Никольский К.Н., Батурин А.С. и др. (сост.) Растровый электронный микроскоп. Лабораторная работа

Практикум

формат pdf
размер 1 МБ
добавлен 07 ноября 2011 г.

Никольский К.Н., Батурин А.С. и др. (сост.) Растровый электронный микроскоп. Лабораторная работа

М.: издательство МФТИ, 2003.- 40 с.

Данная лабораторная работа направлена на ознакомление студентов с физическими принципами функционирования растрового электронного микроскопа (РЭМ) и основными методиками измерения.
Экспериментальная часть работы заключается в изучении растрового электронного микроскопа Jeol JSM-840, в том числе:
? получение изображения образца в различных режимах работы микроскопа:
в режиме сбора истинно вторичных электронов (SEI),
в режиме сбора упругоотражённых электронов (BE), топографический (TOPO) и элементный (COMP) контрасты;
? получение стереоизображений образцов;
? изучение особенностей изображений, получаемых в растровом электронном микроскопе.
При выполнении настоящей лабораторной работы студент знакомится с принципом действия растрового электронного микроскопа и конструкцией прибора Jeol JSM-840, а также получает навык практической работы с ним.

Физические основы растровой электронной микроскопии.
Вторичная электронная эмиссия.
Контраст в растровом электронном микроскопе.
Устройство и работа растрового электронного микроскопа.
Общее устройство микроскопа.
Электронный зонд.
Детекторы электронов.
Формирование изображения в РЭМ.

Похожие разделы

Смотрите также

Анищик В.М., Углов В.В., Черенда Н.Н. Резерфордовское обратное рассеяние. Методические указания к лабораторным работам

Практикум

формат pdf
размер 1.6 МБ
добавлен 07 июня 2011 г.

Мн.: БГУ, 2004, – 48 с. Методические указания предназначены для студентов кафедры физики твердого тела и направлены на освоение метода резерфордовского обратного рассеяния и на развитие практических навыков определения из спектров обратного рассеяния состава гомогенных, гетерогенных и слоистых тонкопленочных систем, имеющих важное практическое значение в материаловедении и микроэлектронике. Пособие состоит из 5 лабораторных работ и рассчитано на...

Воробьёв А.А., Дегтерёв Е.Г. и др. Интерференция света при наблюдении колец Ньютона

Практикум

формат jpg
размер 3.39 МБ
добавлен 14 января 2011 г.

Методические указания к Лабораторная работа по физике № 3-11 "Интерференция света при наблюдении колец Ньютона". Лабораторная работа по физике № 3-11 для студентов всех специальностей и всех форм обучения. Нижний Новгород, 2007 год. Количество страниц - 10. НИЖЕГОРОДСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ. Кафедра "Общей и прикладной физики". 2-й курс, 4-й семестрrn

Жукова В.А., Ивахник В.В., Козлов Н.П. Оптика: лабораторный практикум для студентов специальности Химия

Практикум

формат pdf
размер 2.13 МБ
добавлен 16 октября 2010 г.

Самара: «Универс-групп», 2005. 82 с. Лабораторные работы по курсу общей физики «Оптика» предназначены для студентов дневного и вечернего отделений специальности «Химия». Содержание Лабораторная работа 1 Определение фокусного расстояния тонкой линзы Теоретическая часть Экспериментальная часть Лабораторная работа 2 Изучение микрообъектов при помощи микроскопа Теоретическая часть Экспериментальная часть Лабораторная работа 3 Измерение радиуса кри...

Курсовая работа - Растровый электронный микроскоп

Курсовая работа

формат doc
размер 434.5 КБ
добавлен 04 января 2011 г.

БГТУ, 2008, 31 стр. Введение Электронно-микроскопический метод исследования Физические основы растровой электронной микроскопии Разновидности растрового электронного микроскопа Схема растрового электронного микроскопа, назначение его узлов и их функционирование Подготовка объектов для исследований и особые требования к ним Технические возможности растрового электронного микроскоп Современные виды РЭМ Заключение Список литературы

Курсовая работа - Сканирующий зондовый микроскоп СЗМ

Курсовая работа

формат doc
размер 2.86 МБ
добавлен 04 января 2011 г.

БГТУ, 2008, 40 стр Введение Историческая справка Принципы работы сканирующего зондового микроскопа Сканирующие элементы (сканеры) зондовых Сканирующие элементы Нелинейность пьезокерамики Крип пьезокерамики и гистерезис пьезокерамики Устройства для прецизионных перемещений зонда и образца Механические редукторы Шаговые электродвигатели Шаговые пьезодвигатели Защита зондовых микроскопов от внешних воздействий Защита от вибраций Защита от акустиче...

Сканирующий зондовый микроскоп NanoEducator

формат pdf
размер 5 МБ
добавлен 11 июня 2011 г.

Руководство пользователя. - Москва, НИИФП, ЗАО «НТ-МДТ», 2008. - 137 с. Принцип работы и конструкция Подготовка прибора к работе Интерфейс программы NanoEducator Проведение измерений Анализ и обработка изображений в программе Scan Viewer Приложения: Травление игл Программный осциллограф Цифровой видеомикроскоп Электронный блок Смотрите Часть 1 - Круглов А. В., Голубок А. О. Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография

Стрепетов А.Н. Формирование и регистрация изображения в нейтронном микроскопе

Дисертация

формат pdf
размер 6.55 МБ
добавлен 15 мая 2011 г.

- Москва, - ИАЭ, - 1991, – 156 стр. Диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. Специальность: 01.04.16 - физика атомного ядра и елементарних частиц. (На правах рукописи). Научный руководитель: Содержание. Современное состояние проблемы формирования и регистрации нейтронного изображения. Элементы оптики УХН. Оптические элементы для фокусировки нейтронов. Роль гравитационного поля Земли. Сложные ахроматизированн...

Сушкин Н.Г. Электронный микроскоп

формат djvu
размер 4.86 МБ
добавлен 04 сентября 2010 г.

М. 1949. – 274 с. Книга излагает принципы работы и основные конструкции электронных микроскопов. Она содержит также подробное изложение методики использования электронных микроскопов в различных областях науки и техники. Книга предназначена для инженерно-технических работников, работающих в области электронной микроскопии, а также для работников научно-исследовательских институтов и промышленных лабораторий, в которых применяются электронные микр...

Фарбер В.М., Архангельская А.А. Дифракционные методы анализа

формат pdf
размер 1.62 МБ
добавлен 01 июля 2009 г.

В основе описания структуры и свойств металлов и сплавов лежат представления об их кристаллическом строении. Это вызвало необходимость привести в первой части пособия основные уравнения и понятия геометрической кристаллографии: симметрии, прямой и обратной решёток, кристаллографических проекций. Здесь выделены только те узловые вопросы, использование которых необходимо для расчета картин электронной дифракции, анализа деталей структуры на электро...

Шиммель Г. Методика электронной микроскопии

формат djvu
размер 7.31 МБ
добавлен 08 августа 2010 г.

М., Изд-во «МИР», 1972, 300 с. Книга западногерманского специалиста в области электронной микроскопии Г. Шиммеля представляет собой обзор по методике электронно-микроскопических исследований. После обсуждения общих вопросов электронной микроскопии в ней рассмотрены важнейшие характеристики приборов, способы приготовления реплик, приложение метода для изучения фазового состава, динамики (в том числе количественной оценки) разнообразных процессов....