Дисертация
  • формат pdf
  • размер 6.55 МБ
  • добавлен 15 мая 2011 г.
Стрепетов А.Н. Формирование и регистрация изображения в нейтронном микроскопе
- Москва, - ИАЭ, - 1991, – 156 стр. Диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. Специальность: 01.04.16 - физика атомного ядра и елементарних частиц. (На правах рукописи). Научный руководитель:

Содержание.
Современное состояние проблемы формирования и регистрации нейтронного изображения.
Элементы оптики УХН.
Оптические элементы для фокусировки нейтронов.
Роль гравитационного поля Земли.
Сложные ахроматизированные оптические системы.
Оптическая система без ахроматизации.
Геометрические гравитационные аберрации.
Матричный метод расчета неитронно-опттических систем с произвольно ориентированной оптической осы) и проблема хроматизма.
Методы расчета нейтронно-оптических систем.
Матричный способ расчета нейтронно-оптических систем с произвольно ориентированной оптической осью.
Расчет простой нейтронно-оптической системы.
Проблема хроматизма.
Четырехзеркальная нейтронно-оптическая система.
Микроскоп А. Штайерла.
Нейтронно-оптические системы с горизонтальной оптической осью.
Расчет нейтронно-оптических систем, состоящих из апланатических элементов.
Геометрические гравитационные аберрации. Нейтронный микроскоп с апланатическим объективом.
Геометрические аберрации в нейтронно-оптических системах с вертикальной оптической осью.
Геометрические аберрации в нейтронно-оптических системах с горизонтальной оптической осью.
Способ расчета апланатических нейтронно-оптических систем.
Нейтронный микроскоп с апланатическим объективом.
Возможности улучшения бисферической нейтронно-оптической системы.
Нейтронный микроскоп с магнитной компенсацией силы тяжести земли.
Компенсация гравитационной силы неоднородным магнитным полем.
Нейтронно-оптическая система в неоднородном магнитном поле.
Расчет нейтронного микроскопа с магнитной компенсацией поля тяжести.
Горизонтальный нейтронный микроскоп.
Компенсация гравитационного смещения в горизонтальных схемах (параксиальный расчет).
Оборачивающие зеркала как компенсирующий елемент.
Геометрические гравитационные аберрации пролетного участка.
Потраекторный расчет горизонтального нейтронного микроскопа.
Система регистрации изображения в нейтронном микроскопе.
Координатно-чувствительные детекторы излучений.
Цринцип работы детектора.
Детектор открытого типа.
Детектор сцинтилляционного типа с квадрантным анодом.
Детектор с анодом в виде клиньев и полос.
Измерительно-вычислительная система.
Эксперименты по получению нейтронных изображений.
Краткое описание конструкции микроскопа.
Эксперименты по регистрации позиционно-чувствительным детектором нейтронов изображений в горизонтальном нейтронном микроскопе.
Обсуждение результатов экспериментов.

Стоимость данного файла составляет 5 баллов
Похожие разделы
Смотрите также

Вайнштейн Б.К. Электронная микроскопия атомного разрешения

Статья
  • формат pdf
  • размер 2.99 МБ
  • добавлен 04 ноября 2011 г.
Статья. Опубликована в Успехах Физических Наук (Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН) - 1987 г. Май. - Том 152, вып. 1 - с. 75-122 УДК 537.533.35 Электронно микроскопическое изображение. Рассеяние электронов объектом. Кинематическое приближение. Дифракция от кристалла. Функция прохождения. Изображение. Фазовый и амплитудный контраст. Передаточная функция. Светлопольное изображение. Темнопольное изображение. Микродифракция. Просве...

Гоулдстейн Дж., Яковица Х. Практическая растровая электронная микроскопия

  • формат pdf
  • размер 36.5 МБ
  • добавлен 20 мая 2010 г.
М: Мир, 1978, 656 с. В книге подробно изложены различные аспекты растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Рассмотрены электронная оптика приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, формирование изображения и контраст, проблема разрешения, рентгеновские спектры и количественный микроанализ, методы приготовления образцов, а также ряд более специальных вопросов. Книга представляет интерес для материаловедов, химиков...

Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 1

  • формат djv
  • размер 7.42 МБ
  • добавлен 13 июля 2010 г.
М.: Мир, 1984. - 303 с. В первой книге монографии известных американских специалистов изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение, информативность режимов вторичных и отраженных электронов, рентгеновская спектром...

