Методы исследования наноматериалов

М.: Научный мир, 2012. — 392 с. Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для...

Андреева О.В., Андреева Н.В., Дроздов А.А., Кузьмина Т.Б., Исмагилов А.О., Чигрин Р.Н. — Учебное пособие – СПб: Университет ИТМО, 2016. – 30 с. Учебное пособие включает описание лабораторных работ по определению размеров наночастиц в жидких суспензиях и эмульсиях методом динамического рассеяния света. Даны методические материалы, необходимые студентам для выполнения лабораторных работ и представления отчётов. Предназначено для студентов, обучающи...

Лабораторный практикум: М.: НИЯУ МИФИ, 2011. – 96 с. Лабораторный практикум посвящен изучению свойств пленок, наноструктур, наноматериалов с помощью сканирующей зондовой микроскопии, при этом существенное внимание уделено технологических процессам получения образцов для таких исследований. Лабораторный практикум выполняется в режиме как локального, так и удаленного доступа интерактивного учебно-научного комплекса для выполнения работ по исследова...

Учебное пособие. — СПб.: Университет ИТМО, 2015. — 130 с. Описаны основные методики исследования материалов фотоники. Приведены описания микроскопических, рентгеновских и оптических методов исследования структуры и свойств материалов. Описаны принципы работы и различные схематические решения установок для изучения свойств материалов. Рекомендовано Учебно-методическим объединением вузов Российской Федерации по образованию в области приборостроения...

Учебное пособие. — Казань: КНИТУ, 2014. — 84 с. Приводятся краткие теоретические сведения о строении, свойствах, применении и методах определения наноструктурированных сред и использовании этих знаний и умений для прогнозирования новых структур с заданными свойствами. Содержит также три практические работы, в которых используются тензиометрический и спектрофотометрический методы анализа. Предназначено для студентов химико-технологических специаль...

Учебное пособие. — Казань: КНИТУ, 2013. — 88 с. Кратко изложены основы сертификации, в том числе и лиотропной нанопродукции, а также современные методы исследования, в частности, метод малоуглового нейтронного рассеивания в сочетании с компьютерным моделированием. Предназначено для студентов, обучающихся по направлениям подготовки "Стандартизация и сертификация", "Управление качеством", "Наноматериалы", а также для специалистов, работающих в обла...

Методические указания к выполнению лабораторных работ по курсу «Методы и оборудование для диагностики структуры и свойств наноматериалов» для студентов технических и естественно-научных специальностей. - Томск, ТПУ, 2011. – 23 с. Цель работы: ознакомиться с существующими методами определения твердости и получить практические навыки в определении микротвердости керамических материалов.

Екатеринбург, УрГУ им. А. М. Горького, 2008. Учебно-методический комплекс Цель дисциплины - сформировать у студентов качественные и количественные представления о явлениях на атомном и наномасштабном уровне, происходящих на поверхности раздела фаз газ - твердое тело. На основе анализа экспериментальных данных, используя современные методы теоретической физики, рассмотреть основные законы и уравнения, используемые при описании процессов, происходя...

Троян В.И., Пушкин М.А., Борман В.Д., Тронин В.Н. Учебное пособие. - М.: МИФИ, 2008. - 260 с. Распознано В книге представлены физические основы экспериментальных методов, являющихся базовыми в исследованиях наноструктур и поверхности твердого тела: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, оже-электронная спектроскопия, спектроскопия рассеяния медленных ионов, сканирующая зондовая микроскопия и дифракция медленных эленктронов. Набор этих метод...

М.: Техносфера, 2004. - 384 с. Распознано Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно чётко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу инженеров и студентов, занимающ...

М.: Техносфера, 2004. — 384 с. — ISBN 5-94836-018-0. Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно чётко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу инженеров и студенто...

Учебное пособие (Лабораторный практикум) / М.А. Бубенчиков, Е.Э. Газиева, А.О. Гафуров, Г.С. Глушков, Д.С. Жданов, Д.В. Саньков, В.И. Сырямкин, С.В. Шидловский, А.В. Юрченко; Под ред. д.т.н., профессора В.И. Сырямкина. — Томск: Изд-во Том. ун-та, 2010. — 366 с. Учебное пособие посвящено актуальным методам и средствам исследования материалов и нанотехнологий и ориентировано на учебную дисциплину «Современные методы исследования в материаловедении»...

