Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок

формат djvu
размер 2.56 МБ
добавлен 14 августа 2010 г.

Пер. с англ. — М.: Мир, 1989. — 344 с, ил.
Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры и состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на высоком научном уровне.
Для специалистов, интересующихся проблемами анализа поверхности и тонких пленок, аспирантов и студентов.

Похожие разделы

Смотрите также

Буравихин В.А., Шелковников В.Н., Карабанова В.П. Практикум по магнетизму: Учебное пособие

Практикум

формат djvu
размер 3.9 МБ
добавлен 11 августа 2011 г.

М.: Высшая школа, 1979, 197 с., ил. Лабораторные работы, описанные в практикуме, охватывают основные методы измерения магнитных свойств массивных и пленочных ферромагнетиков. Работы сгруппированы по главам: "Магнитное поле и магнитные свойства вещества", "Намагничение и магнитный гистерезис", "Четные и нечетные эффекты ферромагнетиков", "Температура Кюри", "Магнитный резонанс" и т.д. Предназначается для студентов педагогических институтов. Магн...

Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности

формат djvu
размер 5.52 МБ
добавлен 12 июля 2010 г.

М., Мир, 1989. -564с. В книге излагаются физические основы более двадцати современных методов исследованния поверхности (дифракция медленных электронов, ионная и электронная спектроскопия и т. д. ).

Ивойлов Н.Г. Мессбауэровская спектроскопия. Конспект лекций

формат pdf
размер 764.62 КБ
добавлен 21 ноября 2011 г.

Казань: КазГУ, 2003. - 93 с. Изложены основы ядерной гамма-резонансной спектроскопии. Рассмотрен как традиционный метод поглощения, так и метод регистрации мессбауэровских спектров по рассеянному излучению, эффективно используемый для изучения тонких пленок и поверхностей твердых тел. Представлен конспект лекций по курсу «Техника ЯГР-спектроскопии», читаемых автором в течение ряда лет на физическом факультете КГУ.

Кульментьев А.И., Кульментьева О.П. Методы анализа поверхности твердых тел

формат pdf
размер 2.06 МБ
добавлен 05 августа 2011 г.

Сумы: СумГУ, 2008. - 158 с Пособие содержит материалы лекций по дисциплине "Приборы и методы анализа твердых тел". Изложены фундаметальные вопросы об атомной структуре, особенностях электронной подсистемы и композиционном составе поверъхностей твердых тел. Описаны физическая и химическая адсорбция. Показана взаимосвязь между электронными, атомными и молекулярными процессами, происходящими на поверхности твердого тела и в адсорбционной фазе. Прив...

Майер В.В., Майер Р.В. Измерение скорости звука импульсным методом

формат djvu
размер 472.63 КБ
добавлен 29 июля 2010 г.

Глазов: 1991. Учебное руководство к лабораторной работе по измерению скорости звука в твёрдых телах и газах. Даны схемы приборов для измерения скорости звука импульсным методом.

Машкова Е.С. Молчанов В.А. Применение рассеяния ионов для анализа твердых тел

формат djvu
размер 5.06 МБ
добавлен 24 марта 2011 г.

Энергоатомиздат, 1995. 176 с. Табл. .2, Ил. .80, Библиогр. : 133 назв. Впервые систематизированы исследования, относящиеся к применению ионно-рассеивательной спектроскопии и спектроскопии атомов отдачи для анализа объемных и поверхностных свойств твердых тел. Рассматриваются физические основы этих методов. Приведена типичная аппаратура, результаты исследования состава, атомной структуры, морфологии и динамических свойств твердых тел. Издание подг...

Меньшиков Е.А. Анализ наноструктурированных полимерных пленок совмещенными методами атомно-силовой и интерференционной микроскопии

Дисертация

формат pdf
размер 1.1 МБ
добавлен 05 декабря 2011 г.

Автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук. - Москва, МГУ им. М.В. Ломоносова, 2009. - 26 с. Специальность 02.00.06 – высокомолекулярные соединения 01.04.01 – приборы и методы экспериментальной физики Основным актуальным аспектом работы является изучение структуры тонких пленок блок-сополимеров, поскольку их использование предоставляет широкие возможности для развития современных технологий. Большой...

Петухов В.Ю., Гумаров Г.Г. Исследование поверхностных слоев твердых тел методом скользящего рентгеновского пучка

формат pdf
размер 288.54 КБ
добавлен 21 ноября 2011 г.

Казань: КазГУ, 2009. - 16 с. Учебно-методическое пособие предназначено для студентов четвертого курса, приступивших к изучению спецкурса «Физика поверхности и тонких пленок». Рассмотрены вопросы послойного исследования объектов с помощью рентгеноструктурного анализа. Кратко даны общие принципы реализации метода скользящих рентгеновских лучей, приведено описание установки и порядок выполнения работы на приборе. Предложено выполнить некоторые пра...

Петухов В.Ю., Хабибулина Н.Р. Исследование тонких пленок методом ЭПР

формат pdf
размер 904.09 КБ
добавлен 22 апреля 2011 г.

Казань, 2009. - 31 с. Методическое пособие предназначено для студентов четвертого курса, приступивших к изучению спецкурса «Физика поверхности и тонких пленок». В первой части пособия кратко изложены основы метода ЭПР, приведены основные характеристики спектров: g-фактор, интенсивность, ширина и форма линий. Более подробно рассмотрены вопросы возникновения сверхтонкой и тонкой структуры спектров ЭПР. Во второй части пособия описана техника получе...

Червинский М.М., Панов В.А., Гаврилов Е.Л. и др. Состояние и перспективы развития измерений магнитных параметров плёнок: Обзорная информация

формат djvu
размер 3.89 МБ
добавлен 19 марта 2011 г.

М.: ВНИИ технической информации, классификации и кодирования, 1987. 104 с. , 20 илл. (Сер. "Метрологическое обеспечение измерений"; Bып. 5/ВНИИКИ). Описаны основные мeтоды измерений мaгнитных параметров пленок и даны оценки их возможностей по чувствительности и точности. Сформулированы критерии их применения для измерений на пленках из материалов различных классов. Рассмотрены современные виды измерительных установок, основанные на использовани...