Вайнштейн Б.К. Структурная электронография

формат djvu
размер 10.05 МБ
добавлен 08 августа 2010 г.

М: Изд-во АН СССР, 1956, 342с
Наряду с классическим методом анализа атомной структуры кристаллов — рентгенографией — все большее значение приобретают в настоящее время другие диффракционные методы: электронография и нейтронография. При помощи электронографического метода могут решаться как некоторые общие вопросы структурного анализа, доступные двум другим методам, так и специальные задачи, рентгенографическое (или нейтроиографическое) изучение которых затруднительно или вообще невозможно.

Похожие разделы

Смотрите также

Бацанов С.С. Структурная рефрактометрия

формат djvu
размер 5.79 МБ
добавлен 11 января 2011 г.

Учеб. пособие для вузов. Изд. 2-е, перераб. и доп. М., «Высш. школа», 1976. 304 с. с ил. В книге излагаются рефрактометрические методы изучения реальной, атомной и электронной структуры кристаллических веществ. Рассмотрена зависимость оптических свойств кристаллов от симметрии решетки и расположения структурных единиц в кристаллическом пространстве; показаны возможности определения геометрической изомерии, координации и длин связей атомов, опи...

Вайнштейн Б.К. Электронная микроскопия атомного разрешения

Статья

формат pdf
размер 2.99 МБ
добавлен 04 ноября 2011 г.

Статья. Опубликована в Успехах Физических Наук (Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН) - 1987 г. Май. - Том 152, вып. 1 - с. 75-122 УДК 537.533.35 Электронно микроскопическое изображение. Рассеяние электронов объектом. Кинематическое приближение. Дифракция от кристалла. Функция прохождения. Изображение. Фазовый и амплитудный контраст. Передаточная функция. Светлопольное изображение. Темнопольное изображение. Микродифракция. Просве...

Русаков. Рентгенография металлов

формат djvu
размер 7.14 МБ
добавлен 03 ноября 2009 г.

Физика рентгеновских лучей. Рентгенотехника. Структурная кристаллография. Интерференция рентгеновских лучей, рассеянных кристаллами. Методы рентгеноструктурного анализа. Использование рентгеновских лучей в исследовании металлов и сплавов.

Утас Т.В. Количественный анализ атомной структуры поверхности фаз на кремнии с помощью сканирующей туннельной микроскопии

Дисертация

формат pdf
размер 10.36 МБ
добавлен 30 июля 2011 г.

Диссертация. кандидата физико-математических наук ( 01.04.07. - физика конденсированного состояния). - Владивосток, 2006. - 166 с.: ил. Научная новизна работы. Работа содержит новые экспериментальные и методические результаты, наиболее важные из которых следующие: 1, Разработана методика определения плотности атомов кремния в верхнем атомном слое поверхностных структур. Определены условия, при которых данная методика дает результаты с минимальн...