
140
где
2
окрi
σ - дисперсия погрешности округления или, как её еще
называют, инструментальной погрешности,
2
трфi
σ
- дисперсия
трансформированной погрешности.
2.6.1. Инструментальная погрешность. Величина разрядной сетки
влияет на точность контролируемых и управляемых переменных, а
также на стоимость микроконтроллера. Поэтому, как уже отмечалось,
одним из критериев выбора МК является обеспечение заданной
точности, по возможности, минимальной длиной разрядной сетки.
Длина разрядной сетки непосредственно влияет на инструментальную
погрешность или погрешность округления. Кроме того, на величину
этой погрешности
будет влиять количество последовательных
округлений в алгоритме вычислений.
Для примера оценим инструментальную погрешность при
вычислении произведения двух чисел:
П=а×ε. В результате округления
каждый множитель этого произведения представлен в МК целым
числом квантов Δ
a и Δε, т.е.
a=PΔa, ε =NΔε .
С учетом процедуры округления для каждого множителя
a
a=a+β ,
ε
ε = ε + β . и результата произведения
ПεaaεП
П = П + β =aε +aβ + εβ + ββ + β ,
где β
α
, β
ε
, β
П
- погрешности округления соответственно множителей и
результата их перемножения, имеющие дисперсии
222 2
a εПокр
σ = σ = σ = σ , получим следующее выражение для дисперсии
погрешности округления произведения:
2222
Покр
σ ={a +ε }σ .
При вычислениях с фиксированной запятой, исходные данные
должны быть масштабированы так, чтобы и множители и результат
умножения были близки к единице, т.е. чтобы не было потери в
точности вычисления. Тогда, если
a, ε близки к единице, то
≅
2
22
АЛУ
Покр
Δ
σ 3σ =3
12
,
где Δ
АЛУ
- величина младшего разряда операционного устройства.
Из анализа полученных результатов можно сделать вывод, что
суммарная погрешность округления в МК складывается из