Франк-Каменецкий В.А. Руководство по рентгеновскому исследованию минералов

формат djvu
размер 31.43 МБ
добавлен 21 мая 2010 г.

Л., Недра, 1975. - 399с.
Описаны методы и аппаратура рентгенографии поли- и монокристаллических материалов в фотографическом и дифрактометрическом вариантах в комнатных условиях и при повышенных температурах.
Краткое содержание:
Рентгеновские установки
Качественный фазовый анализ
Количественный фазовый анализ
Прецизионное определение параметров ячейки
Высокотемпературная дифрактометрия поликристаллов
Фотографические методы ренгенографии монокристаллов
Измерение монокристаллов на дифрактометре
Введение в методы структурного анализа
Рентгеновские методы изучения изоморфных замещений в кристаллах
Обработка экспериментальных данных на ЭВМ (1975г. )
Таблицы погасаний для определения 120 дифракционных групп
Символы пространственных групп при различных установках

Похожие разделы

Смотрите также

Гарибян Г.М., Ян Ши. Рентгеновское переходное излучение

формат djvu
размер 6.96 МБ
добавлен 06 сентября 2010 г.

Отв. ред. Ю. Г. Шахназарян. —Ер.: Изд-во АН АрмССР, 1983. — 320 с. Монография посвящена теоретическим и экспериментальным исследованиям переходного излучения, возникающего при прохождении быстрых заряженных частиц через среды, имеющие границы раздела. Особое внимание уделено рентгеновскому переходному излучению (РПИ), образуемому как на одной границе раздела, так и в пластине или в стопке пластин. Изложены основы общей теории переходного излучени...

Егоров В.И., Кораблев В.А., Шарков А.В. Системы термостатирования: Методические указания к лабораторным работам

Практикум

формат pdf
размер 1.29 МБ
добавлен 20 ноября 2010 г.

СПб.: СПбГУ ИТМО, 2006. - 49 с. Методические указания к лабораторным работам составлены в соответствии с программой курса "Системы термостабилизации и термостатирования" для направления подготовки дипломированных специалистов 140402 - "Теплофизика" и направления подготовки бакалавров и магистров 140400 - "Техническая физика". В настоящее издание вошли лабораторные работы, посвященные градуировке полупродводникового термометра сопротивления, иссле...

Китайгородский А.И. Рентгеноструктурный анализ мелкокристаллических и аморфных тел

формат djvu
размер 11.98 МБ
добавлен 19 января 2010 г.

Книга является продолжением книги А. И. Китайгородского "Рентгеноструктурный анализ" (Гостехиздат, 1950) и посвящена применениям рентгеноструктурного анализа и исследованию аморфных и мелкокристаллических веществ. Книга рассчитана на широкий круг научных работников, работающих с разнообразными мелкокристаллическими и аморфными веществами, неправильными кристаллами, а также сложноструктурными веществами - каучуком, белками, целлулозой, жирными кис...

Кузнецова Г.А. Качественный рентгенофазовый анализ. Методические указания

формат pdf
размер 541.91 КБ
добавлен 02 мая 2009 г.

Иркутск: 2005. - 28 с. Информацию об элементном составе различных объектов (горных пород, минералов, химических соединений, сплавов и т. д. ) можно получить с помощью разнообразных аналитических методов, чаще всего предполагающих разрушение вещества. Число химических элементов, из которых построены материальные тела, ограничено, и варианты состава ограничены их количеством лишь не намного превышающим 100. В то же время сложные вещества, образующи...

Томас Г., Гориндж М. Дж. Просвечивающая электронная микроскопия материалов

формат pdf
размер 39.83 МБ
добавлен 11 января 2012 г.

М.: Наука, 1983. - 320 с. Книга известных зарубежных ученых Г. Томаса и М.Дж. Горинджа посвящена исследованию материалов методом просвечивающей электронной микроскопии. На основе новейших экспериментальных и теоретических данных изложены физические основы электронной микроскопии и дифракции электронов, теории контраста и динамической теории дифракции в применении к исследованию различных материалов, данные о реальной структуре кристаллов и матер...

Тюкин А.В. Руководство к компьютерным лабораторным работам по физике

формат doc
размер 1.49 МБ
добавлен 21 января 2012 г.

Учебно-методическое пособие. - Омск: СибАДИ, 2009. - 94 с. Предлагаемое руководство предназначено для подготовки к выполнению, проведению и защите компьютерных лабораторных работ по курсу общей физики, созданных на кафедре физики СибАДИ. Может быть использовано для проведения лабораторных занятий со студентами очного и заочного отделений, для самостоятельного и углубленного изучения курса физики в техническом вузе. Табл. 41 Ил 34 Библиогр.: 6 на...

Усанов Д.А., Яфаров Р.К. Исследование поверхности материалов методом сканирующей атомно-силовой микроскопии

формат pdf
размер 795.29 КБ
добавлен 03 августа 2011 г.

Учебное пособие для студ. фак. Нано- и биомедицинских технологий. – Саратов, СГУ, 2006. - 23 с. Учебное пособие представляет собой руководство к практическим занятиям по курсу «Физика полупроводников». Содержит расширенное описание материала, знание которого необходимо при выполнении лабораторной работы по исследованию автоэлектронной эмиссии из металлов и наноуглеродных материалов. Для студентов, обучающихся по направлению «Электроника и микро...

Williams D.B., Carter C.B. Transmission Electron Microscopy. Textbook for Materials Science. I. Basics

формат pdf
размер 24.81 МБ
добавлен 26 ноября 2010 г.

1996, 1-173 p. Первая часть довольно редкого пособия по исследованию материалов методами просвечивающей электронной микроскопии. Transmission Electron Microscopy is the first comprehensive text in 20 years to provide the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials technique. Professors Williams and Carter fill the need for a basic textbook that incorporates all aspects of modern TEM into an integrated single volum...

Williams D.B., Carter C.B. Transmission Electron Microscopy. Textbook for Materials Science. II.Diffraction

формат pdf
размер 18.29 МБ
добавлен 26 ноября 2010 г.

1996, 177-347 p. Вторая часть довольно редкого пособия по исследованию материалов методами просвечивающей электронной микроскопии. Transmission Electron Microscopy is the first comprehensive text in 20 years to provide the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials technique. Professors Williams and Carter fill the need for a basic textbook that incorporates all aspects of modern TEM into an integrated single vol...

Williams D.B., Carter C.B. Transmission Electron Microscopy. Textbook for Materials Science. III. Imaging

формат pdf
размер 23.92 МБ
добавлен 26 ноября 2010 г.

1996, 349-550 p. Третья часть довольно редкого пособия по исследованию материалов методами просвечивающей электронной микроскопии. Transmission Electron Microscopy is the first comprehensive text in 20 years to provide the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials technique. Professors Williams and Carter fill the need for a basic textbook that incorporates all aspects of modern TEM into an integrated single vol...