Лекции - Современные методы исследования конденсированных материалов

2008, 78с. Белорусский государственный университет. Физический факультет. Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники. Для специализации G 1. 31.04.01.01.06 Физика полупроводников и диэлектриков, G 1. 31.04.01.01.14 Новые материалы и технологии, G 1. 31.04.01.01.17 Микроэлектроника.
Содержание
Основные понятия.
Методы изучения электрических характеристик.
Измерение удельного сопротивления.
Измерение э. д. с. Холла и магнитосопротивления.
Вольт-амперная характеристика p-n перехода.
Вольт-фарадные методы измерения.
Оптические методы измерения.
Оптические константы.
Спектральные приборы и устройства для исследования оптических свойств.
Стационарная фотопроводимость и методика ее измерения.
Люминесцентные методы исследования.
Фотолюминесценция.
Методика измерения катодолюминесценции.
Резонансные методы исследования.
Спектроскопия ЯМР.
Спектроскопия ЭПР.
Месбауэровская спектроскопия.
Электронно-зондовые методы исследования.
Растровая электронная микроскопия.
Сканирующая туннельная микроскопия.
Атомно-силовая микроскопия.
Сканирующая оптическая микроскопия ближней зоны.
Электронная оже-спектроскопия.
Рентгеноспектральный микроанализ.
Спектроскопия дальней тонкой структуры рентгеновского поглощения (EXAFS-спектроскопия).
Ионно-зондовые методы исследования.
Метод резерфордовского обратного рассеяния.
Метод ядерных реакций. Нейтронное глубинное профилирование.
Метод PIXE (Particle Induced X-ray Emission).
Активационный анализ.
Метод вторичной ионной масс-спектрометрии.
Метод рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС).
Методы исследования поверхности. Общая характеристика.
Система сбора и обработки информации при автоматизации научного эксперимента.