
Согласно условию, максимальная интенсивность отраженного луча
возникает тогда, когда разность хода равна целому числу длин волн п%
г
т. е.
«A
= 2dsin0,
где п — целое число. Это выражение называют уравнением (или усло-
вием) Брэгга — Вульфа.
Если используется монохроматическое рентгеновское излучение с
точно известной длиной волны К, то величину искомого межплоскост-
ного расстояния можно найти по формуле:
d ^ %
п
2
sin 6
где 0 — тот угол, при котором достигается максимальная интенсив-
ность отраженного луча.
В почвенных исследованиях рентгеновским методом изучают мине-
ралогический состав тонкодисперсных фракций, обычно это частицы с
эффективным диаметром меньше 0,001 мм. Изучить дифракцию рентге-
новских лучей на единичном кристалле такого размера очень трудно,,
да
и
.расчленять совокупность частиц, образующих фракции, нецелесо-
образно. Поэтому минералы тонкодисперсных фракций изучают мето-
дом Дебая — Шерера, который был специально разработан для по-
рошкообразных объектов. Сущность метода заключается в том, что для
анализа берут не отдельный кристалл, а пробу почвы (или тонкодис-
персной фракции), содержащую совокупность всех присутствующих в
этой почве частиц и минералов. В такой пробе кристаллы расположены
неупорядоченно и всегда найдутся кристаллы, ориентированные таким
образом, что они будут удовлетворять условию Брэгга — Вульфа. Для
проведения анализа порошкообразную пробу почвы (фракции) поме-
щают на пути монохроматического рентгеновского луча, а затем изме-
ряют интенсивность излучения, отраженного под различными углами.
На дифрактометрах типа ДРОН-2 интенсивность отражения автомати-
чески зписывается на диаграммной ленте в координатах: угол скольже-
ния рентгеновского луча — интенсивность отражения (рис. 27). Затем
на записанной дифрактограмме находят максимумы отражений и вы-
числяют межплоскостные расстояния для каждого из максимумов.
Описанный метод позволяет найти серию отражений нескольких
порядков от одной и той же совокупности плоскостей, или величины
din.
Если га=1, найденная величина характеризует отражение первого
порядка, при я =
2
получают отражение второго порядка и т. д. Это
показано на рис. 27 для каолинита, где максимум, соответствующий
7,13 А, является отражением первого порядка, максимум при 3,56 А —
отражение второго порядка.
Набор полученных отражений используется для диагностики мине-
ралов, присутствующих в пробе почвы или ее гранулометрической
фракции. Диагностика не всегда оказывается простым делом, потому
что отражения, обусловленные разными минералами, могут совпадать.
Чтобы повысить надежность определения минералогического состава,
пробы тонкодисперсных фракций почв подвергают специальной обра-
ботке: удаляют неокристаллизованные полуторные окислы, разрушают
органические вещества, поглощающий комплекс насыщают ионами
Mg^\ Кроме этого, прибегают и к специальной обработке; в частности,
образцы перед съемкой рентгенограмм насыщают глицерином, прока-
ливают при 500—550°С, насыщают ионами калия.
152