Петухов В.Ю., Гумаров Г.Г. Исследование поверхностных слоев твердых тел методом скользящего рентгеновского пучка

формат pdf
размер 288.54 КБ
добавлен 21 ноября 2011 г.

Казань: КазГУ, 2009. - 16 с.
Учебно-методическое пособие предназначено для студентов четвертого курса, приступивших к изучению спецкурса «Физика поверхности и тонких пленок». Рассмотрены вопросы послойного исследования объектов с помощью рентгеноструктурного анализа. Кратко даны общие принципы реализации метода скользящих рентгеновских лучей, приведено описание установки и порядок выполнения работы на приборе. Предложено выполнить некоторые практические задания на рентгеновском дифрактометре по методу скользящего рентгеновского пучка. При выполнении работы учитывается, что студенты уже знакомы с основами рентгеноструктурного анализа из прослушанных курсов и соответствующих выполненных лабораторных работ.

Похожие разделы

Смотрите также

Вагизов Ф.Г. Садыков Э.К. Процессы бесфононного излучения и поглощения гамма фотонов ядрами в твердых телах (теория и практика мессбауэровской спектроскопии)

формат pdf
размер 461.46 КБ
добавлен 21 ноября 2011 г.

Казань: КазФУ, 2011. - 30 с. В классическом и квантово-механическом изложении дано определение фактора Лэмба —Мёссбауэра — параметра, выражающего суть эффекта Мёссбауэра и являющегося характеристикой вещества, исследуемого методом ядерного гамма резонанса. Описаны методики экспериментального определения этого параметра. Представлены схема лабораторной установки и алгоритм действий по определению фактора Лэмба — Мёссбауэра для нержавеющей стали м...

Гоулдстейн Дж., Яковица Х. Практическая растровая электронная микроскопия

формат pdf
размер 36.5 МБ
добавлен 20 мая 2010 г.

М: Мир, 1978, 656 с. В книге подробно изложены различные аспекты растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Рассмотрены электронная оптика приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, формирование изображения и контраст, проблема разрешения, рентгеновские спектры и количественный микроанализ, методы приготовления образцов, а также ряд более специальных вопросов. Книга представляет интерес для материаловедов, химиков...

Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 2

формат djv
размер 9.16 МБ
добавлен 13 июля 2010 г.

349 с. 1984 г. Во второй книге монографии изложена методика проведения количественного рентгеновского микроанализа с многочисленными примерами и практическими рекомендациями, а также техника подготовки различных объектов для последующего их исследования в РЭМ и РМА. Рассмотрены вопросы нанесения специальных покрытий, особенности исследования биологических (влагосодержащих) образцов и т. д. Книга представляет интерес для физиков, химиков, материал...

Данилькевич М.И. Методические указания к лабораторным работам по разделу Физика магнетиков и диэлектриков

Практикум

формат pdf
размер 1.5 МБ
добавлен 07 июня 2011 г.

Учеб. пособие. Мн.: БГУ, 1988, – 31с. Содержание: Изучение топографии магнитных полей миниатюрными датчиками Холла Измерение магнитной восприимчивости слабомагнитных веществ в неоднородном магнитном поле Определение магнитных характеристик в переменных магнитных полях методом амперметра-вольтметра и осциллографическим методом Частотная зависимость магнитной проницаемости трансформаторной стали и феррита Определение точки Кюри ферримагнетика из те...

Желтов К.А. Пикосекундные сильноточные электронные ускорители

формат djvu
размер 1.46 МБ
добавлен 03 октября 2010 г.

М.: Энергоатомиздат, 1991. - 120 с. Рассмотрены пикосекундные сильноточные электронные ускорители с взрывоэмиссионными вакуумными диодами. Максимальная энергия излучения до 1 МэВ при длительности на половине амплитудного значения 70—200 пс. Ток пучка электронов до 104 А. Описаны измерения пикосекундных всплесков с помощью широкополосных (3—5 ГГц) делителей и аттенюаторов. Изложены принципы построения и теория трансформаторных источников питания...

Зимкина Т.М. Фомичев В.А. Ультрамягкая рентгеновская спектроскопия

формат djvu
размер 2.13 МБ
добавлен 08 января 2012 г.

Ленинград, ЛГУ, 1971. ? 132 c. Книга является первым обзором работ по ультрамягкой рентгеновской спектроскопии, выполненных в нашей стране. В ней изложены основные результаты исследований, посвященных разработке современной методики и техники эксперимента в области длинноволнового рентгеновского излучения, приводятся результаты применения разработанного метода исследования к изучению электронной структуры твердых тел и газообразных молекулярных...

Машкова Е.С. Молчанов В.А. Применение рассеяния ионов для анализа твердых тел

формат djvu
размер 5.06 МБ
добавлен 24 марта 2011 г.

Энергоатомиздат, 1995. 176 с. Табл. .2, Ил. .80, Библиогр. : 133 назв. Впервые систематизированы исследования, относящиеся к применению ионно-рассеивательной спектроскопии и спектроскопии атомов отдачи для анализа объемных и поверхностных свойств твердых тел. Рассматриваются физические основы этих методов. Приведена типичная аппаратура, результаты исследования состава, атомной структуры, морфологии и динамических свойств твердых тел. Издание подг...

Петухов В.Ю., Хабибулина Н.Р. Исследование тонких пленок методом ЭПР

формат pdf
размер 904.09 КБ
добавлен 22 апреля 2011 г.

Казань, 2009. - 31 с. Методическое пособие предназначено для студентов четвертого курса, приступивших к изучению спецкурса «Физика поверхности и тонких пленок». В первой части пособия кратко изложены основы метода ЭПР, приведены основные характеристики спектров: g-фактор, интенсивность, ширина и форма линий. Более подробно рассмотрены вопросы возникновения сверхтонкой и тонкой структуры спектров ЭПР. Во второй части пособия описана техника получе...

Углов В.В., Черенда Н.Н., Анищик В.М. Методы анализа элементного состава поверхностных слоев

формат pdf
размер 8.67 МБ
добавлен 03 июня 2011 г.

Учеб. пособие. -Мн.: БГУ, 2007. -158с. Изложены основные представления о современных методах анализа элементного состава поверхностных слоев материалов. Для каждого из методов рассматриваются физические процессы, лежащие в основе метода, основные их закономерности, зависимости получаемых данных от параметров анализирующего пучка, достоинства и недостатки метода, а также некоторые технологические вопросы. Учебное пособие предназначено для студенто...

Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок

формат djvu
размер 2.56 МБ
добавлен 14 августа 2010 г.

Пер. с англ. — М.: Мир, 1989. — 344 с, ил. Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры и состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на вы...