М., "Мир", 1966.
Электронная микроскопия является одним из мощных методов научного исследования и в настоящее время плодотворно применяется в физике, химии, биологии, технике.
Предлагаемая книга извеетного американского физика Р. Хейденрайха посвящена теории просвечивающей (трансмиссионной) электронной микроскопии. В ней систематически изложены теоретические основы методов получения изображения кристаллических и аморфных объектов. Подробно рассматриваютея дифракция электронов, механизмы формирования изображения (фазовый и амплитудный контрает, контрает, обусловленнЫЙ эффективной толщиной), потери энергии, cвязанные с возбуждением плазмы и электронов внутренних оболочек атомов, и влияние их на изображение. Отдельные главы посвящены теории дифрющионного контраста, качеетву изображения и разрешению. Теоретические результаты всюду сопоетавляютея с многочисленными экспериментальными данными.
Книга рассчитана на широкий круг научных работников, использующих электронно-микроскопичеекие методы иселедования, а также тех, кто занимается разработкой электронных микроскопов и электронной оптикой. Книга может служить дополнительным учебным пособием для студентов и аспирантов, специализирующихся в области электронной микроскопии или ее прпменений.
Электронная микроскопия является одним из мощных методов научного исследования и в настоящее время плодотворно применяется в физике, химии, биологии, технике.
Предлагаемая книга извеетного американского физика Р. Хейденрайха посвящена теории просвечивающей (трансмиссионной) электронной микроскопии. В ней систематически изложены теоретические основы методов получения изображения кристаллических и аморфных объектов. Подробно рассматриваютея дифракция электронов, механизмы формирования изображения (фазовый и амплитудный контрает, контрает, обусловленнЫЙ эффективной толщиной), потери энергии, cвязанные с возбуждением плазмы и электронов внутренних оболочек атомов, и влияние их на изображение. Отдельные главы посвящены теории дифрющионного контраста, качеетву изображения и разрешению. Теоретические результаты всюду сопоетавляютея с многочисленными экспериментальными данными.
Книга рассчитана на широкий круг научных работников, использующих электронно-микроскопичеекие методы иселедования, а также тех, кто занимается разработкой электронных микроскопов и электронной оптикой. Книга может служить дополнительным учебным пособием для студентов и аспирантов, специализирующихся в области электронной микроскопии или ее прпменений.