укладывают ряд проволочек вплотную друг к другу и скреп-
ляют их лаком или клеем.
При изучении текстуры прокатки толстого листа фотоме-
тодом вытачивают два столбика, оси которых параллельны
НП и ПН. На одном конце столбика для маркировки плоскости
прокатки оставляют, полоску листа, перпендикулярную оси
столбика (Т-образный образец).
Для дифрактометрического анализа из прокатаного листа
вырезают образец, анализируемая плоскость которого, как
правило, параллельна плоскости прокатки. При изучении тек-
стуры с помощью ОПФ или же получения полной ППФ только
съемкой «на отражение» из достаточно толстого листа допол-
нительно изготовляют образец, плоскость которого перпенди-
кулярна НП. Перед вырезкой образцов на их поверхности от-
мечается направление, параллельное НП. Если лист слишком
тонок и единичный образец, перпендикулярный НП, имеет
площадь, недостаточную для съемки «на отражение», то его
готовят в виде соответствующего среза пакета плоских пла-
стинок, закрепленных в струбцину или склеян-ных, например,
эпоксидной смолой, шлифуют и стравливают нужную поверх-
ность. При этом необходимо учитывать, что результаты, полу-
ченные съемкой с плоскости прокатки, относятся к тонкому,
достаточно однородному по текстуре слою, а для пакетов по-
лучаются данные, усредненные по толщине многослойного
материала.
Анализ текстуры средних по толщине слоев листа ведут
после его одностороннего стравливания. Для этого другая, не-
стравливаемая плоскость образца предварительно покрывается
защитной лаковой пленкой, например из целлулоида, раство-
ренного в ацетоне. Неоднородность текстуры по толщине лис-
та изучают последовательно при послойном стравливании.
119
Для получения тонкого плоского образца, используемого
при съемке «на просвет» исходный образец предварительно
механически сошлифовывают с обеих сторон до толщины
примерно на 0,2 мм больше, чем это требуется для съемки.
Затем двусторонней химической или электролитической по-
лировкой его утоняют до нужной толщины в несколько сотых
миллиметра (табл. 2 Приложения). При этом выбирают слой
образца, идентичный снимаемому «на отражение». Тонкий
образец стараются получить однородным по толщине, без рас-
травливания его поверхности. Для придания большей