Селюженок Н. А. Наноструктурированные пленки на основе
аморфного гидрогенизированного кремния для оптоэлектроники.
Ахмеджанов А. Т. Получение и анализ газочувствительных и фо-
точувствительных наноструктурированных слоев на основе халькогени-
дов и оксидов элементов 4 группы».
2008
Канагеева Ю. М. Анализ фотоприемных монокристаллических и
поликристаллических слоев на основе халькогенидов свинца методами
атомно-силовой микроскопии.
Петровская А. Н. Определение энергетического спектра гетеро-
структур с квантовыми ямами в системе In
x
Ga
1–x
As/GaAs по данным
спектроскопии адмиттанса.
Савенко А. Ю. Исследование процессов локально-селективной
обработки материалов и элементов электронной техники наноразмер-
ным ионным пучком.
Трушлякова В. В. Тополого-схемотехнический анализ кристаллов
интегральных микросхем при решении задач реинжениринга.
Матузов А. В. Технология структур «карбид кремния – кремний»
для приборов микроэлектроники и микросистемной техники.
2009
Грачева И. Е. Полупроводниковые сетчатые наноструктуриро-
ванные композиты на основе диоксида олова, полученные золь-гель-
методом, для газовых сенсоров.
Спивак А. М. Получение и исследование тонких пленок нитрида
алюминия и фотоприемных структур на их основе.
Хосама Елдин Хелми Фатхалла Хегази. Собственное оптическое по-
глощение и люминесценция твердых растворов полупроводников А
3
В
5
.
Спицын А. С. Оптические свойства фотонных кристаллов и вол-
новедущих структур на их основе.
2010
Бохов О. С. Физико-технологические основы разработки тепло-
физических микросхем на основе периодических тепловых процессов.
Аньчков Д. Г. Влияние адсорбции газов на поверхностную элек-
тронную проводимость оксидных полупроводников.