Мюллер Э.В., Цонг Т.Т. Полевая ионная микроскопия

формат djvu
размер 3.76 МБ
добавлен 21 марта 2011 г.

М.: «Наука», 1980 г. , 220 стр.
Монография отражает новейшие достижения полевой ионной (автоионной) микроскопии - единственной методики, обеспечивающей прямое наблюдение атомов поверхности твердого тела. Впервые подробно описан атомный зонд — прибор, позволяющий определять химическую природу и пространственное положение любого из атомов образца. Рассмотрены явления полевой ионизации, полевого испарения, лежащие в основе работы полевого ионного микроскопа и атомного зонда. Обсуждены научные приложения полевой ионной микроскопии и атомного зонда. Книга написана ведущими в мире специалистами по полевой ионной микроскопии:
основателем этой методики профессором Э. Мюллером и профессором Т. Цонгом.
Краткое содержание:
Новые приборы и методики: усиление яркости изображения, атомный зонд.
Полевая ионизация и процесс изображения: основной физический механизм, теория полевой ионизации, адсорбция благородных газов, энергетическое распределение.
Полевое испарение: основной механизм, модель сил изображения, скорость испарения.
Некоторые приложения: поверхностная диффузия, атомная реконструкция поверхности.
Дополнение.

Похожие разделы

Смотрите также

Берман Г.П., Боргонови Ф., Горшков В.Н., Цифринович В.И. Магнитно-резонансная силовая микроскопия и односпиновые измерения

формат djvu
размер 8.5 МБ
добавлен 14 августа 2011 г.

Москва-Ижевск: R&C Dynamics, 2010, 196 с. ISBN 978-5-93972-811-9. Мaгнитно-резонансная силовая микроскопия (МРСМ) - быстро развивающаяся область, которая зародилась в 1990-e гoды и не так давно достигла зрелости, объявив о первой регистрации спина единичногo электрона, находящегoся внутри непрозрачногo твердогo вещества. Дальнейшее развитие методов МРСМ окажет oгpoмнoe влияние на многие отрасли науки и техники, включающие физику, химию, биол...

Вайнштейн Б.К. Электронная микроскопия атомного разрешения

Статья

формат pdf
размер 2.99 МБ
добавлен 04 ноября 2011 г.

Статья. Опубликована в Успехах Физических Наук (Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН) - 1987 г. Май. - Том 152, вып. 1 - с. 75-122 УДК 537.533.35 Электронно микроскопическое изображение. Рассеяние электронов объектом. Кинематическое приближение. Дифракция от кристалла. Функция прохождения. Изображение. Фазовый и амплитудный контраст. Передаточная функция. Светлопольное изображение. Темнопольное изображение. Микродифракция. Просве...

Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности

формат djvu
размер 5.52 МБ
добавлен 12 июля 2010 г.

М., Мир, 1989. -564с. В книге излагаются физические основы более двадцати современных методов исследованния поверхности (дифракция медленных электронов, ионная и электронная спектроскопия и т. д. ).

Гоулдстейн Дж., Яковица Х. Практическая растровая электронная микроскопия

формат pdf
размер 36.5 МБ
добавлен 20 мая 2010 г.

М: Мир, 1978, 656 с. В книге подробно изложены различные аспекты растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Рассмотрены электронная оптика приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, формирование изображения и контраст, проблема разрешения, рентгеновские спектры и количественный микроанализ, методы приготовления образцов, а также ряд более специальных вопросов. Книга представляет интерес для материаловедов, химиков...

Гоулдстейн и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 2

формат djv
размер 9.16 МБ
добавлен 13 июля 2010 г.

349 с. 1984 г. Во второй книге монографии изложена методика проведения количественного рентгеновского микроанализа с многочисленными примерами и практическими рекомендациями, а также техника подготовки различных объектов для последующего их исследования в РЭМ и РМА. Рассмотрены вопросы нанесения специальных покрытий, особенности исследования биологических (влагосодержащих) образцов и т. д. Книга представляет интерес для физиков, химиков, материал...

Заблоцкий А.В., Тимофеев А.А., Коростылёв Е.В., Кузьмин А.А. Электронная микроскопия в нанодиагностике

формат pdf
размер 12.75 МБ
добавлен 04 ноября 2011 г.

Учебное пособие. - М.: Издательство МФТИ, 2011. - 144 с. Целью данного пособия является ознакомление основными методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, устройством и принципом работы микроскопов и формированием изображении электронно-оптической системой. Читатели ознакомятся со способами интерпретации изображений, спектров характеристического рентгеновского излучения, спектров катодолюминесценции, расшифровки картин дифракции...

Лекции - Современные методы исследования конденсированных материалов

Статья

формат pdf
размер 1.71 МБ
добавлен 20 марта 2011 г.

2008, 78с. Белорусский государственный университет. Физический факультет. Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники. Для специализации G 1. 31.04.01.01.06 Физика полупроводников и диэлектриков, G 1. 31.04.01.01.14 Новые материалы и технологии, G 1. 31.04.01.01.17 Микроэлектроника. Содержание Основные понятия. Методы изучения электрических характеристик. Измерение удельного сопротивления. Измерение э. д. с. Холла и магнитосопротивления...

Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии

формат djvu
размер 7.37 МБ
добавлен 19 июня 2010 г.

М., Техносфера 2005 г. 144 стр. Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур – сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), атомно-силовая микроскопия (АСМ), электросиловая микроскопия (ЭСМ), магнитно-силов...

Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии

формат pdf
размер 3.17 МБ
добавлен 02 февраля 2010 г.

Учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений. Российская академия наук, Институт физики микроструктур - г. Нижний Новгород, 2004 г. Книга представляет собой учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений, посвященное одному из самых современных методов исследования поверхности твердого тела – сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое...

Хейденрайх Р. Основы просвечивающей электронной микроскопии

формат pdf
размер 20.42 МБ
добавлен 27 февраля 2011 г.

М., "Мир", 1966. Электронная микроскопия является одним из мощных методов научного исследования и в настоящее время плодотворно применяется в физике, химии, биологии, технике. Предлагаемая книга извеетного американского физика Р. Хейденрайха посвящена теории просвечивающей (трансмиссионной) электронной микроскопии. В ней систематически изложены теоретические основы методов получения изображения кристаллических и аморфных объектов. Подробно рас...