Казань, 2009. - 31 с.
Методическое пособие предназначено для студентов четвертого курса,
приступивших к изучению спецкурса «Физика поверхности и тонких пленок». В первой
части пособия кратко изложены основы метода ЭПР, приведены основные характеристики
спектров: g-фактор, интенсивность, ширина и форма линий. Более подробно рассмотрены
вопросы возникновения сверхтонкой и тонкой структуры спектров ЭПР. Во второй части
пособия описана техника получения спектров ЭПР, приведены сведения об основных
типах ЭПР спектрометров. Далее приведено описание установки и порядок выполнения
работы на приборе. В заключительной части даны указания по проведению экспериментов
и изложена методика обработки результатов.
Методическое пособие предназначено для студентов четвертого курса,
приступивших к изучению спецкурса «Физика поверхности и тонких пленок». В первой
части пособия кратко изложены основы метода ЭПР, приведены основные характеристики
спектров: g-фактор, интенсивность, ширина и форма линий. Более подробно рассмотрены
вопросы возникновения сверхтонкой и тонкой структуры спектров ЭПР. Во второй части
пособия описана техника получения спектров ЭПР, приведены сведения об основных
типах ЭПР спектрометров. Далее приведено описание установки и порядок выполнения
работы на приборе. В заключительной части даны указания по проведению экспериментов
и изложена методика обработки результатов.