Учебное пособие по курсу "Современные методы исследования структуры материалов". — М.: Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2010. — 31 с. 300 dpi, ч/б, OCR В пособии рассмотрены способы, используемые для оценки твердости нанопокрытий. Для студентов специальности "Материаловедение в машиностроению", специализации «Наноматериалы» и слушателей Межотраслевого института повышения квалификации кадров по новым направлениям развития техники и технологии МГТУ им...

Москва, МИСиС, 2009. - 145 с. В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей э...

Лабораторный практикум. — СПб: Университет ИТМО, 2016. — 57 с. Лабораторный практикум предназначен для бакалавров факультета фотоники и оптоинформатики, обучающихся по профилю «Физика наноструктур» по направлению подготовки 12.03.03 «Фотоника и оптоинформатика» и содержит описание лабораторных работ к дисциплине «Фотофизика наноструктур». Практикум также может быть рекомендован студентам старших курсов физико-технических специальностей, а также м...

Под редакцией заслуженного деятеля науки РФ, Член-корреспондента РАН, профессора, В.А. Шахнова. — Москва: МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2009. — 58 с. — (Библиотека Наноинженерии). Комплект учебно-методического обеспечения для подготовки бакалавров и магистров по программам высшего профессионального образования направления подготовки «Нанотехнология» с профилем подготовки "Наноинженерия" Представлено учебно-методическое обеспечение поддержки подготовки м...

Учебное пособие. — Казань: Изд-во КНИТУ, 2014. — 184 с. Рассмотрены основные методы исследования структуры материалов, параметры микроструктуры и способы ее визуализации. Особое внимание уделено методам микроскопии, применяемым в материаловедении, таким как оптическая, электронная и зондовая. Приведены сведения о дополнительных и специальных микроскопических методах. Предназначено для студентов всех форм обучения по направлениям подготовки 152200...

Учебное пособие. — СПб., СПбГУ, 2010. — 71 с. Пособие содержит теоретические основы сканирующей зондовой микроскопии и физические принципы атомно-силовой и туннельной микроскопии. Приводится описание лабораторного стенда на основе сканирующего мультимикроскопа СММ 2000 и лабораторных работ с последующей обработкой полученных результатов. Приобретенные в ходе выполнения работ навыки позволят студентам в дальнейшем самостоятельно работать на подобн...

Методические указания для выполнения лабораторных работ для студентов очной и заочной форм обучения направления 240100 «Химическая технология и биотехнология». - Екатеринбург, УГЛТУ, 2011. - 17 с. Активные угли относятся к нанопористым материалам, поскольку имеют в своей структуре поры размером от десятых долей нанометра до 100 нм и более. Анализ активных углей Определение влажности Определение суммарного объема пор по воде Определение насыпной п...

Методические указания к выполнению лабораторных работ по курсу "Отрасли наноиндустрии. Области применения наноматериалов" для магистрантов, обучающихся по направлению 150600 "Материаловедение и технология новых материалов". - Томск, ТПУ, 2010. - 16 с. Цель работы: получение навыков работы на учебно-исследовательском сканирующем зондовом микроскопе "Nanoeducator" Введение Теоретическая часть Экспериментальная часть Подготовка зондового датчика С...

Екатеринбург, УГУ им. А. М. Горького, 2007. Учебно-методический комплекс. Рассмотрены вопросы дифракции рентгеновских лучей и нейтронов на нанокристаллах. Описаны методы определения размеров кристаллитов (Фурье-синтез, малоугловое рассеяние), определение толщины и числа слоев в сверхрешетках (рентгеновская рефлектометрия), малоугловое рассеяние нейтронов наноматериалами. УМКД включает программу дисциплины, курс лекций, методические указания, экз...

Учебно-методическое пособие. - Ростов-на-Дону, ЮФУ, 2008. - 30 с. В учебно-методическом пособии изучаются различные методы сканирующей зондовой микроскопии. Рассматриваются физические основы методов и возможности применения конкретной методики к конкретному материалу. Рассмотрены достоинства и недостатки методов.

