Гинье А. Рентгенография кристаллов. Теория и практика

формат djvu
размер 10.16 МБ
добавлен 03 апреля 2010 г.

Перевод с французского Е. Н. Беловой, С. С. Квитки, В. П. Тарасовой под редакцией академика Н. В. Белова` М. Наука 1961г. 604 с.
Рентгеноструктурный анализ занимается изучением строения тел из атомов и молекул. Он основан на том, что рентгеновские лучи рассеиваются электронами, окружающими атомы, которые в кристаллическом теле образуют естественную дифракционную решетку для рентгеновского излучения. В настоящей книге, написанной выдающимся французским ученым, подробно рассмотрены почти все разделы рентгеноструктурного анализа. Наряду с изложением таких классических вопросов, как свойства и способы получения рентгеновских лучей, порошковые рентгенограммы и др., автор большое внимание уделяет вопросам, отсутствующим в других книгах: дифракции рентгеновских лучей на несовершенных кристаллах и на аморфных телах, рассеянию рентгеновских лучей под малыми углами. Книга рассчитана на самый широкий круг научных работников и студентов старших курсов вузов. Ее можно особенно рекомендовать работникам промышленных и отраслевых лабораторий, занимающимся рентгеноструктурным анализом или желающим применить его в своей работе

Похожие разделы

Смотрите также

Бацанов С.С. Структурная рефрактометрия

формат djvu
размер 5.79 МБ
добавлен 11 января 2011 г.

Учеб. пособие для вузов. Изд. 2-е, перераб. и доп. М., «Высш. школа», 1976. 304 с. с ил. В книге излагаются рефрактометрические методы изучения реальной, атомной и электронной структуры кристаллических веществ. Рассмотрена зависимость оптических свойств кристаллов от симметрии решетки и расположения структурных единиц в кристаллическом пространстве; показаны возможности определения геометрической изомерии, координации и длин связей атомов, опи...

Вайнштейн Б.К. Структурная электронография

формат djvu
размер 10.05 МБ
добавлен 08 августа 2010 г.

М: Изд-во АН СССР, 1956, 342с Наряду с классическим методом анализа атомной структуры кристаллов — рентгенографией — все большее значение приобретают в настоящее время другие диффракционные методы: электронография и нейтронография. При помощи электронографического метода могут решаться как некоторые общие вопросы структурного анализа, доступные двум другим методам, так и специальные задачи, рентгенографическое (или нейтроиографическое) изучение к...

Вайнштейн Б.К. Электронная микроскопия атомного разрешения

Статья

формат pdf
размер 2.99 МБ
добавлен 04 ноября 2011 г.

Статья. Опубликована в Успехах Физических Наук (Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН) - 1987 г. Май. - Том 152, вып. 1 - с. 75-122 УДК 537.533.35 Электронно микроскопическое изображение. Рассеяние электронов объектом. Кинематическое приближение. Дифракция от кристалла. Функция прохождения. Изображение. Фазовый и амплитудный контраст. Передаточная функция. Светлопольное изображение. Темнопольное изображение. Микродифракция. Просве...

Китайгородский А.И. Как измеряются расстояния между атомами в кристаллах

Статья

формат rtf
размер 105.1 КБ
добавлен 31 января 2011 г.

Статья из журнала "Квант" №2, 1978 О рентгеноструктурном анализе атомной структуры кристаллов. В этой статье речь пойдет об атомной структуре кристаллов, под которой понимается узор, создаваемый центрами атомов. Задача этой статьи заключается в том, чтобы познакомить читателя с основными идеями рентгеноструктурного анализа и дать представление о дороге, следуя которой, можно определить структуру кристалла: измерить расстояния между атомами, дать...

Князев А.В. Сулейманов Е.В. Основы рентгенофазового анализа

Практикум

формат pdf
размер 437.79 КБ
добавлен 15 декабря 2011 г.

Учебно-методическое пособие. Нижний Новгород. ГОУ ВПО "Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского". 2005. 23 стр. Учебно-методическое пособие содержит описание методов обработки и графического индицирования дифрактограмм кристаллов, принадлежащих к кубической сингонии. В процессе выполнения работы студенты обучаются проводить идентификацию индивидуальных веществ по их рентгенографическим характеристикам, рассчитывать число ф...

Королев Ф.А. Спектроскопия высокой разрешающей силы

формат djvu
размер 4.85 МБ
добавлен 21 апреля 2011 г.

ГИТТЛ. М. 1953. 287 с. В предлагаемой монографии освещена теория н практика спектроскопии высокой разрешающей силы. При изложении теоретических вопросов автор базируется на развитой им теории, полностью учитывающей явления диффракции в интерференционных приборах. В книге дается теория ступенчатой решетки, плоско-параллельных пластинок, сложных интерферометров и их применения. Освещены вопросы ширины спектральных линий, а также вопросы, связанные...

Михайлин В.В. Синхротронное излучение в спектроскопии

формат pdf
размер 2.63 МБ
добавлен 02 марта 2011 г.

М.: НИИЯФ МГУ, 2007. - 161 с. Учебное пособие предназначено для студентов физического факультета МГУ им. М. В. Ломоносова, слушающих курсы «Синхротронное излучение и его применения» и «Спектроскопия твердого тела» и аспирантов, слушающих курс «Методы спектроскопии с синхротронным излучением», Содержание. Свойства синхротронного излучения. Источники и каналы СИ. Спектральные приборы в каналах СИ. Экспериментальные установки в каналах СИ. Методы...

Пущаровский Д.Ю. Рентгенография минералов

формат pdf
размер 11.59 МБ
добавлен 19 декабря 2010 г.

ЗАО "Геоинформмарк" Москва, 2000. - 288 c. В работе дается описание физических явлений, сопровождающих процессы рассеяния дифракции рентгеновских волн в кристаллах, без привлечения сложного математического аппарата. Рассматриваются природа и свойства рентгеновских лучей, излагаются подходы к решению ряда практических задач рентгенографии металлов, представлены основные принципы рассеяния рентгеновских лучей в кристаллах и теоретичексие основы рен...

Русаков. Рентгенография металлов

формат djvu
размер 7.14 МБ
добавлен 03 ноября 2009 г.

Физика рентгеновских лучей. Рентгенотехника. Структурная кристаллография. Интерференция рентгеновских лучей, рассеянных кристаллами. Методы рентгеноструктурного анализа. Использование рентгеновских лучей в исследовании металлов и сплавов.

Уманский Я.С., Скаков Ю.А. и др. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия

формат djvu
размер 8.56 МБ
добавлен 20 октября 2009 г.

М.: Металлургия, 1982, 632 с. Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и растровой электронной микроскопии. Описаны методы локального элементного анализа, основанн...