висимости
,от
вида
рассматриваемого
металла
вь1бирают тот или
,иной
метод
|подготовки
1плиф'ов.
(начала
,поверхно,сть
'образца
вы_
равнивают
на
нах<дачно|м
круге.
,[1,алее
.шлифуют
на стан!ках
с по.
мощью
:плифовальной
бутмаги.
[11лифовка
последовательно
прои3во_
дится
на
бумагах
м
180'
220, 24о' 280' 320.
[11лифовка
производится
таким
образом,
'нтобы
шосле
поворота
шлифа
на
90-
вь:вести
риски
па шлифе
от 'бумаги
предь]дущего но1мера.
|1осле тплифовки
образец
предварительно
]полируют
на,полировально1м
дис1ке'
о'бтянутом
пару-
синой и!'1и сукном'
на)кда|чнь!м
порошком
с величиной
зерна
7-
10
мкм с водной мьтльной
эмульсией !1ли водно_спиртовь|м
раствороп{.
Ф:коннательную полировку 1прои3водят
на плотном сукне,
фетре.
14з
абразивов
луч1пе
всего
применять
отмученную
трехокись
алюми-
н\\я ||л|4
0кись хро1ма
с величиной зерна
0,5-3 м;км.
3лектромехани-
чо0кая
'полировка
по3воляет
,быстро
лодпотовить
поверхность
шлифа
'без
:механических
ее повре>кдений. ,Бо
время по,лировкй
пшлиф
являет-
ся анод0м.
:|]рименяются
различнь|е
электролить1
и
режимь'
полиро-
вания
в
зависимости
от
состава оплава.
Б
ка,честве
|электролита
слу-
я(ит концентриРованная
азотная
|кис!т|ота
или
'смесь
азотной (750/6)
и
уксусной
('25}6)
кислот.
;|1ереА просмотром
пФ"(
:ми!к!Ф€кФ{пом
тллйф
протирают
спирто]м
для
удаления
оста11ков
полировочных материа_
лов.
()
ценка
3а2ря3ненця металла
включе
нцям[[
Бначале^
в:ключения
рассматривают
лод
,микроско|пом
1при
увеличе_
нии
в 100
ра3
в
светлом
поле 3рения.
Фцени!ают
качественную
кар-
тину
загря3ненности
{металла'
рао]1оло}кение
вклюнений,
их
внешние
при3наки.
3атом шереходят
1к 6ольши|м
увеличениям
(ло
500
раз),
подро1бно
рассматривая
отдельные
видь1 вкл|о((|ений,
в'
особенЁ,ости
сложные.
(лелуюшая
ступень
осм,отра
-
наблюдение
в темно1м поле зрения'
в
котором
определяют
про3рачность
в:клюнений,
цвет
в!ключений,
строение
1прозрачнь|х
части'ц.
€
помощью
на,блюден,ия
в
скрещеннь|х
п!.||колях
анализируют
0пти,ческие
включения
в пол:яривованно,м
свете'
что
дает
во3мо)кн'ость
разделить
неметалличеокие
в]ключения
на
и3отропнь!е
и
анизотропные.
14зотролнь|е
включения
всегда
остают_
ся
темнь!ми
шри лю,бьтх
поло'(ениях
анали3атора.
.
0бнару'(еннь]е
включения
сравнивают
с та'бличнь:ми
даннь|ми'
с
фотографиями
эталонов'
определяя
принадлел{ность
вклточений
к
тому
'или
иному
типу.
|(оличественную
0ценку
загрязненности
металла
производят
по
двум
основнь!м
методикам:
1)
подснет
вклюнений,
вётренающихся
на тплифе,
в
процентном
отношении
1по
массе и
2)
'подсве|
по
эталон_
нь,м
шкалам.
|в
первом
слццае
делают
следующие
допущения:
а)
:масса в:клю_
,че:тий
та:к относится
к !массе
металла,
как
площадь'
занимаемая
вклю!|ениям'и,
к площади
штлифа
под !микроок0пом;
б)
лластинньте
в!1(лючения
пр,едставляют
,ообой
тела вРа'ц{ения
-
эллипооидь1'
а
не.
пластичные-*сферь1.
.(,ля
оценки
по пёрвой
методике
просматрива-
ют 10;полей
3рения
при
увели|чении
в 100
рав.
на'ка}кдо;
,''Ё.р._
ния
о{пределяют
,раз!мерь|
всех
в!ключений,
подсчитывают
их
площадь
в
един|1цах
1пкаль1
окулярмикрометра
и
распределяют
их
по
восьми
пруппам'
имеющим
пРе!ельл
от 0'1-0'25
до
21,5-Ф,9
|м1(м
в
едини_
цах
ш!кальг.
