Магнитотеллурический метод разведки
219
Верхняя кривая представляет изменение продольной прово-
димости 5 вдоль профиля, найденной из непосредственных на-
блюдений. Нижняя кривая дает зависимость мощности толщи
осадочных пород вдоль этого же профиля, вычисленной по фор-
муле Ri=Sp
2
, причем значения 5 взяты из верхней кривой,
а р
2
было определено по геоэлектрическим параметрам трех
скважин, вскрывших кристаллический фундамент. Значение
среднего продольного сопротивления pi осадочной толщи на
участках между скважинами определялось путем интерполяции.
Полученные результаты хорошо согласуются с данными сей-
сморазведки, которые на нижней кривой отмечены крестиками.
В то время как магнитотеллурическое профилирование уже
внедряется в практику геологоразведочных работ, на пути прак-
тического осуществления идей магнитотеллурического зондиро-
вания (МТЗ) имеются трудности как методического, так и ап-
паратурного.порядка.
Метод МТЗ состоит в наблюдении КПК магнитного и элек-
трического поля в одной точке в течение некоторого времени
(до нескольких суток) с тем, чтобы зарегистрировать вариации
электромагнитного поля Земли в широком диапазоне частот
от 1ГГ"
3
до 10
5
сек. Такой большой диапазон необходим при ис-
следовании Земли до глубин в несколько сот километров. В слу-
чае зондирования лишь верхней части земной коры (до глубины
5—10 км) можно ограничиться записью вариаций с периодом
до
200—-300
сек.
Как указывалось выше, в настоящее время создана аппара-
тура, регистрирующая КПК геомагнитного поля с периодами до
1 сек. Имеются опытные образцы аппаратуры, с помощью ко-
торой производится запись вариаций в диапазоне частот от
100 до 1,0 гц [3], но нет аппаратуры для регистрации вариаций
в практически важном диапазоне частот от 1,0 до 0,1 гц.
В качестве примера приведем кривую МТЗ, полученную в
результате магнитотеллурических наблюдений в одном из райо-
нов Ярославской области (рис. 95) [11]. На этой кривой по оси
абсцисс в билогарифмическом масштабе отложена величина
УГ,
а по оси ординат — величина кажущегося сопротивления
р
т
в ом-м. Значение рг вычислялось по формуле
Построенная кривая магнитотеллурического зондирования
в пределах точности совпадает с теоретической кривой ρ = f(T)
для трехслойной структуры, первый слой которой имеет сопро-
тивление pi, во много раз большее, чем второй, рг, а третий, под-
стилающий, является непроводником, т. е. рз = °°.