М.: МФТИ, 2011. — 160 с. — ISBN 978-5-8493-0218-8 Учебное пособие «Приборы и методы зондовой микроскопии» содержит подробное описание зондовых микроскопов, их принципов работы и применениям в изучении объектов нанотехнологий. Отдельные разделы пособия посвящены сканирующей туннельной, атомно- силовой и оптической ближнепольной микроскопии. Особое внимание в пособии уделено метрологическому обеспечению зондовой микроскопии. Для студентов старших к...

Учебно-методический материал по программе повышения квалификации «Физико-химические основы нанотехнологий». - Нижний Новгород, ННГУ, 2007. - 77 с. Рассматриваются методы визуализации пространственного распределения локальной плотности электронных квантовых состояний низкоразмерных структур и отдельных атомов с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Излагаются основы теории сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии. Описаны результаты...

Электронное учебно-методическое пособие. – Нижний Новгород, ННГУ, 2012. – 80 с. В учебно-методическом пособии рассмотрены основные виды приборов на спинзависимых эффектах, материалы, наиболее часто используемые для их изготовления. Описаны основные методы исследования полупроводниковых приборов, а также дополнительные методы исследования спин-зависимых характеристик. Рассмотрены основные гальваномагнитные явления в твердых телах (эффект Холла) и...

Специальность 01.04.07 — физика конденсированного состояния Автореферат диссертации дфмн – М. : 2010. – 47 с. Электронная микроскопия является мощным и практически единственным методом, позволяющим напрямую визуализировать, контролировать и целенаправленно изменять структуру тонких сегнетоэлектрических пленок и слоев металлизационных систем при формировании многослойных композиций, осуществляя тем самым последовательное продвижение вперед в созда...

Монография. Перевод с английского Иванова С.А. и Домкина К.И. под редакцией Каминской Т.П. — М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013. — 582 с. — ISBN 978-5 -9963-2123 -0 Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъекгов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией изве...

Монография под ред. У. Жу, Ж.Л. Уанга; пер. с англ. — М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013. — 582 с. — ISBN 978-5-9963-1110-1 Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъекгов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видн...

Автореферат. диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук. -Тамбов. 2007. Работа выполнена на кафедре «Материалы и технология» ГОУ ВПО «Тамбовский государственный технический университет». Научный руководитель: Чернышов Владимир Николаевич. Цель работы. Разработка, исследование и внедрение в практику нового метода обнаружения и идентификации нанообъектов в различных состояниях и средах по их энергетическим характеристикам.

Учебное пособие. — М.: МИЭТ, 2011. — 256 с. — ISBN 978-5-7256-0658-4 Изложены основные вопросы метрологии с акцентом на ее прикладные аспекты. Представлен и разобран ряд методически и практически важных экспериментальных методов и измерительных методик. Значительное внимание уделено постановке эксперимента, процедурам и схемам измерений, анализу причин и физических эффектов, влияющих на точность измерений, определяющих их корректность. Должное вн...

ИХС РАН, СПб., Пугачев К.Э., 2014 г., 40 слайдов. Дисциплина «Методы исследования наноматериалов». Физические основы метода АСМ; Кантилеверы; Защитные покрытия на углеродные материалы; Исследование причин обрыва стекловолокна; Пленочные газовые сенсоры.

Учебное пособие. — Екатеринбург: Уральский государственный университет им. А.М. Горького, ИОНЦ "Нанотехнологии и перспективные материалы" [Электронный ресурс], 2008. — 143 с. Общая характеристика процесса измерений. Виды и методы измерений. Физические величины и единицы измерения. О погрешностях измерения. Основные понятия. Оценка погрешностей прямых измерений. Оценка погрешностей косвенных измерений. Средства измерений. Средства измерений. Класс...

Екатеринбург: Уральский государственный университет им. А. М. Горького, ИОНЦ "Нанотехнологии и перспективные материалы" [Электронный ресурс], 2008. — 4 с. Вопросы для самоконтроля по курсу Методы измерений электрических и магнитных свойств функциональных материалов.

