М. , МИЭТ, 2000 г. , 2-е исправл. и допол. изд. , 100 стр. Изложены
физические основы зондовой нанотехнологии на базе сканирующих
туннельных и атомно-силовых микроскопов, показаны основные
достижения, рассмотрены примеры практического применения зондовых
микроскопов, приведены экспериментальные данные, обсуждаются
проблемы, требующие решения. Предназначено для студентов старших
курсов и аспирантов.