Кочубей Д.И. и др. Рентгеноспектральный метод изучения структуры аморфных тел: EXAFS-спектроскопия

формат djv
размер 3.47 МБ
добавлен 09 апреля 2011 г.

Новосибирск. Наука. Сиб. отд. 1988. 306 с.
В монографии подробно описан новый мощный структурный метод, позволяющий в объекте любой сложности и любого агрегатного состояния измерять кривую радиального распределения атомов для локального (до 5 А) координационного окружения заданного химического элемента по дальней тонкой структуре его рентгеновских спектров поглощения (EXAFS-спектроскопия). Рассмотрены теоретические и методические вопросы EXAFS-спектроскопии. Результаты проиллюстрированы примерами из областей химии растворов, катализа, материаловедения.
Книга предназначена для специалистов, изучающих локальную структуру химических объектов.

Похожие разделы

Смотрите также

Вагизов Ф.Г. Садыков Э.К. Гайнов Р.Р. Метод задержанных совпадений в гамма-резонансной спектроскопии (теория и практика мессбауэровской спектроскопии)

формат pdf
размер 381.48 КБ
добавлен 21 ноября 2011 г.

Казань: КазФУ, 2011. - 20 с. В настоящее время гамма-резонансная спектроскопия (ГРС) является одним из эффективных методов исследования микроструктуры твердых тел. Традиционной методикой эксперимента в ГРС является измерение энергетических мёссбауэровских спектров поглощения. Наряду с этим существует принципиально отличная методика, основанная на измерении временных мессбауэровских спектров. В этом случае источником информации служит временная з...

Вайнштейн Б.К. Электронная микроскопия атомного разрешения

Статья

формат pdf
размер 2.99 МБ
добавлен 04 ноября 2011 г.

Статья. Опубликована в Успехах Физических Наук (Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН) - 1987 г. Май. - Том 152, вып. 1 - с. 75-122 УДК 537.533.35 Электронно микроскопическое изображение. Рассеяние электронов объектом. Кинематическое приближение. Дифракция от кристалла. Функция прохождения. Изображение. Фазовый и амплитудный контраст. Передаточная функция. Светлопольное изображение. Темнопольное изображение. Микродифракция. Просве...

Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности

формат djvu
размер 5.52 МБ
добавлен 12 июля 2010 г.

М., Мир, 1989. -564с. В книге излагаются физические основы более двадцати современных методов исследованния поверхности (дифракция медленных электронов, ионная и электронная спектроскопия и т. д. ).

Дулов Е.Н., Ивойлов Н.Г. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ: конспект лекций

формат pdf
размер 599.24 КБ
добавлен 21 ноября 2011 г.

Казань: КазГУ, 2008. - 50 с. Конспект составлен по 9 лекциям и предназначен для студентов физического факультета вечернего отделения, к курсу «Компьютерный гамма- и рентгеноспектральный анализ», а также для студентов дневного отделения, к курсу «Рентгеноструктурный и рентгеноспектральный анализ».

Зигбан К., Нордлинг К. Электронная спектроскопия

формат djvu
размер 6.92 МБ
добавлен 04 сентября 2010 г.

Пер. с англ. М.: Мир; Год: 1973; Стр. : 493; Книга посвящена спектроскопии фотоэлектронов, возбужденных рентгеновким или УФ-излучением. Электронная спектроскопия позволяет получать важную информацию об электронной структуре вещества - абсолютных значениях энергии связи электронов на всей совокупности атомных уровней, эффективные заряды атомов, распределение электронов по энергиям в валентной зоне.

Ивойлов Н.Г. Мессбауэровская спектроскопия. Конспект лекций

формат pdf
размер 764.62 КБ
добавлен 21 ноября 2011 г.

Казань: КазГУ, 2003. - 93 с. Изложены основы ядерной гамма-резонансной спектроскопии. Рассмотрен как традиционный метод поглощения, так и метод регистрации мессбауэровских спектров по рассеянному излучению, эффективно используемый для изучения тонких пленок и поверхностей твердых тел. Представлен конспект лекций по курсу «Техника ЯГР-спектроскопии», читаемых автором в течение ряда лет на физическом факультете КГУ.

Кекало И.Б., Шуваева Е.А. Аморфные, нано - и микрокристаллические магнитные материалы. Лабораторный практикум

Практикум

формат djvu
размер 10.93 МБ
добавлен 28 октября 2011 г.

М.: МИСИС, 2008, 248 с. В лабораторном практикуме по спецкурсу «Аморфные, нано- и микрокристаллические магнитные материалы» представлены описания десяти лабораторных работ, посвященных новым классам магнитно-мягких материалов, которые получают путем закалки из жидкого состояния. Эти материалы обладают уровнем магнитных свойств и их сочетанием с дрyгими физическими свойствами, которые не достигаются в традиционных кристаллических магнитно-мягких...

Китайгородский А.И. Рентгеноструктурный анализ мелкокристаллических и аморфных тел

формат djvu
размер 11.98 МБ
добавлен 19 января 2010 г.

Книга является продолжением книги А. И. Китайгородского "Рентгеноструктурный анализ" (Гостехиздат, 1950) и посвящена применениям рентгеноструктурного анализа и исследованию аморфных и мелкокристаллических веществ. Книга рассчитана на широкий круг научных работников, работающих с разнообразными мелкокристаллическими и аморфными веществами, неправильными кристаллами, а также сложноструктурными веществами - каучуком, белками, целлулозой, жирными кис...

Лекции - Современные методы исследования конденсированных материалов

Статья

формат pdf
размер 1.71 МБ
добавлен 20 марта 2011 г.

2008, 78с. Белорусский государственный университет. Физический факультет. Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники. Для специализации G 1. 31.04.01.01.06 Физика полупроводников и диэлектриков, G 1. 31.04.01.01.14 Новые материалы и технологии, G 1. 31.04.01.01.17 Микроэлектроника. Содержание Основные понятия. Методы изучения электрических характеристик. Измерение удельного сопротивления. Измерение э. д. с. Холла и магнитосопротивления...

Михайлин В.В. Синхротронное излучение в спектроскопии

формат pdf
размер 2.63 МБ
добавлен 02 марта 2011 г.

М.: НИИЯФ МГУ, 2007. - 161 с. Учебное пособие предназначено для студентов физического факультета МГУ им. М. В. Ломоносова, слушающих курсы «Синхротронное излучение и его применения» и «Спектроскопия твердого тела» и аспирантов, слушающих курс «Методы спектроскопии с синхротронным излучением», Содержание. Свойства синхротронного излучения. Источники и каналы СИ. Спектральные приборы в каналах СИ. Экспериментальные установки в каналах СИ. Методы...