Екатеринбург: Уральский государственный университет им. А. М. Горького, ИОНЦ "Нанотехнологии и перспективные материалы" [Электронный ресурс], 2008. — 8 с. Общие сведения о курсе и его структуре Рекомендации по изучению курса

Екатеринбург: Уральский государственный университет им. А. М. Горького, ИОНЦ "Нанотехнологии и перспективные материалы" [Электронный ресурс], 2008. — 9 с. Программа дисциплины «Методы измерений электрических и магнитных свойств функциональных материалов» составлена в соответствии с требованиями вузовского компонента к обязательному минимуму содержания и уровню подготовки: дипломированного специалиста по специальности физика, 010701 (название, шиф...

Екатеринбург: Уральский государственный университет им. А. М. Горького, ИОНЦ "Нанотехнологии и перспективные материалы" [Электронный ресурс], 2008. — 5 с. Билеты к экзамену по курсу Методы измерений электрических и магнитных свойств функциональных материалов.

Екатеринбург: Уральский государственный университет им. А.М. Горького, ИОНЦ "Нанотехнологии и перспективные материалы", 2008. — 17 с. Методические указания специальной дисциплины «Исследование наноматериалов методами сканирующей электронной микроскопии» составлены в соответствии с требованиями регионального компонента к обязательному минимуму содержания и уровню подготовки бакалавров по направлению 210600—«Нанотехнология» по циклу «Специальные ди...

Екатеринбург: Уральский государственный университет им. А. М. Горького, ИОНЦ "Нанотехнологии и перспективные материалы", 2008. — 13 с. Программа специальной дисциплины «Исследование наноматериалов методами сканирующей электронной микроскопии» составлены в соответствии с требованиями регионального компонента к обязательному минимуму содержания и уровню подготовки бакалавров по направлению 210600 «Нанотехнология» по циклу «Специальные дисциплины и/...

Курск: Юго-Зап. гос. ун-т, 2013. — 78 с. — ISBN 978-5-905556-81-4 Предназначено для студентов специальностей 210600.62 «нанотехнология», 222900.62 «нанотехнологии и микросистемная техника» при изучении дисциплин: "Методы и приборы для изучения, анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов" и "Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем". Приводится описание устройства и физического принципа действия основных типов мас...

Учебное пособие. - Москва, МИТХТ им. М.В.Ломоносова, 2010. - 80 с. В учебном пособии представлены основные понятия, специфика объектов исследования, классификация физических методов и теоретические основы рентгеновского эксперимента. Главное внимание уделено особенностям нанообъектов и их методов изучения. Для студентов магистратуры, изучающих дисциплины "Методы исследования реальной кристаллической структуры", "Дифракционные методы исследовани...

Учебное пособие. - М.: МИТХТ им. М.В.Ломоносова, 2010. - 80 с. В учебном пособии представлены результаты изучения наиболее перспективных в настоящее время нанообъектов (углеродные наноструктуры, диоксиды титана) комплексом методов, основными из которых являются рентгенографические. Для студентов магистратуры, изучающих дисциплины "Методы исследования реальной кристаллической структуры", "Дифракционные методы исследования кристаллических материало...

БГТУ, 2008, 38 стр. дисциплина - Наносистемы в строительном материаловедении Введение Историческая справка Просвечивающая электронная микроскопия Источники электронов Система освещения Коррекция астигматизма Вспомогательное оборудование для ОПЭМ Применение просвечивающего электронного микроскопа Небиологические материалы Биологические препараты Высоковольтная микроскопия Радиационное повреждение Современные виды ПЭМ Заключение Список литератур...

Учебное пособие. - Воронеж, ВГУ, 2006. - 40 с. Учебное пособие по курсу «Химия наноразмерных частиц» подготовлено на кафедре неорганической хими и химического факультета Воронежского государственного университета и кафедре химии Воронежского государственного архитектурно-строительного университета. Введение. Спектры испускания лучей. Дифракция рентгеновских лучей. Идентификация вещества по межплоскостным расстояниям. Количественный фазовый анализ...

