структуры на электро...

Физико-математическая библиотека инженера. - М.: Физматгиз, 1963. -380 с. Книга рассчитана на инженеров и научных работников рентгеновских лабораторий, она может быть полезна студентам старших курсов, аспирантам, специализирующимся по структурному анализу, металлофизике, методам исследования различных материалов.

Учебно-методическое пособие. — Казань: КФ(П)У, 2010. — 76 с. В IV части пособия представлен справочный материал, необходимый при выполнении лабораторных работ в рамках спецкурса «Кристаллография и рентгеноструктурный анализ». Справочник краткий, так как необходимые понятия обсуждаются в соответствующих описаниях лабораторных работ. Термины, обозначения величин и используемые сокращения изложены в Части 5 (Краткий терминологический словарь) учебно...

Казань. 2009.- 72 с. Учебно-методическое пособие для студентов физического факультета. Методическое пособие предназначено для студентов физического факультета при изучении курса кристаллографии и рентгеноструктурного анализа. Может быть рекомендовано для студентов физического, геологического и химического факультетов, специализирующихся в области физики конденсированных сред, минералогии и химии твердого тела.

Учебно-методические материалы по программе повышения квалификации. «Физико- химические основы нанотехнологий». Нижний Новгород, 2007, 194 с. Предлагаемые учебно-методические материалы предназначены для научных сотрудников, аспирантов и студентов физических специальностей, которые изучают рентгеновские методы исследования атомной структуры вещества и осваивают возможности их применения в научных исследованиях. Данное пособие состоит из восьми гла...

Екатеринбург. ГОУ?ВПО УГТУ?УПИ. 2005. 23 стр. Свойства конкретного поликристаллического материала или порошка из кристаллических зерен существенно зависят от размера кристалликов и от напряжений, возникающих в них. Обе характеристики материала зависят от условий получения материала и тех воздействий, которым данный материал подвергался. Роль таких воздействий могут играть, например, температура и механические воздействия. Оценить размер кристалл...

1996. – 419 р. This volume collects the proceedings of the 23rd International Course of Crystallography, entitled "X-rqy and Neutron Dynamical Diffraction, Theory and Applications. " which took place in the fascinating setting of Erice in Sicily, Italy It was run as a NATO Advanced Studies Institute with A. Authier (France) and S. Lagomarsino (Italy) as codirectors, and L. Riva di Sansevcrino and P. Spadon (ftaly) as local organizers, R. Colella...

2002. – 399 р. This workshop on Local Structure from Diffraction was organized to bring together leading researchers studying local structure using diffraction techniques. Surprisingly, there are few opportunities for the powder and single crystal diffuse scattering communities to come together in one place and discuss their common goals of local structure determination. This intimate and intensive workshop was held at the historic and picturesqu...

Cambridge University Press, Cambridge, UK - 1997 - 414 p. This is a textbook for the senior undergraduate or graduate student beginning a serious study of X-ray crystallography. It will be of interest both to those intending to become professional crystallographers and to those physicists, chemists, biologists, geologists, metallurgists and others who will use it as a tool in their research. All major aspects of crystallography are covered - the...

Dover Publications, Inc., 1967. - 280 p. The Nature of Crystals The Symmetry of Crystals Theory of X-Ray Diffraction in Ideal Crystals X-Ray Interference in Real Crystals Dyadics Elements of Group Theory