В основе описания структуры и свойств металлов и сплавов лежат
представления об их кристаллическом строении. Это вызвало
необходимость привести в первой части пособия основные уравнения и
понятия геометрической кристаллографии: симметрии, прямой и
обратной решёток, кристаллографических проекций. Здесь выделены
только те узловые вопросы, использование которых необходимо для
расчета картин электронной дифракции, анализа деталей структуры на
электронно-микроскопическом изображении и в рентгеноструктурном
анализе.
Наиболее полные экспериментальные исследования структуры металлов и сплавов на атомном уровне (дефектов кристаллического строения), их фазового и химического составов проводятся дифракционными методами: рентгенографии и аналитической электронной микроскопии, включающей в себя просвечивающую электронную микроскопию, растровую электронную микроскопию и рентгеновский микроанализ. Для иллюстрации применения этих методов во второй части пособия рассматриваются вопросы использования кристаллографических проекций кристаллов средних сингоний, анализа дефектов упаковки и образующих их частичных дислокаций, определения типов карбидов железа по габитусной плоскости выделений, отыскиваемой с помощью анализа следов её пересечения с поверхностью фольги.
Идентификация фаз в сплавах будет неполной, если данные по их кристаллическому строению не будут дополнены результатами их химического
состава, которые получают с помощью рентгеновского микроанализа. К тому же современный электронный микроскоп включает в себя, по сути, три прибора: просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ), растровый электронный микроскоп (РЭМ) и рентгеновский микроанализатор (МАР). Эти моменты предопределили описание (в третьей части пособия) принципа работы, конструкции и использование в металловедении РЭМ и МАР.
Наиболее полные экспериментальные исследования структуры металлов и сплавов на атомном уровне (дефектов кристаллического строения), их фазового и химического составов проводятся дифракционными методами: рентгенографии и аналитической электронной микроскопии, включающей в себя просвечивающую электронную микроскопию, растровую электронную микроскопию и рентгеновский микроанализ. Для иллюстрации применения этих методов во второй части пособия рассматриваются вопросы использования кристаллографических проекций кристаллов средних сингоний, анализа дефектов упаковки и образующих их частичных дислокаций, определения типов карбидов железа по габитусной плоскости выделений, отыскиваемой с помощью анализа следов её пересечения с поверхностью фольги.
Идентификация фаз в сплавах будет неполной, если данные по их кристаллическому строению не будут дополнены результатами их химического
состава, которые получают с помощью рентгеновского микроанализа. К тому же современный электронный микроскоп включает в себя, по сути, три прибора: просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ), растровый электронный микроскоп (РЭМ) и рентгеновский микроанализатор (МАР). Эти моменты предопределили описание (в третьей части пособия) принципа работы, конструкции и использование в металловедении РЭМ и МАР.