Ивойлов Н.Г. Мессбауэровская спектроскопия. Конспект лекций

Казань: КазФУ, 2011. - 20 с. В настоящее время гамма-резонансная спектроскопия (ГРС) является одним из эффективных методов исследования микроструктуры твердых тел. Традиционной методикой эксперимента в ГРС является измерение энергетических мёссбауэровских спектров поглощения. Наряду с этим существует принципиально отличная методика, основанная на измерении временных мессбауэровских спектров. В этом случае источником информации служит временная з...

М., Мир, 1989. -564с. В книге излагаются физические основы более двадцати современных методов исследованния поверхности (дифракция медленных электронов, ионная и электронная спектроскопия и т. д. ).

Казань: КазГУ, 2008. - 50 с. Конспект составлен по 9 лекциям и предназначен для студентов физического факультета вечернего отделения, к курсу «Компьютерный гамма- и рентгеноспектральный анализ», а также для студентов дневного отделения, к курсу «Рентгеноструктурный и рентгеноспектральный анализ».

Монография (серия - Физика и техника спектрального анализа). Москва, Изд-во Наука, 1976, 218 с. В книге описана экспериментальная техника, спектральные приборы, оптические материалы и источники света, применяемые при исследованиях, связанных с использованием вакуумной ультрафиолетовой области спектра. Изложены также основные результаты по применению этой области к изучению плазмы, атомных спектров, атомных столкновений, флуоресцентного и эмиссион...

Пер. с англ. М.: Мир; Год: 1973; Стр. : 493; Книга посвящена спектроскопии фотоэлектронов, возбужденных рентгеновким или УФ-излучением. Электронная спектроскопия позволяет получать важную информацию об электронной структуре вещества - абсолютных значениях энергии связи электронов на всей совокупности атомных уровней, эффективные заряды атомов, распределение электронов по энергиям в валентной зоне.

Москва. МИСИС. 2008. 99 стр. Конспект лекций по спецкурсу Физика металлов. Рентгеновская техника Анализ субструктуры по ширине, профилю и интенсивности рентгеновских линий Некоторые применения дифракционных методов исследования

Новосибирск. Наука. Сиб. отд. 1988. 306 с. В монографии подробно описан новый мощный структурный метод, позволяющий в объекте любой сложности и любого агрегатного состояния измерять кривую радиального распределения атомов для локального (до 5 А) координационного окружения заданного химического элемента по дальней тонкой структуре его рентгеновских спектров поглощения (EXAFS-спектроскопия). Рассмотрены теоретические и методические вопросы EXAFS-сп...

Сумы: СумГУ, 2008. - 158 с Пособие содержит материалы лекций по дисциплине "Приборы и методы анализа твердых тел". Изложены фундаметальные вопросы об атомной структуре, особенностях электронной подсистемы и композиционном составе поверъхностей твердых тел. Описаны физическая и химическая адсорбция. Показана взаимосвязь между электронными, атомными и молекулярными процессами, происходящими на поверхности твердого тела и в адсорбционной фазе. Прив...

2008, 78с. Белорусский государственный университет. Физический факультет. Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники. Для специализации G 1. 31.04.01.01.06 Физика полупроводников и диэлектриков, G 1. 31.04.01.01.14 Новые материалы и технологии, G 1. 31.04.01.01.17 Микроэлектроника. Содержание Основные понятия. Методы изучения электрических характеристик. Измерение удельного сопротивления. Измерение э. д. с. Холла и магнитосопротивления...

М.: НИИЯФ МГУ, 2007. - 161 с. Учебное пособие предназначено для студентов физического факультета МГУ им. М. В. Ломоносова, слушающих курсы «Синхротронное излучение и его применения» и «Спектроскопия твердого тела» и аспирантов, слушающих курс «Методы спектроскопии с синхротронным излучением», Содержание. Свойства синхротронного излучения. Источники и каналы СИ. Спектральные приборы в каналах СИ. Экспериментальные установки в каналах СИ. Методы...