Диссертация на соискание учёной степени кандидата технических наук. - Москва, ФГУП «НИИФП им. Ф. В. Лукина», 2002. - 111 с. Специальность 05.27.01 - Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро - и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах. Введение 1 Метод объектно-ориентированного сканирования 1.1 Сравнительный анализ систем и методов точного позиционирования 1.2 Ключевая идея метода 1.3 Базовые понятия и определения 1....

Статья. Опубликована в УФН. Обзоры актуальных проблем 2011. Т.181, №4 с.365-387. Температура (внутренняя энергия) кластеров и наночастиц - это важный физический параметр, от которого зависят многие свойства указанных частиц и характер процессов с их участием. В то же время определение температуры свободных кластеров и наночастиц в молекулярных пучках — довольно сложная проблема, поскольку температура небольших частиц зависит от их размера. Предст...

Автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. - Ижевск, УдГУ, 2003. - 24 с. Специальность 01.04.01. – Приборы и методы экспериментальной физики. Цель работы состояла в развитие метода РЭС для исследований химического строения металлоуглеродных кластерных наноматериалов. Несмотря на огромное число теоретических и экспериментальных работ по изучению углеродных кластерных наносистем до сих пор нет едино...

Учебно-методический материал по программе повышения квалификации «Физико-химические основы нанотехнологий». - Нижний Новгород, ННГУ, 2007. - 89 с. В пособии дано описание принципов работы и основных характеристик компонентов оптических спектроскопических систем (источников и детекторов излучения, спектральных приборов). Рассмотрен ряд методов оптической и фотоэлектрической спектроскопии твердых тел и твердотельных наноструктур, в частности, изме...

Учебное пособие. — СПбГПУ, 2011. — 190 с. Предлагаемое учебное пособие ставит целью ознакомить студентов с основами наиболее востребованных методов электронной и ионной спектроскопии, широко применяющимися для анализа материалов, структур и компонентов электронной техники в микро и наномасштабе В пособии описываются методы электронной и ионной спектроскопии для анализа поверхности, особенности их реализации для исследования полупроводниковых мате...

Авторы - д.ф.-м.н., проф.Ильин А.П., к.х.н. Коршунов А.В., к.х.н. Перевезенцева Д.О., к.т.н. Толбанова Л.О. Национальный исследовательский Томский политехнический университет Кафедра общей и неорганической химии 24 с. Представлена классификация методов получения нанопродуктов, виды нанодисперсных структур. Детально рассмотрена электровзрывная технология получения нанопорошков металлов и сплавов (Ag, Al, Cu, Fe, Ni, W, Ni-Cr, Al-Cu, Al-B, W-Al, Cu...

Киев: Академпериодика, 2005. – 361 с. Монография описывает один из революционных прорывов в физике и посвящается всемирному году физики. В монографии анализируются новые уникальные возможности диагностики дефектов и характеристик основных структурных параметров наносистем на основе использования созданных в Институте металлофизики им. Г. В. Курдюмова НАН Украины и имеющих мировой приоритет кинематической (М. А. Кривоглазом) и динамической (В. Б....

Учебное пособие. СПб.:Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ». 2012. 172 с. ISBN 978-5-7629-1243-3 Авторы: О.А. Александрова, П.А. Алексеев, И.Е. Кононова, А.И. Максимов, Е.В. Мараева, В.А. Мошников, Е.Н. Муратова, С.С. Налимова, Н.В. Пермяков, Ю.М. Спивак, А.Н. Титков Содержит систематизированные и оформленные в виде лабораторных работ оригинальные методики сканирующей зондовой микроскопии, разработанные на кафедре микро- и наноэлектроники СПбГЭТУ «ЛЭТИ» и в лабо...

Учеб. пособие СПб.: Изд-во СПбГЭТУ ЛЭТИ, 2009, 80 с. ISBN 978-5-7629-0908-8 Рассматриваются различные методы сканирующей зондовой микроскопии и их применение в нанотехнологии и диагностике Предназначено для студентов. обучающихся по магистерским образовательным программам "Нанотехнология и диагностика", "Нано-и микросистемная техника". Гриф УМО вузов РФ по образованию в области радиотехники, электроники, биомедицинской техники и автоматизации в к...

