Махин А.В., Мошников В.А. Рентгеноспектральный микроанализ в полупроводниковой технологии

Практикум

формат djvu
размер 1.77 МБ
добавлен 19 июня 2011 г.

Махин А.В., Мошников В.А. Рентгеноспектральный микроанализ в полупроводниковой технологии

Методические указания к практическим занятиям по дисциплине "Технология полупроводниковых материалов, приборов и интегральных микросхем"
Ленинград, издательство ЛЭТИ, 1991, 32с.
Рассматривается применение рентгеноспектрального микроанализа для решения ряда практических задач полупроводниковой технологии. Даны краткие описания задач и путей их решения, а также сформулированы конкретные задания.
8 работ:
Определение положения линии солидуса в бинарных и квазибинарных системах
Определение эффективного коэффициента распределения
Анализ твердфазной части диаграмм состояния
Определение коэффициента диффузии в твердом теле
Построение изоконцентрат для жидкофазной эпитаксии
Триангуляция тройных диаграмм состояния
Определение пределов растворимости в твердом теле
Анализ Диффузионных процессов в жидкой фазе

Похожие разделы

Смотрите также

Бордовский В.А., Анисимова И.Н. Лабораторные работы по электричеству

Практикум

формат djvu
размер 374.91 КБ
добавлен 29 октября 2010 г.

Авторы: В. А. Бордовский, В. Т. Аванесян, Н. И. Анисимова, В. И. Сельдяев. Издательство: С-Пб, РГПУ им. А. И. Герцена, 2002 г. Содержит описания 5 лабораторных работ по общей физике (электричество), предназначенных для студентов факультетов технологии и предпринимательства, химии, биологии и института естествознания. Работы: - выбор реостата и потенциометра - методы экспериментального определения сопротивлений - исследование источника тока -...

Гоулдстейн Дж., Яковица Х. Практическая растровая электронная микроскопия

формат pdf
размер 36.5 МБ
добавлен 20 мая 2010 г.

М: Мир, 1978, 656 с. В книге подробно изложены различные аспекты растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Рассмотрены электронная оптика приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, формирование изображения и контраст, проблема разрешения, рентгеновские спектры и количественный микроанализ, методы приготовления образцов, а также ряд более специальных вопросов. Книга представляет интерес для материаловедов, химиков...

Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 1

формат djv
размер 7.42 МБ
добавлен 13 июля 2010 г.

М.: Мир, 1984. - 303 с. В первой книге монографии известных американских специалистов изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение, информативность режимов вторичных и отраженных электронов, рентгеновская спектром...

Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 2

формат djv
размер 9.16 МБ
добавлен 13 июля 2010 г.

349 с. 1984 г. Во второй книге монографии изложена методика проведения количественного рентгеновского микроанализа с многочисленными примерами и практическими рекомендациями, а также техника подготовки различных объектов для последующего их исследования в РЭМ и РМА. Рассмотрены вопросы нанесения специальных покрытий, особенности исследования биологических (влагосодержащих) образцов и т. д. Книга представляет интерес для физиков, химиков, материал...

Дулов Е.Н., Ивойлов Н.Г. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ: конспект лекций

формат pdf
размер 599.24 КБ
добавлен 21 ноября 2011 г.

Казань: КазГУ, 2008. - 50 с. Конспект составлен по 9 лекциям и предназначен для студентов физического факультета вечернего отделения, к курсу «Компьютерный гамма- и рентгеноспектральный анализ», а также для студентов дневного отделения, к курсу «Рентгеноструктурный и рентгеноспектральный анализ».

Жуковский А.Н., Пшеничный Г.А., Мейер А.В. Высокочувствительный рентгенофлюоресцентный анализ с полупроводниковыми детекторами

формат djvu
размер 4.5 МБ
добавлен 11 января 2012 г.

Москва, Энергоатомиздат, 1991. - 160 с. Рассмотрены аппаратура и методики количественного многоэлементного анализа с возбуждением атомов вещества фотонным излучением радионуклидных источников, рентгеновской трубки и синхротрона, а также тяжелыми заряженными частицами. Приведены впервые полученные авторами оригинальные данные по РФА с использованием недавно открытого эффекта резонансного комбинационного рассеяния, а также РФА на базе портативных...

Кочубей Д.И. и др. Рентгеноспектральный метод изучения структуры аморфных тел: EXAFS-спектроскопия

формат djv
размер 3.47 МБ
добавлен 09 апреля 2011 г.

Новосибирск. Наука. Сиб. отд. 1988. 306 с. В монографии подробно описан новый мощный структурный метод, позволяющий в объекте любой сложности и любого агрегатного состояния измерять кривую радиального распределения атомов для локального (до 5 А) координационного окружения заданного химического элемента по дальней тонкой структуре его рентгеновских спектров поглощения (EXAFS-спектроскопия). Рассмотрены теоретические и методические вопросы EXAFS-сп...

Лекции - Современные методы исследования конденсированных материалов

Статья

формат pdf
размер 1.71 МБ
добавлен 20 марта 2011 г.

2008, 78с. Белорусский государственный университет. Физический факультет. Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники. Для специализации G 1. 31.04.01.01.06 Физика полупроводников и диэлектриков, G 1. 31.04.01.01.14 Новые материалы и технологии, G 1. 31.04.01.01.17 Микроэлектроника. Содержание Основные понятия. Методы изучения электрических характеристик. Измерение удельного сопротивления. Измерение э. д. с. Холла и магнитосопротивления...

Прокопенко В.Т., Никущенко Е.М., Дмитриев А.Л. и др. Оптико-физические измерения. Лабораторный практикум

Практикум

формат pdf
размер 1.56 МБ
добавлен 04 февраля 2012 г.

Учебное пособие. - Под редакцией д.т.н., проф. В.Т. Прокопенко. СПб: СПб ГУ ИТМО, 2006. 58с Учебное пособие предназначено для студентов 3 и 4 курсов Инженерно-физического факультета СПб ГУ ИТМО, обучающимся по специализации «Лазерная техника и лазерные технологии».

Фарбер В.М., Архангельская А.А. Дифракционные методы анализа

формат pdf
размер 1.62 МБ
добавлен 01 июля 2009 г.

В основе описания структуры и свойств металлов и сплавов лежат представления об их кристаллическом строении. Это вызвало необходимость привести в первой части пособия основные уравнения и понятия геометрической кристаллографии: симметрии, прямой и обратной решёток, кристаллографических проекций. Здесь выделены только те узловые вопросы, использование которых необходимо для расчета картин электронной дифракции, анализа деталей структуры на электро...