Гусенко И.В. Изучение методов сканирующей зондовой микроскопии

Учебное пособие для Вузов. - М.: САЙНС-ПРЕСС, 2006, - 80 с., ил. ISBN 5-94818-001-5. В пособии изложены базовые моменты теории и практики формирования и исследований наноструктурированных материалов. Приведен анализ наноразмерных структур, особенностей их свойств, методов изготовления и возможностей применения в приборных устройствах. Рассмотрены принципиальные возможности применения опаловых матриц для получения наноразмерных структур. Приведен...

Москва, МИСиС, 2009. - 145 с. В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей э...

Методические указания к выполнению лабораторных работ по курсу "Отрасли наноиндустрии. Области применения наноматериалов" для магистрантов, обучающихся по направлению 150600 "Материаловедение и технология новых материалов". - Томск, ТПУ, 2010. - 16 с. Цель работы: получение навыков работы на учебно-исследовательском сканирующем зондовом микроскопе "Nanoeducator" Введение Теоретическая часть Экспериментальная часть Подготовка зондового датчика С...

Учебно-методический материал по программе повышения квалификации «Физико-химические основы нанотехнологий». - Нижний Новгород, ННГУ, 2007. - 77 с. Рассматриваются методы визуализации пространственного распределения локальной плотности электронных квантовых состояний низкоразмерных структур и отдельных атомов с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Излагаются основы теории сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии. Описаны результаты...

И. Е. Грачева, А. В. Гузь, А.А. Кальнин, С. С. Карпова, М. Г. Кунгуров, Л. Б. Матюшкин, В. А. Мошников, А. А. Пономарева, Ю. М. Спивак. Под ред. В. А. Мошникова. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2010. 94 с. Дано описание лабораторно-практических работ по образованию фракталов, золь-гель-технологии, атомно-силовой микроскопии, измерению газочувствительных структур с иерархией пор, анализу удельной поверхности порошковых и пористых материалов методом т...

Уч. пособие. М.: МГИЭТ (ТУ), 1996 год, 91 стр. (в файле 46 двойных) Под ред. С. Г. Зверева В книге изложены физические основы туннельно-зондовой нанотехнологии на базе сканирующих туннельных микроскопов, показаны основные достижения, обсуждаются проблемы, требующие решения. Предназначено для студентов старших курсов и аспирантв, желающих ознакомиться с новым научным направлением и опробовать свои силы в развитии технологии 21 века.

М. , МИЭТ, 2000 г. , 2-е исправл. и допол. изд. , 100 стр. Изложены физические основы зондовой нанотехнологии на базе сканирующих туннельных и атомно-силовых микроскопов, показаны основные достижения, рассмотрены примеры практического применения зондовых микроскопов, приведены экспериментальные данные, обсуждаются проблемы, требующие решения. Предназначено для студентов старших курсов и аспирантов.

Учебное пособие. - Владимир, ВлГУ, 2010. – 296 с. Пособие содержит основные сведения по метрологическому обеспечению различных технологических операций в сфере наноиндустрии. Рассмотрены становление в XX – XXI вв. и концепции развития нанометрологии. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологиче...

Учебное пособие для студ. фак. Нано- и биомедицинских технологий. – Саратов, СГУ, 2007. - 51 с. Учебное пособие представляет собой руководство к практическим занятия по курсу "Физика полупроводников». Содержит расширенное описание материала, знание которого необходимо при выполнении лабораторной работы по исследованию поверхности материалов методами сканирующей зондовой микроскопии. Для студентов, обучающихся по направлению «Электроника и микро...

Екатеринбург: ИОНЦ «Нанотехнологии и перспективные материалы», 2008, 32с. Руководство к лабораторным и практическим занятиям специальной дисциплины «Исследование наноматериалов методами сканирующей зондовой микроскопии» составлено в соответствии с требованиями регионального компонента к обязательному минимуму содержания и уровню подготовки бакалавров по направлению 210600 «Нанотехнология» по циклу «Специальные дисциплины и/или дисциплины специал...