Учебное пособие. — СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2014. — 144 с. — ISBN 978-5-7629-1471-0 Рассматриваются различные методы атомно-силовой микроскопии и их применение в нанотехнологии и диагностике. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки магистров 210100.68 «Электроника и наноэлектроника» и по направлениям подготовки бакалавров 210100.62 «Электроника и наноэлектроника» и 222900.62 «Нанотехнологии и микросистемная техника»...

Учебно-методическое пособие. - Нижний Новгород, ННГУ, 2011. - 110 с. Рассматриваются физические основы методов электронной оже-спектроскопии, сканирующей оже-микроскопии и принципы работы растрового электронного микроскопа. Описана методика исследования морфологии поверхности и состава полупроводниковых наноструктур с нанометровым разрешением. Приведены данные анализа состава самоорганизованных кремний-германиевых систем и тонкопленочных структур...

Учебно-методическое пособие. — Нижний Новгород: Нижегородский госуниверситет, 2012. — 39 с. В пособии описаны фотоэлектрические методы диагностики энергетического спектра гетеронаноструктур с квантовыми ямами (КЯ) и точками (КТ) типа In(Ga)As/GaAs и их оптоэлектронных свойств. Рассмотрены физические основы возникновения фоточувствительности в области межзонного оптического поглощения квантово-размерных объектов. Обсуждаются закономерности влияния...

Томск, ТПУ, 2009. - 90 с. Курс лекций посвящен активно развивающейся в настоящее время проблеме диагностики свойств наноматериалов. Особое внимание уделено микроскопическим методам исследования структуры наноматериалов. Особое внимание уделено микроскопическим методам исследования структуры наноматериалов. Тестирование свойств объемных нанокристаллических материалов полностью соответствует критическим технологиям Федерального уровня "Нанотехнолог...

Учебно-методическое пособие. - Казань: Казанский (Приволжский) федеральный университет, 2012. - 21 с. Учебно-методическое пособие предназначено для студентов, приступивших к изучению спецкурсов "Материаловедение наноструктурированных материалов", "Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем", "Наноструктурные материалы и пленки". Задачей настоящей лабораторной работы, предназначенной для спецпрактикума "Материаловедение на...

Статья. Опубликована в журнале Российские Нанотехнологии — 2015. — №1-2 — С. 112-118. Были исследованы размеры ковалентно функционализированных белком G стрептококка и стрептавидином углеродных наночастиц, используемых в качестве диагностикумов при конструировании «point-of-care» тест-систем. Для оценки распределения частиц по размеру использовали атомно-силовую микроскопию (АСМ) и измерение обратного динамического светорассеяния (ИОДРС). Средний...

Институт физики микроструктур РАН, ГСП-105, Н.Новгород, 5 с. Ближнепольная (БП) микроскопия – это способ диагностики, разрешающая способность которого не зависит от рабочей длины волны устройства λ, а определяется размером апертуры зонда D. Уже к концу 1990-х были созданы БП микроскопы (БПМ) микронного и субмикронного разрешения. В самое последнее время появились первые образцы БПМ, имеющие D~30 нм. Для приборов диапазона СВЧ соотношение D/λ сост...

Учебно-методический комплекс для магистров по дисциплине. — М., 2010. – 154 с. Содержание Тексты лекций Введение Основы электронной просвечивающей микроскопии (ТЭМ) Применение электронной микроскопии в биологии, основы структурной протеомики. Устройство электронного микроскопа Подготовка образцов нанобиообъектов, способы получения электронно-микроскопического изображения Получение и обработка изображений нанообъектов Первичная обработка электронн...

ПНИПУ, Пермь, 2013. 29 стр. Содержание: Введение Термические методы анализа: общие сведения Термогравиметрия и дифференциальная термогравиметрия Дифференциальный термический анализ Дифференциальная сканирующая калориметрия Анализ выделенного газа Спектроскопические методы анализа Термодилатометрия Термомагнитный анализ Диэлектрический термический анализ Лазерный импульсный анализ Совмещение методов ТА с другими методами Заключение

Москва, МИФИ, 2008. - 260 с. В книге представлены физические основы экспериментальных методов, являющихся базовыми в исследованиях наноструктур и поверхности твердого тела: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, оже-электронная спектроскопия, спектроскопия рассеяния медленных ионов, сканирующая зондовая микроскопия и дифракция медленных эленктронов. Набор этих методов позволяет проводить исследования структурных, электронных и магнитных сво...

