
22
Гл
1.
Введение
в
которой
источник
света
(например,
лазер)
не
испытывает
влияния
со
стороны
объекта.
Микроскопия
ближнего
поля
была
впервые
предложена
в
качестве
идеи
в
1928
г.
Сингом.
В
своей
работе,
оказавшейся
пророческой,
он
предложил
аппарат.
очень
похожий
на
современные
приборы
в
сканирующей
оптической
микроскопии
ближнего
поля
[16].
Мельчайшее
отверстие
(или
апертура
1))
в
непрозрачной
пере
городке,
освещаемой
с
одной
стороны,
располагается
в
непосредственной
близости
от
поверхности
образца,
так что
световое
пятно
не
испытывает
влияния
дифракции.
Затем
прошедшее
излучение
собирается
при
помощи
микроскопа,
а
его
интенсив
ность
измеряется
при
помощи
фотоэлектрического
элемента.
Для
того
чтобы
создать
изображение
поверхности,
отверстие
перемещается
с
малым
шагом
вдоль
нее.
Раз
решение
такого
изображения
ограничено
не
длиной
волны
излучения,
посылаемого
на
поверхность,
а
размером
отверстия,
как
и
было
справедливо
замечено
Сингом.
Известно,
что
Синг
обсуждал
свои
идеи
с
Эйнштейном,
и
именно
тот
поддержал
его
в
вопросе
публикации
этих
идей.
Известно
также,
что
впоследствии
Синг
все-таки
потерял
уверенность
в
правильности
этих
идей
и
предложил
другие,
как
мы
теперь
знаем,
неверные.
Вследствие
экспериментальных
ограничений,
неизбежных
в
то время,
идеи
Синга
не
были
реализованы
и
вскоре
были
забыты.
Позднее.
в
1956
г.,
о'Киф,
независимо
от
неосуществленных
идей
Синга,
предложил
похожий
прибор
[17].
Первая
экспериментальная
реализация
в
микроволновом
диапазоне
была
осуществлена
в
1972
г.
Эшем
и
Николсом,
которые
также
не
знали
о
работе
Синга
[18].
Используя
отверстие
величиной
1,5
мм
и
длину
волны
излучения
10
см,
Эш
и
Николс
достигли
визуализации
в
субволновом
диапазоне
с
разрешением
>'/60.
Создание
в
начале
1980-х
гг.
сканирующей
зондовой
микроскопии
[19],
позво
лившей
с
высокой
точностью
управлять
расстоянием
между
образцом
и
зондом,
дало
почву
и
для
реализации
идей
Синга
в
оптическом
диапазоне.
В
1984
г.
Массей
предложил
использовать
для
точного
позиционирования
пьезоэлектрический
элемент
с
мельчайшей
апертурой,
облучаемой
светом
[20].
Вскоре
после
этого
Пол,
Дэнк
И
Ланц
из
Цюрихской
исследовательской
лаборатории
18М
(Швейцария,
Рюшли
кон)
2)
преодолели
последнюю
экспериментальную
сложность
-
создали
субволно
вую
апертуру:
покрытая
металлом
узконаправленная
кварцевая
головка
«стучится»
В
поверхность
до
тех
пор,
пока
через
самый
ее
кончик
не
начинает
просачиваться
свет,
который
может
быть
измерен.
В
1984
г.
группа
18М
представила
первое
субволновое
изображение
на
оптических
частотах
[21],
и
почти
одновременно
неза
висимое
исследование
было
проведено
Льюисом
с
соавтроами
[22].
Впоследствии
эта
техника
систематически
развивалась
и
совершенствовалась,
находя
разные
при
менения,
в
основном
группой
Бетцига
с
соавторами,
которые
показали
основанную
на
этом
принципе
возможность
магнитного
хранения
информации
и
детектирования
отдельных
флуоресцентных
молекул
[23-25].
В
последующие
годы
были
предло
жены
разнообразные
схожие
по
типу
методики,
такие
как
фотонная
сканирующая
туннельная
микроскопия,
микроскопия
ближнего
поля
на
отражении,
микроскопы,
использующие
в
качестве
источников
излучения
люминесцентные
центры,
микроско
пы,
основанные
на
локальном
плазмонном
взаимодействии,
микроскопы,
основанные
на
локальном
рассеянии
света,
а
также
работающие
благодаря
эффекту
усиления
поля
вблизи
заостренных металлических
головок.
Во
всех
этих
методиках
создается
локализованный
поток
фотонов
между
зондом
и
образцом.
Однако
локализация
пото-
1)
Мы
будем
использовать
в
зависимости
от
контекста
оба
термина.
русский
-
отверстие.
и
его
заимствованный
аналог
-
апертура,
но
в
предметном
указателе
поместим
лишь
термин
«апертура».
-
Примеч.
пер.
2)
18М
Riischlikon Research Laboratory.