• формат djvu
  • размер 16.62 МБ
  • добавлен 07 августа 2010 г.
Горелик С. С, Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н. Рентгенографический и электронно-оптический анализ
Учеб. пособие для вузов. — 3-е изд. доп. и перераб. — М.: МИСИС-, 1994. —328 с.
В третьем издании (второе вышло в 1970 г. ) учебного пособия описаны экспериментальные и расчетные методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения, качественному и количественному фазовому анализу, текстурному анализу и спектроскопии, анализу пленочных материалов с учетом новых методов структурного анализа и новых областей его применения. Приведены алгоритмы выполнения работ с использованием ЭВМ. Пособие снабжено большим справочным материалом, необходимым для решения металловедческих задач.
Предназначено для студентов вузов, обучающихся по направлению «Материаловедение и технология новых материалов», а также рекомендуется для студентов металлургических и машиностроительных вузов, технических и технологических университетов, изучающих материаловедение и технологию материалов, физику металлов, обработку металлов давлением и др.
Ил 211, Табл 117, Библиогр. список: 53 назв.
Похожие разделы
Смотрите также

Абрагам А., Блини Б. Электронный парамагнитный резонанс переходных ионов Том 1

  • формат djvu
  • размер 10.28 МБ
  • добавлен 04 октября 2010 г.
Перевод с англ. – М.: Мир, 1972. – 651 с. Монография написана крупнейшими специалистами в области парамагнитного резонанса А. Абрагамом (Франция) и Б. Блини (Англия), представляет собой первое в мировой литературе последовательное введение в данный раздел физики. В переводе книга выходит в двух томах. Содержание: 1. ПРЕДВАРИТЕЛЬНЫЙ ОБЗОР 1. Введение в теорию электронного парамагнитного резонанса. 2. ОБЩИЙ ОБЗОР 2. Явление резонанса. 3. Спиновый...

Вайнштейн Б.К. Электронная микроскопия атомного разрешения

Статья
  • формат pdf
  • размер 2.99 МБ
  • добавлен 04 ноября 2011 г.
Статья. Опубликована в Успехах Физических Наук (Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН) - 1987 г. Май. - Том 152, вып. 1 - с. 75-122 УДК 537.533.35 Электронно микроскопическое изображение. Рассеяние электронов объектом. Кинематическое приближение. Дифракция от кристалла. Функция прохождения. Изображение. Фазовый и амплитудный контраст. Передаточная функция. Светлопольное изображение. Темнопольное изображение. Микродифракция. Просве...

Горелик С.С. Рентгенографический и электроннооптический анализ, 2-е издание

  • формат pdf
  • размер 38.97 МБ
  • добавлен 19 октября 2009 г.
Книга является учебным пособием по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии. В ней рассмотрена экспериментальная и расчетная методика решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электрон- ной микроскопии. В описании каждой работы имеются необходимые теоретические пояс- нения и изложен порядок выполнения задач. В приложении дан необходимый справочный материал. Книга предназначена для студентов м...

Дулов Е.Н., Ивойлов Н.Г. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ: конспект лекций

  • формат pdf
  • размер 599.24 КБ
  • добавлен 21 ноября 2011 г.
Казань: КазГУ, 2008. - 50 с. Конспект составлен по 9 лекциям и предназначен для студентов физического факультета вечернего отделения, к курсу «Компьютерный гамма- и рентгеноспектральный анализ», а также для студентов дневного отделения, к курсу «Рентгеноструктурный и рентгеноспектральный анализ».

Заблоцкий А.В., Тимофеев А.А., Коростылёв Е.В., Кузьмин А.А. Электронная микроскопия в нанодиагностике

  • формат pdf
  • размер 12.75 МБ
  • добавлен 04 ноября 2011 г.
Учебное пособие. - М.: Издательство МФТИ, 2011. - 144 с. Целью данного пособия является ознакомление основными методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, устройством и принципом работы микроскопов и формированием изображении электронно-оптической системой. Читатели ознакомятся со способами интерпретации изображений, спектров характеристического рентгеновского излучения, спектров катодолюминесценции, расшифровки картин дифракции...

Курсовая работа - Растровый электронный микроскоп

Курсовая работа
  • формат doc
  • размер 434.5 КБ
  • добавлен 04 января 2011 г.
БГТУ, 2008, 31 стр. Введение Электронно-микроскопический метод исследования Физические основы растровой электронной микроскопии Разновидности растрового электронного микроскопа Схема растрового электронного микроскопа, назначение его узлов и их функционирование Подготовка объектов для исследований и особые требования к ним Технические возможности растрового электронного микроскоп Современные виды РЭМ Заключение Список литературы

Лекции - Современные методы исследования конденсированных материалов

Статья
  • формат pdf
  • размер 1.71 МБ
  • добавлен 20 марта 2011 г.
2008, 78с. Белорусский государственный университет. Физический факультет. Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники. Для специализации G 1. 31.04.01.01.06 Физика полупроводников и диэлектриков, G 1. 31.04.01.01.14 Новые материалы и технологии, G 1. 31.04.01.01.17 Микроэлектроника. Содержание Основные понятия. Методы изучения электрических характеристик. Измерение удельного сопротивления. Измерение э. д. с. Холла и магнитосопротивления...

Синдо Д., Оикава Т. Аналитическая Просвечивающая Электронная Микроскопия

  • формат djvu
  • размер 3.26 МБ
  • добавлен 22 октября 2010 г.
М., Техносфера 2006 г. , 255 стр. Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энерго-дисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам: на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых...

Уманский Я.С., Скаков Ю.А. и др. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия

  • формат djvu
  • размер 8.56 МБ
  • добавлен 20 октября 2009 г.
М.: Металлургия, 1982, 632 с. Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и растровой электронной микроскопии. Описаны методы локального элементного анализа, основанн...

Шиммель Г. Методика электронной микроскопии

  • формат djvu
  • размер 7.31 МБ
  • добавлен 08 августа 2010 г.
М., Изд-во «МИР», 1972, 300 с. Книга западногерманского специалиста в области электронной микроскопии Г. Шиммеля представляет собой обзор по методике электронно-микроскопических исследований. После обсуждения общих вопросов электронной микроскопии в ней рассмотрены важнейшие характеристики приборов, способы приготовления реплик, приложение метода для изучения фазового состава, динамики (в том числе количественной оценки) разнообразных процессов....