Учебное пособие. — М.: Можайский полиграфический комбинат оформление, 2011. — 184 с. — ISBN 978-5-8493-0200-3 Коллектив авторов: Троян В.И., Пушкин М.А., Борман В.Д., Тронин В.Н., Коростылев Е.В. Пособие посвящено методам определения химического состава различных материалов: рентгеновскому микроанализу, фотоэлектронной спектроскопии, оже-спектроскопии, ионной спектроскопии, спектроскопии потерь энергии электронами. При попытке применения этих ме...

Учебное пособие для студ. фак. Нано- и биомедицинских технологий. – Саратов, СГУ, 2008. - 204 с. Обобщены оригинальные результаты теоретических и экспериментальных исследований автодинных режимов работы полупроводниковых лазеров. Описаны осбенности формирования автодинного сигнала в условиях сильной и слабой обратной оптических связи, влияние токовой модуляции на форму и спектр автодинного сигнала, особенности восстановления параметров микро- и...

Учебное пособие для студ. фак. Нано- и биомедицинских технологий. – Саратов, СГУ, 2007. - 51 с. Учебное пособие представляет собой руководство к практическим занятия по курсу "Физика полупроводников». Содержит расширенное описание материала, знание которого необходимо при выполнении лабораторной работы по исследованию поверхности материалов методами сканирующей зондовой микроскопии. Для студентов, обучающихся по направлению «Электроника и микро...

Учебное пособие для студ. фак. Нано- и биомедицинских технологий. – Саратов, СГУ, 2006. - 23 с. Учебное пособие представляет собой руководство к практическим занятиям по курсу «Физика полупроводников». Содержит расширенное описание материала, знание которого необходимо при выполнении лабораторной работы по исследованию режимов получения полупроводниковых самоорганизованных нанокристаллитов (квантовых точек) в плазме СВЧ газового разряда низкого...

Учебное пособие. — СПб: НИУ ИТМО, 2014. — 127 с. В учебном пособии рассматриваются современные экспериментальные методы изучения наноструктур, включая электронную и атомно-силовую микроскопию, рентгеновскую спектроскопию, а также стационарную и нестационарную оптическую спектроскопию. Учебное пособие предназначено для обучения магистров по направлению 200700 «Фотоника и оптоинформатика» в рамках Магистерской программы 200700.68 «Физика нанострукт...

Новосибирск : СибГУТИ, 2016. - 61 с. Учебное пособие «Методы электронной микроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов электронной микроскопии определения физических и структурных свойств материалов. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника», профиль «И...

Новосибирск : СибГУТИ, 2016. - 66 с. Учебное пособие «Методы электронной спектроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов определения физических и структурных свойств материалов методами электронной спектроскопии. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника»...

В пособии обсуждаются проблемы рентгеноструктурного анализа нанокристаллических материалов, излагаются современные рентгенографические методики исследования наноразмерных и наноструктурированных систем. Рассматриваются особенности рентгеновской дифракции для 1D и 3D когерентных наноструктур. Пособие предназначено для магистрантов ФФ НГУ, обучающихся по специализации «Физические методы исследования твердого тела», а также студентов других кафедр и...

Монография. — Ижевск, УдГУ, 2012. — 250 с. Рассмотрено применение метода рентгеноэлектронной спектроскопии для исследования металл/углеродных наноматериалов, полученных в нанореакторах полимерных матриц в присутствии систем 3d-переходных металлов. Синтез металл/углеродных наноструктур зависит от содержания компонентов и заполнения d-оболочки металла. Изучены функционализация металл/углеродных наноструктур атомами фосфора, азота, d-металлов и меха...

Монография. — Тамбов, Издательство ФГБОУ ВПО "ТГТУ", 2013. — 144 с. Рассмотрены методы и средства контроля состояния конденсированных сред с наноструктурными компонентами, дана их классификация, показаны особенности контроля сред, содержащих наноструктурные объекты. Приведены физико-математические модели конденсированных сред, использующих описание структурных состояний, энергетических потоков и резонансных взаимодействий. Разработан комплекс ори...

