Дулов Е.Н., Ивойлов Н.Г. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ: конспект лекций

формат pdf
размер 599.24 КБ
добавлен 21 ноября 2011 г.

Казань: КазГУ, 2008. - 50 с.
Конспект составлен по 9 лекциям и предназначен для студентов физического факультета вечернего отделения, к курсу «Компьютерный гамма- и рентгеноспектральный анализ», а также для студентов дневного отделения, к курсу «Рентгеноструктурный и рентгеноспектральный анализ».

Похожие разделы

Смотрите также

Бинниг Г., Рорер Г. Руска Э. Атомы глазами электронов (актуальные проблемы физики)

формат pdf
размер 2.29 МБ
добавлен 06 февраля 2011 г.

М.: Знание, 1988. - 64 с. В сборник включены переводы лекций нобелевских лауреатов 1986 года: Герда Биннига, Генриха Рорера и Эрнста Руски, посвященные созданию электронного микроскопа и изобретению нового класса микроскопов - сканирующего туннельного микроскопа.

Жаргалов Б.С. (сост.) Физические основы измерений. Курс лекций Универсальные физические постоянные. Часть 1

формат pdf
размер 246.63 КБ
добавлен 11 октября 2011 г.

Улан-Удэ, Восточно-сибирский государственный технологический университет, 2002 г.,14с. Курс лекций Универсальные физические постоянные предназначен для студентов направления Метрология, стандартизация и сертификация при изучении дисциплины Физические основы измерений. В работе дан краткий обзор об истории открытий физических постоянных крупнейшими физиками мира, которые в последующем легли в основу международной системы единиц физических величин....

Иванов А.Н. Дифракционные методы исследования материалов

формат pdf
размер 3.87 МБ
добавлен 12 декабря 2011 г.

Москва. МИСИС. 2008. 99 стр. Конспект лекций по спецкурсу Физика металлов. Рентгеновская техника Анализ субструктуры по ширине, профилю и интенсивности рентгеновских линий Некоторые применения дифракционных методов исследования

Ивойлов Н.Г. Мессбауэровская спектроскопия. Конспект лекций

формат pdf
размер 764.62 КБ
добавлен 21 ноября 2011 г.

Казань: КазГУ, 2003. - 93 с. Изложены основы ядерной гамма-резонансной спектроскопии. Рассмотрен как традиционный метод поглощения, так и метод регистрации мессбауэровских спектров по рассеянному излучению, эффективно используемый для изучения тонких пленок и поверхностей твердых тел. Представлен конспект лекций по курсу «Техника ЯГР-спектроскопии», читаемых автором в течение ряда лет на физическом факультете КГУ.

Кочубей Д.И. и др. Рентгеноспектральный метод изучения структуры аморфных тел: EXAFS-спектроскопия

формат djv
размер 3.47 МБ
добавлен 09 апреля 2011 г.

Новосибирск. Наука. Сиб. отд. 1988. 306 с. В монографии подробно описан новый мощный структурный метод, позволяющий в объекте любой сложности и любого агрегатного состояния измерять кривую радиального распределения атомов для локального (до 5 А) координационного окружения заданного химического элемента по дальней тонкой структуре его рентгеновских спектров поглощения (EXAFS-спектроскопия). Рассмотрены теоретические и методические вопросы EXAFS-сп...

Кузьмичева Г.М. Порошковая дифрактометрия в материаловедении. Часть 2

формат pdf
размер 885.29 КБ
добавлен 30 июля 2011 г.

Учебное пособие. - Москва, МИТХТ им. М.В.Ломоносова, 2006. - 88 с. Данное учебное пособие является дополнением к существующим учебникам по рентгенографическим методам исследования и отражает читаемый курс лекций для студентов 3 курса по дисциплине "Методы исследования фазового состава и структуры" (бакалавриат 071000 «Материаловедение и технология новых материалов») и курсам лекций для студентов очной формы обучения 5 курса по дисциплинам "Метод...

Лекции - Современные методы исследования конденсированных материалов

Статья

формат pdf
размер 1.71 МБ
добавлен 20 марта 2011 г.

2008, 78с. Белорусский государственный университет. Физический факультет. Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники. Для специализации G 1. 31.04.01.01.06 Физика полупроводников и диэлектриков, G 1. 31.04.01.01.14 Новые материалы и технологии, G 1. 31.04.01.01.17 Микроэлектроника. Содержание Основные понятия. Методы изучения электрических характеристик. Измерение удельного сопротивления. Измерение э. д. с. Холла и магнитосопротивления...

Махин А.В., Мошников В.А. Рентгеноспектральный микроанализ в полупроводниковой технологии

Практикум

формат djvu
размер 1.77 МБ
добавлен 19 июня 2011 г.

Методические указания к практическим занятиям по дисциплине "Технология полупроводниковых материалов, приборов и интегральных микросхем" Ленинград, издательство ЛЭТИ, 1991, 32с. Рассматривается применение рентгеноспектрального микроанализа для решения ряда практических задач полупроводниковой технологии. Даны краткие описания задач и путей их решения, а также сформулированы конкретные задания. 8 работ: Определение положения линии солидуса в бинар...

Поклонский Н.А., Горбачук Н.И. Основы импедансной спектроскопии композитов: курс лекций

формат pdf
размер 3.67 МБ
добавлен 08 мая 2011 г.

Мн.: БГУ, 2005. — 130 с. Излагаются основы импедансной спектроскопии композиционных материалов. Приведены необходимые сведения и определения из электрофизики гетерогенных систем и теории протекания. Курс лекций предназначен для студентов физического факультета, может быть полезен студентам химического факультета, специализирующимся в области электрохимии и коллоидной химии. Особенности структуры и электропроводности гетерогенных систем Векторные...

Фриш С.Э. Техника спектроскопии (курс лекций)

формат djvu
размер 4.44 МБ
добавлен 21 апреля 2011 г.

Ленинград. 1936. 190 с. Настоящая книга представляет собою несколько расширенное содержание первой половины лекций, читанных мною для студентов-оптиков IV курса ЛГУ в 1934/35 учебном году. Вторая часть лекций посвящена изложению основных сведений по атомным и молекулярным спектрам и по ней имеется ряд появившихся за последнее время руководств. По первой же части - технике спектроскопии - до сих пор на русском языке не имелось подходящего руководс...