
142
того, що забракований виріб пройде обидві перевірки рівна
21
)(
1
⋅=AP
B
.
2) В
2
– виріб, який поступив на перевірку є стандартним,
імовірність
pBP
)(
2
. Імовірність того, що стандартний
виріб пройде обидві перевірки рівна:
)1)(1()(
21
2
−=AP
B
.
Імовірність події А обчислимо згідно формули повної
імовірності:
⋅= )()()()()(
21
21
APBPAPBPAP
BB
).1()1()1(
2121
+⋅⋅−= pp
б) Умовну імовірність події
)(
2
BP
A
обчислимо згідно
формули Байєса:
)1()1()1(
)1()1(
)(
)()(
)(
2121
21
2
2
2
ββαα
ββ
−⋅−⋅+⋅⋅−
−⋅−⋅
=
⋅
=
pp
p
AP
APBP
BP
B
A
.
2.2.9. Відділ технічного контролю (ВТК) проводить сор-
тування приладів, які випускає завод. Кожен прилад неза-
лежно від інших має дефекти з ймовірністю p. При перевірці у
ВТК наявність дефектів виявляють з ймовірністю ; крім того,
з ймовірністю справний прилад при перевірці може вести
себе як дефектний. Всі прилади, в яких виявлені відхилення
від стандарту, забраковуються.
Знайти ймовірність q
0
того, що незабракований прилад
має дефекти, і ймовірність q
1
того, що забракований прилад
має дефекти. При яких умовах q
0
> q
1
?
Розв’язок.
Позначимо через
A подію, яка полягає в тому, що
прилад буде визнано дефектним і забраковано. Це може
відбутися при настанні однієї з гіпотез:
1) В
1
– прилад дійсно має дефект, імовірність наявності
якого (гіпотеза В
1
): Р(В
1
) = р і при цій гіпотезі В
1
з