Кривовичев С.В. Практические вопросы рентгеноструктурного анализа. 2. Расшифровка и уточнение кристаллических структур в комплексе SHELX

формат pdf
размер 7.49 МБ
добавлен 29 января 2012 г.

Санкт-Петербург, Санкт-Петербургский государственный университет, 2007, 112 с.
В книге представлены основные принципы расшифровки и уточнения структур в программном комплексе SHELX. Данная книга является единственным издание на русском языке о программе SHELX.

Похожие разделы

Смотрите также

Бацанов С.С. Структурная рефрактометрия

формат djvu
размер 5.79 МБ
добавлен 11 января 2011 г.

Учеб. пособие для вузов. Изд. 2-е, перераб. и доп. М., «Высш. школа», 1976. 304 с. с ил. В книге излагаются рефрактометрические методы изучения реальной, атомной и электронной структуры кристаллических веществ. Рассмотрена зависимость оптических свойств кристаллов от симметрии решетки и расположения структурных единиц в кристаллическом пространстве; показаны возможности определения геометрической изомерии, координации и длин связей атомов, опи...

Горелик С.С. Рентгенографический и электроннооптический анализ, 2-е издание

формат pdf
размер 38.97 МБ
добавлен 19 октября 2009 г.

Книга является учебным пособием по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии. В ней рассмотрена экспериментальная и расчетная методика решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электрон- ной микроскопии. В описании каждой работы имеются необходимые теоретические пояс- нения и изложен порядок выполнения задач. В приложении дан необходимый справочный материал. Книга предназначена для студентов м...

Китайгородский А.И. Как измеряются расстояния между атомами в кристаллах

Статья

формат rtf
размер 105.1 КБ
добавлен 31 января 2011 г.

Статья из журнала "Квант" №2, 1978 О рентгеноструктурном анализе атомной структуры кристаллов. В этой статье речь пойдет об атомной структуре кристаллов, под которой понимается узор, создаваемый центрами атомов. Задача этой статьи заключается в том, чтобы познакомить читателя с основными идеями рентгеноструктурного анализа и дать представление о дороге, следуя которой, можно определить структуру кристалла: измерить расстояния между атомами, дать...

Китайгородский А.И. Рентгеноструктурный анализ

формат djvu
размер 19.16 МБ
добавлен 19 января 2010 г.

1950. - 651 с. В книге излагаются проблемы современного рентгеноструктурного анализа: кристаллографические основы структурного анализа, получение рентгеновских лучей и взаимодействие их с веществом. Книга рассчитана на научных работников, инженеров, аспирантов и студентов-физиков и химиков старших курсов.

Китайгородский А.И. Рентгеноструктурный анализ мелкокристаллических и аморфных тел

формат djvu
размер 11.98 МБ
добавлен 19 января 2010 г.

Книга является продолжением книги А. И. Китайгородского "Рентгеноструктурный анализ" (Гостехиздат, 1950) и посвящена применениям рентгеноструктурного анализа и исследованию аморфных и мелкокристаллических веществ. Книга рассчитана на широкий круг научных работников, работающих с разнообразными мелкокристаллическими и аморфными веществами, неправильными кристаллами, а также сложноструктурными веществами - каучуком, белками, целлулозой, жирными кис...

Ласица А.М. и др. Электростатика, постоянный ток и магнетизм

Практикум

формат doc
размер 317.16 КБ
добавлен 26 августа 2011 г.

Методические указания к лабораторным работам по физике. Омск: Изд-во ОмГТУ, 2009. - 60 с. Методические указания включают в себя описания лабораторных работ по физике к разделам «Электростатика», «Постоянный ток» и «Магнетизм». Работы выполняются на модульном учебном комплексе МУК–ЭМ 1. Предназначены для студентов дневной, вечерней и заочной форм обучения.rn

Никитина Е.А. Рентгенографическое исследование и компьютерное моделирование углеродных материалов

формат pdf
размер 479.47 КБ
добавлен 09 сентября 2010 г.

Петрозаводск: НОЦ"Плазма", 2003. – 22 с. Проанализированы возможности рентгеноструктурного анализа в исследовании атомной структуры углеродных материалов. Показано, что методы рентгенографического анализа и компьютерного моделирования позволяют извлекать достаточно большую информацию о структурном состоянии вещества. Кроме того, могут позволить контролировать чистоту протекания этапов технологического процесса синтеза углеродных материалов.

Петухов В.Ю., Гумаров Г.Г. Исследование поверхностных слоев твердых тел методом скользящего рентгеновского пучка

формат pdf
размер 288.54 КБ
добавлен 21 ноября 2011 г.

Казань: КазГУ, 2009. - 16 с. Учебно-методическое пособие предназначено для студентов четвертого курса, приступивших к изучению спецкурса «Физика поверхности и тонких пленок». Рассмотрены вопросы послойного исследования объектов с помощью рентгеноструктурного анализа. Кратко даны общие принципы реализации метода скользящих рентгеновских лучей, приведено описание установки и порядок выполнения работы на приборе. Предложено выполнить некоторые пра...

Русаков. Рентгенография металлов

формат djvu
размер 7.14 МБ
добавлен 03 ноября 2009 г.

Физика рентгеновских лучей. Рентгенотехника. Структурная кристаллография. Интерференция рентгеновских лучей, рассеянных кристаллами. Методы рентгеноструктурного анализа. Использование рентгеновских лучей в исследовании металлов и сплавов.

Штольц А.К., Медведев А.И., Курбатов Л.В. Рентгеновский анализ микронапряжений и размера областей когерентного рассеяния в поликристаллических материалах

формат pdf
размер 298.88 КБ
добавлен 14 декабря 2011 г.

Екатеринбург. ГОУ?ВПО УГТУ?УПИ. 2005. 23 стр. Свойства конкретного поликристаллического материала или порошка из кристаллических зерен существенно зависят от размера кристалликов и от напряжений, возникающих в них. Обе характеристики материала зависят от условий получения материала и тех воздействий, которым данный материал подвергался. Роль таких воздействий могут играть, например, температура и механические воздействия. Оценить размер кристалл...