Киев, Изд. Киевского университета, 1965. - 192 с. Пособие содержит
сведения об электрических и магнитных измерениях, технике работы с
вакуумом и других приемах лабораторной практики. В основе
практикума лежит многолетний опыт работы лаборатории техники
физического эксперимента Киевского ордена Ленина политехнического
института.
Рассчитано на студентов инженерно-технических специальностей втузов, а также может быть использовано начинающими научными сотрудниками, инженерами физических и заводских лабораторий, преподавателями физики.
Содержание:
Предисловие.
1. Введение в технику физического эксперимента.
2. Методы и техника электрических и магнитных измерений.
3. Основные методы оптических измерений.
4. Некоторые приемы лабораторной практики.
5. Основы вакуумной техники.
6. Поверхностные покрытия.
7. Измерение проводимости полупроводника на постоянном токе.
8. Исследование некоторых свойств щелочно-галоидных кристаллов.
9. Измерение диэлектрической проницаемости изоляционного материала.
10. Излучение фотопроводимости полупроводниковых образцов.
11. Измерение сопротивления металлов или полупроводников в магнитном поле.
12. Измерение постоянной Холла у металла или полупроводника.
13. Измерение контактной разности потенциалов.
14. Определение времени жизни неосновных носителей тока фотоэлектрическим методом.
15. Исследование характеристик германиевых выпрямителей.
16. Исследование германиевых фотоэлементов.
17. Исследование основных характеристик германиевых фотодиодов.
Рассчитано на студентов инженерно-технических специальностей втузов, а также может быть использовано начинающими научными сотрудниками, инженерами физических и заводских лабораторий, преподавателями физики.
Содержание:
Предисловие.
1. Введение в технику физического эксперимента.
2. Методы и техника электрических и магнитных измерений.
3. Основные методы оптических измерений.
4. Некоторые приемы лабораторной практики.
5. Основы вакуумной техники.
6. Поверхностные покрытия.
7. Измерение проводимости полупроводника на постоянном токе.
8. Исследование некоторых свойств щелочно-галоидных кристаллов.
9. Измерение диэлектрической проницаемости изоляционного материала.
10. Излучение фотопроводимости полупроводниковых образцов.
11. Измерение сопротивления металлов или полупроводников в магнитном поле.
12. Измерение постоянной Холла у металла или полупроводника.
13. Измерение контактной разности потенциалов.
14. Определение времени жизни неосновных носителей тока фотоэлектрическим методом.
15. Исследование характеристик германиевых выпрямителей.
16. Исследование германиевых фотоэлементов.
17. Исследование основных характеристик германиевых фотодиодов.