Киев, Издательство "Наукова Думка", 1986 год - 180 стр.
В книге систематизированы и обобщены результаты разработок методов прогнозирования надежности полупроводниковых лавинных диодов и исследование механизмов их деградации. Авторы опираются на собственные исследования и разработки в этой области. Проанализированные различные механизмы деградации полупроводниковых лавинных диодов с p - n переходом, гетеропереходом. Рассмотрены пути повышения их надежности. Для облегчения понимания процессов деградации лавинных диодов приведено краткое изложение физических основ лавинного размножения и результатов экспериментального изучения параметров, характеризующих процесс ударной ионизации в полупроводниках.
Книга предназначена для научных работников и инженеров, связанных с использованием и исследованием лавинных диодов, а также студентам и аспирантам ВУзов.
В книге систематизированы и обобщены результаты разработок методов прогнозирования надежности полупроводниковых лавинных диодов и исследование механизмов их деградации. Авторы опираются на собственные исследования и разработки в этой области. Проанализированные различные механизмы деградации полупроводниковых лавинных диодов с p - n переходом, гетеропереходом. Рассмотрены пути повышения их надежности. Для облегчения понимания процессов деградации лавинных диодов приведено краткое изложение физических основ лавинного размножения и результатов экспериментального изучения параметров, характеризующих процесс ударной ионизации в полупроводниках.
Книга предназначена для научных работников и инженеров, связанных с использованием и исследованием лавинных диодов, а также студентам и аспирантам ВУзов.