Меньшиков Е.А. Анализ наноструктурированных полимерных пленок совмещенными методами атомно-силовой и интерференционной микроскопии

Дисертация

формат pdf
размер 1.1 МБ
добавлен 05 декабря 2011 г.

Меньшиков Е.А. Анализ наноструктурированных полимерных пленок совмещенными методами атомно-силовой и интерференционной микроскопии

Автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук. - Москва, МГУ им. М.В. Ломоносова, 2009. - 26 с.

Специальность 02.00.06 – высокомолекулярные соединения
01.04.01 – приборы и методы экспериментальной физики

Основным актуальным аспектом работы является изучение структуры тонких пленок блок-сополимеров, поскольку их использование предоставляет широкие возможности для развития современных технологий. Большой интерес к блок-сополимерным материалам обусловлен явлением микрофазного расслоения (МФР) – самопроизвольным наностуктурированием с образованием индивидуальных упорядоченных фаз, состоящих из мономерных звеньев различной природы. В связи с технологической необходимостью создания наноматериалов с заданной структурой и свойствами, актуальной задачей представляется разработка методики точного определения статистических значений параметров структуры микрофазного расслоения на основании анализа АСМ-изображений.
Особенно актуальным вопросом работы является возможность формирования наноструктур из проводящих полимеров на диэлектрических полимерных матрицах. Осуществление литографии проводящими полимерами открывает широкие возможности для развития полимерной электроники.

Похожие разделы

Смотрите также

Баранов А.В. и др. Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью

формат pdf
размер 5.49 МБ
добавлен 20 января 2011 г.

Учебное пособие. – СПб: СПбГУ ИТМО, 2009. - 186 с. Рассматриваются методы и техника исследования и диагностики наноразмерных объектов, включая электронную, атомно-силовую микроскопию, различные варианты люминесцентной микроскопии и техники КР, ближнепольную оптическую микроскопию, а также лазерную технику, используемую в физических экспериментах. Учебное пособие предназначено для обучения магистров по направлению 200600 Фотоника и оптоинформатик...

Горелик С.С. Рентгенографический и электроннооптический анализ, 2-е издание

формат pdf
размер 38.97 МБ
добавлен 19 октября 2009 г.

Книга является учебным пособием по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии. В ней рассмотрена экспериментальная и расчетная методика решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электрон- ной микроскопии. В описании каждой работы имеются необходимые теоретические пояс- нения и изложен порядок выполнения задач. В приложении дан необходимый справочный материал. Книга предназначена для студентов м...

Заблоцкий А.В., Тимофеев А.А., Коростылёв Е.В., Кузьмин А.А. Электронная микроскопия в нанодиагностике

формат pdf
размер 12.75 МБ
добавлен 04 ноября 2011 г.

Учебное пособие. - М.: Издательство МФТИ, 2011. - 144 с. Целью данного пособия является ознакомление основными методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, устройством и принципом работы микроскопов и формированием изображении электронно-оптической системой. Читатели ознакомятся со способами интерпретации изображений, спектров характеристического рентгеновского излучения, спектров катодолюминесценции, расшифровки картин дифракции...

Усанов Д.А., Яфаров Р.К. Исследование поверхности материалов методом сканирующей атомно-силовой микроскопии

формат pdf
размер 795.29 КБ
добавлен 03 августа 2011 г.

Учебное пособие для студ. фак. Нано- и биомедицинских технологий. – Саратов, СГУ, 2006. - 23 с. Учебное пособие представляет собой руководство к практическим занятиям по курсу «Физика полупроводников». Содержит расширенное описание материала, знание которого необходимо при выполнении лабораторной работы по исследованию автоэлектронной эмиссии из металлов и наноуглеродных материалов. Для студентов, обучающихся по направлению «Электроника и микро...

Шиммель Г. Методика электронной микроскопии

формат djvu
размер 7.31 МБ
добавлен 08 августа 2010 г.

М., Изд-во «МИР», 1972, 300 с. Книга западногерманского специалиста в области электронной микроскопии Г. Шиммеля представляет собой обзор по методике электронно-микроскопических исследований. После обсуждения общих вопросов электронной микроскопии в ней рассмотрены важнейшие характеристики приборов, способы приготовления реплик, приложение метода для изучения фазового состава, динамики (в том числе количественной оценки) разнообразных процессов....

Garcia R., Perez R. Dynamic atomic force microscopy metods

формат pdf
размер 3.11 МБ
добавлен 15 декабря 2011 г.

Surface Science Reports 47 (2002) р.197–301 journal homepage: www.elsevier.com/locate/surfrep Данный доклад посвящен основам, применению и перспективам развития динамической атомно-силовой микроскопии. Рассмотрены полуконтактная и бесконтактная моды атомно-силовой микроскопии.

Williams D.B., Carter C.B. Transmission Electron Microscopy. Textbook for Materials Science. I. Basics

формат pdf
размер 24.81 МБ
добавлен 26 ноября 2010 г.

1996, 1-173 p. Первая часть довольно редкого пособия по исследованию материалов методами просвечивающей электронной микроскопии. Transmission Electron Microscopy is the first comprehensive text in 20 years to provide the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials technique. Professors Williams and Carter fill the need for a basic textbook that incorporates all aspects of modern TEM into an integrated single volum...

Williams D.B., Carter C.B. Transmission Electron Microscopy. Textbook for Materials Science. II.Diffraction

формат pdf
размер 18.29 МБ
добавлен 26 ноября 2010 г.

1996, 177-347 p. Вторая часть довольно редкого пособия по исследованию материалов методами просвечивающей электронной микроскопии. Transmission Electron Microscopy is the first comprehensive text in 20 years to provide the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials technique. Professors Williams and Carter fill the need for a basic textbook that incorporates all aspects of modern TEM into an integrated single vol...

Williams D.B., Carter C.B. Transmission Electron Microscopy. Textbook for Materials Science. III. Imaging

формат pdf
размер 23.92 МБ
добавлен 26 ноября 2010 г.

1996, 349-550 p. Третья часть довольно редкого пособия по исследованию материалов методами просвечивающей электронной микроскопии. Transmission Electron Microscopy is the first comprehensive text in 20 years to provide the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials technique. Professors Williams and Carter fill the need for a basic textbook that incorporates all aspects of modern TEM into an integrated single vol...

Williams D.B., Carter C.B. Transmission Electron Microscopy. Textbook for Materials Science. IV. Spectrometry

формат pdf
размер 21.5 МБ
добавлен 27 ноября 2010 г.

1996, 553-720 p. Четвертая часть довольно редкого пособия по исследованию материалов методами просвечивающей электронной микроскопии. Transmission Electron Microscopy is the first comprehensive text in 20 years to provide the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials technique. Professors Williams and Carter fill the need for a basic textbook that incorporates all aspects of modern TEM into an integrated single...