Классификация интегральных микросхем, Подготовительные операции,
Базовые элементы бис и сис, Особенности производства и применяемых
расходных материалов.
Основы проектирования маршрутной технологии кристаллов бис и сис. Анализ и синтез технологических маршрутов.
Моделирование производства кристаллов бис и сис. Методы и алгоритмы моделирования базовых технологических операций.
Методы и алгоритмы численного физико-Топологического моделирования полупроводниковых структур.
Управление качеством в проектировании и производстве бис и сис. Обеспечение параметров и стандартов качества на этапе проектирования.
Механизмы деградации элементов структуры бис и сис. Факторы, Влияющие на выход годных кристаллов.
Системное проектирование блока микромонтажных операций.
Методы автоматизированного проектирования электрической схемы и топологических чертежей бис.
Основы бездефектного проектирования топологического чертежа бис.
Модели и библиотеки для синтеза топологического чертежа бис.
Основы проектирования маршрутной технологии кристаллов бис и сис. Анализ и синтез технологических маршрутов.
Моделирование производства кристаллов бис и сис. Методы и алгоритмы моделирования базовых технологических операций.
Методы и алгоритмы численного физико-Топологического моделирования полупроводниковых структур.
Управление качеством в проектировании и производстве бис и сис. Обеспечение параметров и стандартов качества на этапе проектирования.
Механизмы деградации элементов структуры бис и сис. Факторы, Влияющие на выход годных кристаллов.
Системное проектирование блока микромонтажных операций.
Методы автоматизированного проектирования электрической схемы и топологических чертежей бис.
Основы бездефектного проектирования топологического чертежа бис.
Модели и библиотеки для синтеза топологического чертежа бис.