223
носпектрального микроанализа электронной оже-спектроскопии, фото-
электронной спектроскопии, вторично-ионной масс-спектрометрии,
рентгеновской микродифракции, ИК-спектрофотометрии и т. п. Затем
данные обобщаются и анализируются, после чего делается заключение
о механизме и причине отказа.
При необходимости для подтверждения и уточнения результатов
анализа отказ моделируется. Такая задача возникает, если сделано
заключение, что причиной стало нарушение режимов и условий при-
менения электрорадиоизделий в аппаратуре и необходимо установить
параметры воздействий на ЭРИ и средств защиты от этих воздейст-
вий. Выбор и имитация условий работы ЭРИ в составе аппаратуры
производится на основании физико-технического анализа отказавше-
го изделия путем построения его эквивалентной схемы.
Достоверное установление причин и, что принципиально важно,
механизмов отказов – необходимое условие разработки эффективных
корректирующих и предупреждающих действий, направленных на
предотвращение отказов.
Проведено более двадцати международных симпозиумов по ис-
пытаниям и анализу отказов (International Symposium for Testing and
Failure Analysis), регулярно организуются конференции, посвящен-
ные повышению процента выхода годной продукции микроэлектро-
ники, ее надежности, анализу отказов (Microelectronic Manufacturing
Yield, Reliability and Failure Analysis). Материалы семинаров, симпо-
зиумов, других научных форумов регулярно публикуются в периоди-
ческих изданиях и тематических сборниках, в сети Интернет.
Другими словами, передовые зарубежные, а теперь уже и отечест-
венные фирмы, в том числе ОАО «Ижевский мотозавод „Аксион-
холдинг“», справедливо придают все большее значение физическим
исследованиям причин и механизмов отказов.
Опыт производителей РЭА свидетельствует: анализ и предотвра-
щение отказов аппаратуры и комплектующих ее ЭРИ – задача ком-
плексная, связанная с воздействием нескольких взаимозависимых
факторов, охватывающих этапы разработки и производства аппара-
туры, режимы и условия применения в ней ЭРИ, особенности экс-
плуатации.
Вот выводы, сделанные по результатам объективных физико-
технических исследований отказавших элементов, узлов и блоков
аппаратуре. Сбои в работе аппаратуры вызваны: отказами покупных
комплектующих изделий (ПКИ) – 41 %; недостатками технологии
производства – 26 %; недостатками конструктивных и схемных ре-