50
Методи визначення максимуму інтенсивності світлової плями
основані на аналізі інтенсивності пікселів, які знаходяться в околі пік-
села з максимальною інтенсивністю.
До таких методів відноситься метод Гаусса, який використо-
вує яскравість трьох суміжних пікселів в околі досліджуваного мак-
симуму плями або лінії і припускає, що форма досліджуваного макси-
муму відповідає профілю (перетину) Гауcса. Це припущення є приб-
лизно правильним [113].
Справжній розподіл, звісно, не є Гауссовим, тому що кожен пі-
ксел об’єднує (інтегрує) світло, що потрапляє на нього. У зв’язку з
чим цей метод є наближеним і працює тільки з плямами, що наближе-
ні за формою розподілу інтенсивності до Гауссової. Оскільки функція
містить цілі числа в діапазоні 0– 255 і обчислення логарифма може
бути виконано пошуком в таблиці, але все ж таки метод у порівнянні
з іншими має більший час обробки.
Алгоритм центра мас також допускає розподіл інтенсивності
вздовж одного рядка фотоматриці та вважається, що відповідає Гаус-
совому розподілу. Положення максимуму обчислюється середньоз-
важеним методом і при цьому може використовувати не тільки 3,
але й 5 або 7 точок. Цей метод працює швидше, ніж метод Гаусса, але
точність методу нижча [114].
Лінійна інтерполяція допускає простий лінійний взаємозв’язок
розподілу інтенсивності пікселів перед і після піку [115]. Однак даний
алгоритм не оптимальний, оскільки є дуже чутливим до шуму, а при
великій різниці інтенсивності пікселів, що досліджуються на предмет
піку, похибка методу зростає. Однак для швидкоплинних процесів за-
лишається ефективним, оскільки має мінімальний час обробки.
Неперервний варіант знаходження максимуму визначається з
розвиненням в ряд Тейлора сигналу інтенсивності в околі максимуму
та називається методом параболічної оцінки. Якщо максимум розпо-
ділу знаходиться в координаті f(x+δ), а величина сигналу f(x) і сигна-
лів f(x-1), f(x+1) відома, тоді можна оцінити дискретну похідну, яка
дозволяє розрахувати зміщення піку відносно центра піксела з коор-
динатою f(x).
Даний метод є ефективний для дифракційно-обмежених плям. У
випадку плями з великим значенням ступеня розмитості