Екатеринбург: ИОНЦ «Нанотехнологии и перспективные материалы», 2008, 32с. Руководство к лабораторным и практическим занятиям специальной дисциплины «Исследование наноматериалов методами сканирующей зондовой микроскопии» составлено в соответствии с требованиями регионального компонента к обязательному минимуму содержания и уровню подготовки бакалавров по направлению 210600 «Нанотехнология» по циклу «Специальные дисциплины и/или дисциплины специал...

10 с. Кратко описаны устройство и принцип действия электронных микроскопов, а также методы создания наноструктур с их помощью. Содержание Создание объектов по принципам «сверху-вниз» и «снизу-вверх» Электронные микроскопы Принцип работы просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) Сканирующие электронные микроскопы Туннельный эффект Сканирующий зондовый микроскоп Принцип работы сканирующего туннельного микроскопа Работа атомно-силового микроско...

Белгород, ГОУ ОШИ «Белгородский лицей-интернат», 15 стр., 2008 год. Работа на блиц-конкурс рефератов "Нанобиотехнология - наука XXI века" в рамках всероссийской школы-семинара "Нанобиотехнологии: проблемы и перспективы", Белгород, 11 декабря 2008 года. Концепция развития нанонауки нанотехнологии. Электронная микроскопия. Просвечивающая электронная микроскопия. Сканирующая электронная микроскопия. Зондовая микроскопия.

Статья. Опубликована в Журнале физическая химия. — 2010. Т.55 — №2 — С. 210-214 Проведена аттестация наночастиц палладия в жидкой фазе и в адсорбированном состоянии и и с использованием комбинации методов спектрофотометрии и СЗМ исследован процесс изменения их размеров и формы при осаждении на кремний. Металлический палладий применяется в химической промышленности в качестве катализатора многих органических реакций, прежде всего процессов гидри...

Springer-Verlag, Berlin, 2010, 956 pages This book presents the physical and technical foundation of the state of the art in applied scanning probe techniques. It constitutes a timely and comprehensive overview of SPM applications. The chapters in this volume relate to scanning probe microscopy techniques, characterization of various materials and structures and typical industrial applications, including topographic and dynamical surface studies...

Springer, 2010. 710 p. This book presents the physical and technical foundation of the state of the art in applied scanning probe techniques. It constitutes a timely and comprehensive overview of SPM applications. The chapters in this volume relate to scanning probe microscopy techniques, characterization of various materials and structures and typical industrial applications, including topographic and dynamical surface studies of thin-film semi...

World Scientific, 2007. 476 p. ISBN:9812707840 This seminal book unites three different areas of modern science: the micromechanics and nanomechanics of composite materials; wavelet analysis as applied to physical problems; and the propagation of a new type of solitary wave in composite materials, nonlinear waves. Each of the three areas is described in a simple and understandable form, focusing on the many perspectives of the links among the t...

WILEY-VCH, Verlag, 2010, 263 pages X-Rays in Nanoscience comprehensively explores the use of X-rays in the determination of surface structures by treating spectroscopy, microscopy, and scattering techniques, all of them using different methodology. With nanotechnology becoming increasingly important, this groundbreaking text covers methods that are indispensable for determining the structure of materials, making it an essential resource for ana...

Kluwer Academic Publishers, 2005, 731 pages Nanostructured materials take on an enormously rich variety of properties and promise exciting new advances in micromechanical, electronic, and magnetic devices as well as in molecular fabrications. The structure-composition-processing-property relationships for these sub 100 nm-sized materials can only be understood by employing an array of modern microscopy and microanalysis tools. Handbook of Micro...

Springer Science+Business Media, 2006, 522 pages Scanning electron microscopy (SEM) can be exploited not only for nanomaterials characterization but also integrated with new technologies for in-situ nanomaterials engineering and manipulation. Scanning Microscopy for Nanotechnology addresses the rapid development of these techniques for nanotechnology, in both technique and application chapters by leading practitioners. The book covers topics in...