218
;(ах<дая
грщпа имеет
свой
0преде{еннь|й
т|ндекс значимост,и.
{|'утем
:умнот<ения числа вк,::ючений
данной
груп]1ы
на ее
индекс и
последующего
сло)кения восьми проивведений
,ч,исла
вкл1оддтений в
группах
на
их индекс
значимости
,опроделяют
'обшую
площадь
вклю-
вений'
.[,алее
|подсчитывают
!количество
вклточен,ий в
п,р0центах
по
ма'ссе'
иопользуя
формулу
0:
100
//5
4
,
где
{
_
индекс'
прФдставляющий площадь
всех вкл|Ф{ений, приходя_
щихся
на одно поле зрения
(]:общая
площадь
вклюнений/висло
полей
врения);
5-площадь
поля 3]рения'
в
тех
}{е
единищах
(лри
увеличении
в
100
раз
5:100.100:10000); 4-отнотпение
плотно_
сти )келе3а
к
сРедней плот|{ости вклточений (:моокн'о
шринять его
рав_
нцм
3).
.[ля
повьтшения
точности
расчета
необходимо число
образцоь
уве,]|ичить
до
|,2,
а
чр;сло
полей
3рения
-
до
20.
Бо второл| слуцас
при ис{1'оль3овании
эталонных
]шкал
загря3-
ненность
поля зрения тпли'фа
сравнивают
с эталон,ом
;станАаРтной
111калы
и выра)кают
в
баллах
данной
шкаль!. в
сссР
для
оценки
загря3ненности стали т!{€|]'Фль3}!Ф1
шкаль|
;[Ф€1 1778-70,
в
которьте
входят основнь!е
ти!пы
оксиднь|х'
сульфиднь1х
и
нитриднь1х
включе_
ний.
;Ёаи;б,олее
распространеннь|м
!метод0м 0ценки является метод
максимального ;балла.,Фтдельно
ощенивают 3агря3ненность металла
0ксидам,и'
оулфидами,
глобуля:ми.
Б ка>кдом образце
вьлбирают
место, наиболее
3агря3ненное
в!кл1очением
данн0го
типа' и
оценива_
ют
'баллом ш1каль1. :||ри
этюм ;й€!ФА€
оцениваетоя
только
соответствие
или несоответствие |металла
.условиям
,[0€1а, та1к как
не
дается
об-
щепо
загря3нения
металла' а принимается
во внимание наличие хо_
тя
,бы
,одного
шо.пя' но загря3ненного
вклю'чениями
самого
большого
размера.
[ля
п'олунени,я
наде)кнь!х-
ре3,ультатов
ло
эт0му
методу
тробуется пр'осмотр
болышого нисла тпли,фов.
1[етод
оценки
загря3ненности
стали;по
всей
площади
шлифа
со_
стоит в
том'
что
один :пли.ф пр'о'сматр,ивают
целиком
при
увеличении
в
'100
раз,
постеп€нно
перемФцая
его вдоль
объектива
:по
стронка,м
слева
направо
и
'свеРх}
вниз.
оть|скивают наиболее
3агря3ненное
по.
ле' срав|{ивают
с таблицей
[Ф€1а
и
оценивают
баллом
эталонной
11]каль|. 1акую
оценку прои3водят
:Айя
йнФл|1)( пплифов,
в3ятых
для
металла
одной плавки.
3атем
определяют
количество
обра3цов
(т.
е. шлифов) в прошентах
с баллом
1,0; 1,5; 2,0;2,5;3,0;
3,51 4,0
и
вычисляют
среднеарифметичеокий
'6ал:л
!уля
ка)кдого вида в,кл}0че-
ний
(табл.2).
!,ля
оцен:ки за,прязненн,ости
применяют'
метод среднего балла,
для
чепо сравнивают
наиболее
3агрязненное
поле
со
,1цкалой.
Аля
ках(дого
вида вкл|очений вь:бирают
наиболее
3а,гря3ненное
шоле по
этому виду
включений.,[!
одснитьтвают
оредний'балл,ка;к
среднеариф_
метичеокое
и3
оцено]к
ка)кдого
образца
дл'я
в!ключений
дайного
вида.
|1ривеленньге методики
мета.ттлол.рафи,!0€]1(Ф:[Ф
определения
за_
грязненности
]металла'
во-порвых'
страда!от
субъективностью,оцен_
ки' во_вторь1х' иоключительно
трудоемки.
Б
лослед,тее
время
они
вытесняются
опособами
автоматичес|кого
подочета
включений на
микрос|(опах
(рис.
96) с одновременной
демопстрацией
поля
:плг:фа
на боль1п0м экране.
Б приборе и,меется
(микроскопная
Ф1тичеокая
си1стема
для
на_
бл:одения
3а
полем
:шлифа
и электронная
система
для
подс1чета
219