Углов В.В., Черенда Н.Н., Анищик В.М. Методы анализа элементного состава поверхностных слоев

формат pdf
размер 8.67 МБ
добавлен 03 июня 2011 г.

Учеб. пособие. -Мн.: БГУ, 2007. -158с.
Изложены основные представления о современных методах анализа элементного состава поверхностных слоев материалов. Для каждого из методов рассматриваются физические процессы, лежащие в основе метода, основные их закономерности, зависимости получаемых данных от параметров анализирующего пучка, достоинства и недостатки метода, а также некоторые технологические вопросы.
Учебное пособие предназначено для студентов старших курсов физических и физико-технических факультетов.

Похожие разделы

Смотрите также

Анищик В.М., Буренков А.Ф., Комаров Ф.Ф., Понарядов В.В., Шпелевич В.Г. Физические основы ионно-лучевой технологии. Инструкции к лабораторным работам

формат pdf
размер 1.84 МБ
добавлен 07 июня 2011 г.

Учеб. пособие. Мн.: БГУ, 1985, – 43с. Предисловие Потери энергии и пробег заряженных частиц в твердых телах Профили распределения примесей по глубине многокомпонетных материалов и двумерные профили при ионной имплантации через маску Смещения атомов при облучении Образование при имплантации

Анищик В.М., Углов В.В., Черенда Н.Н. Резерфордовское обратное рассеяние. Методические указания к лабораторным работам

Практикум

формат pdf
размер 1.6 МБ
добавлен 07 июня 2011 г.

Мн.: БГУ, 2004, – 48 с. Методические указания предназначены для студентов кафедры физики твердого тела и направлены на освоение метода резерфордовского обратного рассеяния и на развитие практических навыков определения из спектров обратного рассеяния состава гомогенных, гетерогенных и слоистых тонкопленочных систем, имеющих важное практическое значение в материаловедении и микроэлектронике. Пособие состоит из 5 лабораторных работ и рассчитано на...

Иванов С.А., Щукин Г.А. Рентгеновские трубки технического назначения

формат djvu
размер 2.24 МБ
добавлен 06 сентября 2010 г.

Л.: Энергоатомиздат. Ленингр. отд-ние, 1989. — 200 с: ил. Рассмотрены особенности конструкции, параметры и характеристики, методы расчета основных параметров рентгеновских трубок для просвечивания материалов, рентгсноспектрального, рептгеноструктурного анализа, технологических целей. На основе анализа особенностей применения трубок в различных областях науки и техники изложены основные требования к трубкам и пути к выполнению этих требований. Для...

Кузнецова Г.А. Качественный рентгенофазовый анализ. Методические указания

формат pdf
размер 541.91 КБ
добавлен 02 мая 2009 г.

Иркутск: 2005. - 28 с. Информацию об элементном составе различных объектов (горных пород, минералов, химических соединений, сплавов и т. д. ) можно получить с помощью разнообразных аналитических методов, чаще всего предполагающих разрушение вещества. Число химических элементов, из которых построены материальные тела, ограничено, и варианты состава ограничены их количеством лишь не намного превышающим 100. В то же время сложные вещества, образующи...

Кульментьев А.И., Кульментьева О.П. Методы анализа поверхности твердых тел

формат pdf
размер 2.06 МБ
добавлен 05 августа 2011 г.

Сумы: СумГУ, 2008. - 158 с Пособие содержит материалы лекций по дисциплине "Приборы и методы анализа твердых тел". Изложены фундаметальные вопросы об атомной структуре, особенностях электронной подсистемы и композиционном составе поверъхностей твердых тел. Описаны физическая и химическая адсорбция. Показана взаимосвязь между электронными, атомными и молекулярными процессами, происходящими на поверхности твердого тела и в адсорбционной фазе. Прив...

Машкова Е.С. Молчанов В.А. Применение рассеяния ионов для анализа твердых тел

формат djvu
размер 5.06 МБ
добавлен 24 марта 2011 г.

Энергоатомиздат, 1995. 176 с. Табл. .2, Ил. .80, Библиогр. : 133 назв. Впервые систематизированы исследования, относящиеся к применению ионно-рассеивательной спектроскопии и спектроскопии атомов отдачи для анализа объемных и поверхностных свойств твердых тел. Рассматриваются физические основы этих методов. Приведена типичная аппаратура, результаты исследования состава, атомной структуры, морфологии и динамических свойств твердых тел. Издание подг...

Никитина Е.А. Рентгенографическое исследование и компьютерное моделирование углеродных материалов

формат pdf
размер 479.47 КБ
добавлен 09 сентября 2010 г.

Петрозаводск: НОЦ"Плазма", 2003. – 22 с. Проанализированы возможности рентгеноструктурного анализа в исследовании атомной структуры углеродных материалов. Показано, что методы рентгенографического анализа и компьютерного моделирования позволяют извлекать достаточно большую информацию о структурном состоянии вещества. Кроме того, могут позволить контролировать чистоту протекания этапов технологического процесса синтеза углеродных материалов.

Петухов В.Ю., Гумаров Г.Г. Исследование поверхностных слоев твердых тел методом скользящего рентгеновского пучка

формат pdf
размер 288.54 КБ
добавлен 21 ноября 2011 г.

Казань: КазГУ, 2009. - 16 с. Учебно-методическое пособие предназначено для студентов четвертого курса, приступивших к изучению спецкурса «Физика поверхности и тонких пленок». Рассмотрены вопросы послойного исследования объектов с помощью рентгеноструктурного анализа. Кратко даны общие принципы реализации метода скользящих рентгеновских лучей, приведено описание установки и порядок выполнения работы на приборе. Предложено выполнить некоторые пра...

Уманский Я.С., Скаков Ю.А. и др. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия

формат djvu
размер 8.56 МБ
добавлен 20 октября 2009 г.

М.: Металлургия, 1982, 632 с. Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и растровой электронной микроскопии. Описаны методы локального элементного анализа, основанн...

Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок

формат djvu
размер 2.56 МБ
добавлен 14 августа 2010 г.

Пер. с англ. — М.: Мир, 1989. — 344 с, ил. Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры и состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на вы...