Синдо Д., Оикава Т. Аналитическая Просвечивающая Электронная Микроскопия

формат djvu
размер 3.26 МБ
добавлен 22 октября 2010 г.

М., Техносфера 2006 г. , 255 стр. Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энерго-дисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам: на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых на современные ПЭМ. Даны, подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов.
В книге представлен новейший метод трехмерной томографии с помощью ПЭМ и метода ALCHEMI для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии.

Похожие разделы

Смотрите также

Вайнштейн Б.К. Электронная микроскопия атомного разрешения

Статья

формат pdf
размер 2.99 МБ
добавлен 04 ноября 2011 г.

Статья. Опубликована в Успехах Физических Наук (Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН) - 1987 г. Май. - Том 152, вып. 1 - с. 75-122 УДК 537.533.35 Электронно микроскопическое изображение. Рассеяние электронов объектом. Кинематическое приближение. Дифракция от кристалла. Функция прохождения. Изображение. Фазовый и амплитудный контраст. Передаточная функция. Светлопольное изображение. Темнопольное изображение. Микродифракция. Просве...

Гоулдстейн Дж., Яковица Х. Практическая растровая электронная микроскопия

формат pdf
размер 36.5 МБ
добавлен 20 мая 2010 г.

М: Мир, 1978, 656 с. В книге подробно изложены различные аспекты растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Рассмотрены электронная оптика приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, формирование изображения и контраст, проблема разрешения, рентгеновские спектры и количественный микроанализ, методы приготовления образцов, а также ряд более специальных вопросов. Книга представляет интерес для материаловедов, химиков...

Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 1

формат djv
размер 7.42 МБ
добавлен 13 июля 2010 г.

М.: Мир, 1984. - 303 с. В первой книге монографии известных американских специалистов изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение, информативность режимов вторичных и отраженных электронов, рентгеновская спектром...

Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 2

формат djv
размер 9.16 МБ
добавлен 13 июля 2010 г.

349 с. 1984 г. Во второй книге монографии изложена методика проведения количественного рентгеновского микроанализа с многочисленными примерами и практическими рекомендациями, а также техника подготовки различных объектов для последующего их исследования в РЭМ и РМА. Рассмотрены вопросы нанесения специальных покрытий, особенности исследования биологических (влагосодержащих) образцов и т. д. Книга представляет интерес для физиков, химиков, материал...

Заблоцкий А.В., Тимофеев А.А., Коростылёв Е.В., Кузьмин А.А. Электронная микроскопия в нанодиагностике

формат pdf
размер 12.75 МБ
добавлен 04 ноября 2011 г.

Учебное пособие. - М.: Издательство МФТИ, 2011. - 144 с. Целью данного пособия является ознакомление основными методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, устройством и принципом работы микроскопов и формированием изображении электронно-оптической системой. Читатели ознакомятся со способами интерпретации изображений, спектров характеристического рентгеновского излучения, спектров катодолюминесценции, расшифровки картин дифракции...

Лекции - Современные методы исследования конденсированных материалов

Статья

формат pdf
размер 1.71 МБ
добавлен 20 марта 2011 г.

2008, 78с. Белорусский государственный университет. Физический факультет. Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники. Для специализации G 1. 31.04.01.01.06 Физика полупроводников и диэлектриков, G 1. 31.04.01.01.14 Новые материалы и технологии, G 1. 31.04.01.01.17 Микроэлектроника. Содержание Основные понятия. Методы изучения электрических характеристик. Измерение удельного сопротивления. Измерение э. д. с. Холла и магнитосопротивления...

Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии

формат djvu
размер 7.37 МБ
добавлен 19 июня 2010 г.

М., Техносфера 2005 г. 144 стр. Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур – сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), атомно-силовая микроскопия (АСМ), электросиловая микроскопия (ЭСМ), магнитно-силов...

Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии

формат pdf
размер 3.17 МБ
добавлен 02 февраля 2010 г.

Учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений. Российская академия наук, Институт физики микроструктур - г. Нижний Новгород, 2004 г. Книга представляет собой учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений, посвященное одному из самых современных методов исследования поверхности твердого тела – сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое...

Томас Г., Гориндж М. Дж. Просвечивающая электронная микроскопия материалов

формат pdf
размер 39.83 МБ
добавлен 11 января 2012 г.

М.: Наука, 1983. - 320 с. Книга известных зарубежных ученых Г. Томаса и М.Дж. Горинджа посвящена исследованию материалов методом просвечивающей электронной микроскопии. На основе новейших экспериментальных и теоретических данных изложены физические основы электронной микроскопии и дифракции электронов, теории контраста и динамической теории дифракции в применении к исследованию различных материалов, данные о реальной структуре кристаллов и матер...

Хейденрайх Р. Основы просвечивающей электронной микроскопии

формат pdf
размер 20.42 МБ
добавлен 27 февраля 2011 г.

М., "Мир", 1966. Электронная микроскопия является одним из мощных методов научного исследования и в настоящее время плодотворно применяется в физике, химии, биологии, технике. Предлагаемая книга извеетного американского физика Р. Хейденрайха посвящена теории просвечивающей (трансмиссионной) электронной микроскопии. В ней систематически изложены теоретические основы методов получения изображения кристаллических и аморфных объектов. Подробно рас...