Мюллер Э.В., Цонг Т.Т. Полевая ионная микроскопия

  • формат djvu
  • размер 3.76 МБ
  • добавлен 21 марта 2011 г.
М.: «Наука», 1980 г. , 220 стр. Монография отражает новейшие достижения полевой ионной (автоионной) микроскопии - единственной методики, обеспечивающей прямое наблюдение атомов поверхности твердого тела. Впервые подробно описан атомный зонд — прибор, позволяющий определять химическую природу и пространственное положение любого из атомов образца. Рассмотрены явления полевой ионизации, полевого испарения, лежащие в основе работы полевого ионного ми...

Наумов Д.А. Изготовление оптики для любительских телескопов-рефлекторов и ее контроль

  • формат pdf
  • размер 5.06 МБ
  • добавлен 30 августа 2010 г.
Издательство: Наука. 1988г. 160 с. Серия: Библиотека любителя астрономии. Популярный рассказ о всех этапах изготовления оптики для любительского телескопа - рефлектора. Рассмотрены вопросы общей теории формирования изображения в оптической системе, методы расчета оптических схем, способы изготовления и контроля оптических поверхностей, описываются различные типы окуляров и даются рекомендации по их использованию. Для членов астрономических круж...

Никольский К.Н., Батурин А.С. и др. (сост.) Растровый электронный микроскоп. Лабораторная работа

Практикум
  • формат pdf
  • размер 1 МБ
  • добавлен 07 ноября 2011 г.
М.: издательство МФТИ, 2003.- 40 с. Данная лабораторная работа направлена на ознакомление студентов с физическими принципами функционирования растрового электронного микроскопа (РЭМ) и основными методиками измерения. Экспериментальная часть работы заключается в изучении растрового электронного микроскопа Jeol JSM-840, в том числе: ? получение изображения образца в различных режимах работы микроскопа: в режиме сбора истинно вторичных электронов...

Пантелеев В.Г. и др. Компьютерная микроскопия

  • формат pdf
  • размер 6.23 МБ
  • добавлен 07 января 2011 г.
Москва, Техносфера, 2005. - 304 с. С появлением микроскопа открылась возможность увидеть «невидимое», а с появлением видеокамер и компьютера стало возможным зафиксировать полученные данные и проанализировать их с целью получения объективной количественной информации. В результате соединения этих составляющих был разработан новый прибор — анализатор изображений. За последние 10 лет анализаторы изображений получили широкое распространение в биологи...

Скворцов Г.Е., Панов В.А., Поляков Н.И., Федин Л.А. Микроскопы

  • формат djvu
  • размер 10.65 МБ
  • добавлен 16 ноября 2011 г.
Ленинград «Машиностроение» 1969, 512с. В книге описаны геометрическая теория микроскопа и волновая теория образования в нем изображения. Приведены принципиальные оптические схемы различных типов микроскопов, рекомендации по выбору объектива и окуляра для визуального наблюдения и микрофотографирования; рассмотрены вопросы освещенности изображения и потери света в микроскопах; основные типы источников и приемников излучения, применяемых в микроско...

Хейденрайх Р. Основы просвечивающей электронной микроскопии

  • формат pdf
  • размер 20.42 МБ
  • добавлен 27 февраля 2011 г.
М., "Мир", 1966. Электронная микроскопия является одним из мощных методов научного исследования и в настоящее время плодотворно применяется в физике, химии, биологии, технике. Предлагаемая книга извеетного американского физика Р. Хейденрайха посвящена теории просвечивающей (трансмиссионной) электронной микроскопии. В ней систематически изложены теоретические основы методов получения изображения кристаллических и аморфных объектов. Подробно рас...

Knoll G.F. Radiation Detection and Measurement

  • формат pdf
  • размер 20.58 МБ
  • добавлен 10 января 2011 г.
Wiley, 3-d edition, 2000, 816 p. Классический учебник по курсу "Регистрация и измерение ионизирующего излучения" в обновленном и расширенном третьем издании предоставит читателю четкое представление о методах и приборах, используемые для обнаружения и измерения характеристик различных видов проникающей радиации. Книга представляет углубленное освещение основных принципов обнаружения радиации, а также в полной мере иллюстрирует применение совреме...