Явление интерференции света находит самые разнообразные применения. Оно
используется, например, для определения показателей преломления газообразных веществ, для
весьма точного измерения длин и углов, для контроля качества обработки поверхностей и т. п.
Интерференция при отражении от тонких пленок лежит в основе так называемого
просветления оптики. Прохождение света через каждую преломляющую поверхность линзы
сопровождается отражением примерно 4% падающего света. В сложных объективах такие
отражения совершаются многократно и суммарная потеря светового потока достигает
заметной величины. Кроме того, отражения от поверхностей линз приводят к возникновению
бликов. В просветленной оптике для устранения отражения света на каждую свободную
поверхность линзы наносится тонкая пленка вещества с показателем преломления иным, чем у
линзы. Толщина пленки подбирается так, чтобы волны, отраженные от обеих ее поверхностей,
погашали друг друга. Особенно хороший результат достигается в том случае, если показатель
преломления пленки равен корню квадратному из показателя преломления линзы. При этом
условии интенсивность обеих отраженных от поверхностей пленки волн одинакова.
Имеется несколько разновидностей интерференционных приборов, называемых
интерферометрами. На рис. 53 изображена уже известная схема интерферометра
Майкельсона.
Интерферометр Майкельсона.
Пучок света от источника S падает на полупрозрачную
пластинку P
1
, покрытую тонким слоем серебра (этот слой
показан на рис. 53 точками). Половина упавшего светового
пучка отражается пластинкой P
1
в направлении луча 1,
половина проходит сквозь пластинку и распространяется в
направлении луча 2. Пучок 1 отражается от зеркала М
1
и
возвращается к P
1
, где он делится на два равных по
интенсивности пучка.
Один из них проходит сквозь пластинку и образует
пучок 1', второй отражается в направлении к S; этот пучок
нас интересовать дальше не будет. Пучок 2, отразившись от
зеркала М
2
, тоже возвращается к пластинке P
1
, где он
делится на две части: отразившийся от полупрозрачного
слоя пучок 2' и прошедший сквозь слой пучок, которым мы
также интересоваться больше, не будем.
Пучки света 1' и 2' когерентны и обладают одинаковой интенсивностью. Результат
интерференции этих пучков зависит от оптической разности их хода от пластинки P
1
до зеркал
M
1
и М
2
и обратно. Луч 2 проходит толщу пластинки P
1
трижды, луч 1 – только один раз.
Чтобы скомпенсировать возникающую за счет этого разную (вследствие дисперсии) для
различных длин волн оптическую разность хода, на пути луча 1 ставится точно такая, как P
1
,
но не посеребренная пластинка Р
2
. Тем самым уравниваются пути лучей 1 и 2 в стекле.
Интерференционная картина наблюдается с помощью зрительной трубы Т.
Разность хода лучей удобно оценивать, заменив мысленно зеркало М
2
его мнимым
изображением М
2
' в полупрозрачной пластинке P
1
. Тогда лучи 1' и 2' можно рассматривать как
возникшие за счет отражения от прозрачной пластинки, ограниченной плоскостями M
1
и М
2
'.
С помощью юстировочных винтов W
1
можно изменять угол между этими плоскостями, в
частности их можно устанавливать строго параллельно друг другу.
Вращая микрометрический винт W
2
, можно плавно перемещать зеркало М
2
, не изменяя его
наклона. Тем самым можно менять толщину «пластинки», в частности, можно заставить
плоскости M
1
и М
2
' пересечься друг с другом (рис. 53, б).
Наблюдаемая интерференционная картина зависит от юстировки зеркал и от характера
пучка света, падающего на прибор. Если падающий пучок параллелен, а плоскости M
1
и М
2
'
образуют угол, не равный нулю, то в поле зрения прибора наблюдаются прямолинейные
Рис. 53