Усанов Д.А., Яфаров Р.К. Исследование поверхности материалов методом сканирующей туннельной микроскопии

формат pdf
размер 913.87 КБ
добавлен 02 августа 2011 г.

Учебное пособие для студ. фак. Нано- и биомедицинских технологий. – Саратов, СГУ, 2007. - 51 с.

Учебное пособие представляет собой руководство к практическим занятия по курсу "Физика полупроводников». Содержит расширенное описание материала, знание которого необходимо при выполнении лабораторной работы по исследованию поверхности материалов методами сканирующей зондовой микроскопии.

Для студентов, обучающихся по направлению «Электроника и микроэлектроника», специальностям «Физика твердого тела», «Физика», «Медицинская физика», «Материалы и компоненты твердотельной электроники», «Микроэлектроника и полупроводниковые приборы», "Микроэлектроника и твердотельная электроника», «Нанотехнологии в электронике".

Похожие разделы

Смотрите также

Булыгина Е.В., Макарчук В.В., Панфилов Ю.В., Оя Д.Р., Шахнов В.А. Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование

формат djvu
размер 3.54 МБ
добавлен 15 сентября 2011 г.

Учебное пособие для Вузов. - М.: САЙНС-ПРЕСС, 2006, - 80 с., ил. ISBN 5-94818-001-5. В пособии изложены базовые моменты теории и практики формирования и исследований наноструктурированных материалов. Приведен анализ наноразмерных структур, особенностей их свойств, методов изготовления и возможностей применения в приборных устройствах. Рассмотрены принципиальные возможности применения опаловых матриц для получения наноразмерных структур. Приведен...

Векилова Г.В., Иванов А.Н., Ягодкин Ю.Д. Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов

формат djvu
размер 4.41 МБ
добавлен 29 октября 2010 г.

Москва, МИСиС, 2009. - 145 с. В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей э...

Годымчук А.Ю., Двилис Э.С., Петюкевич М.С. Исследование поверхности наноматериалов с помощью сканирующей зондовой микроскопии

Практикум

формат pdf
размер 1.14 МБ
добавлен 02 сентября 2011 г.

Методические указания к выполнению лабораторных работ по курсу "Отрасли наноиндустрии. Области применения наноматериалов" для магистрантов, обучающихся по направлению 150600 "Материаловедение и технология новых материалов". - Томск, ТПУ, 2010. - 16 с. Цель работы: получение навыков работы на учебно-исследовательском сканирующем зондовом микроскопе "Nanoeducator" Введение Теоретическая часть Экспериментальная часть Подготовка зондового датчика С...

Гусенко И.В. Изучение методов сканирующей зондовой микроскопии

формат pdf
размер 551.97 КБ
добавлен 02 сентября 2011 г.

Учебно-методическое пособие. - Ростов-на-Дону, ЮФУ, 2008. - 30 с. В учебно-методическом пособии изучаются различные методы сканирующей зондовой микроскопии. Рассматриваются физические основы методов и возможности применения конкретной методики к конкретному материалу. Рассмотрены достоинства и недостатки методов.

Демиховский В.Я., Филатов Д.О. Исследование электронных состояний в низкоразмерных структурах методами сканирующей зондовой микроскопии

формат pdf
размер 2.17 МБ
добавлен 07 августа 2011 г.

Учебно-методический материал по программе повышения квалификации «Физико-химические основы нанотехнологий». - Нижний Новгород, ННГУ, 2007. - 77 с. Рассматриваются методы визуализации пространственного распределения локальной плотности электронных квантовых состояний низкоразмерных структур и отдельных атомов с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Излагаются основы теории сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии. Описаны результаты...

Коротаев А.Д.и др. Наноструктурные и нанокомпозитные сверхтвердые покрытия

Статья

формат pdf
размер 873.19 КБ
добавлен 02 июня 2011 г.

Статья. Опубликована в Физическая мезомеханика 8 5 (2005) с. 103-116, Библ. 47 наим. Методом электронной микроскопии, рентгсноструктурного анализа, измерения микро- и нанотвердости исследованы особенности взаимосвязи тонкой субструктуры с изменением прочностных свойств однофазных (TiN) и нанокомпозитных покрытий (TiN/Cu, AIN/Cu, Ti-Si-B-N) вблизи поверхности сопряжения с подложной и на поверхности покрытия. Показано, что в покрытиях TiN, TiN/Cu,...

Наноматериалы: лабораторный практикум под ред. В.А. Мошникова

Практикум

формат pdf
размер 1.62 МБ
добавлен 22 сентября 2011 г.

И. Е. Грачева, А. В. Гузь, А.А. Кальнин, С. С. Карпова, М. Г. Кунгуров, Л. Б. Матюшкин, В. А. Мошников, А. А. Пономарева, Ю. М. Спивак. Под ред. В. А. Мошникова. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2010. 94 с. Дано описание лабораторно-практических работ по образованию фракталов, золь-гель-технологии, атомно-силовой микроскопии, измерению газочувствительных структур с иерархией пор, анализу удельной поверхности порошковых и пористых материалов методом т...

Тезисы 2-ей Всероссийской школы молодых ученых Микро-, нанотехнологии и их применение

формат pdf
размер 3.22 МБ
добавлен 19 июня 2011 г.

Черноголовка, ИПТМ РАН, 14 декабря 2005. - 54 с. Рентгеновская оптика Влияние размытия межслойных границ на эффективность тонкопленочного рентгеновского волновода Дифракция рентгеновского излучения с ограниченным волновым фронтом в геометрии Брэгга Изучение дефектов структуры узкозонных полупроводников на основе монокристаллических сплавов (Bi+Sb) методами рентгеновской топографии Магнитное упорядочение в bcc [Fe/Co]35 пленке, исследованное мето...

Усанов Д.А., Яфаров Р.К. Исследование автоэлектронной эмиссии из наноуглеродных материалов

формат pdf
размер 716.18 КБ
добавлен 02 августа 2011 г.

Учебное пособие для студ. фак. Нано- и биомедицинских технологий. – Саратов, СГУ, 2006. - 23 с. Учебное пособие представляет собой руководство к практическим занятиям по курсу «Физика полупроводников». Содержит расширенное описание материала, знание которого необходимо при выполнении лабораторной работы по исследованию автоэлектронной эмиссии из металлов и наноуглеродных материалов. Для студентов, обучающихся по направлению «Электроника и микро...

Шишкин Е.И. Николаева Е.В. Исследование наноматериалов методами сканирующей зондовой микроскопии

формат pdf
размер 1.56 МБ
добавлен 20 июля 2011 г.

Екатеринбург: ИОНЦ «Нанотехнологии и перспективные материалы», 2008, 32с. Руководство к лабораторным и практическим занятиям специальной дисциплины «Исследование наноматериалов методами сканирующей зондовой микроскопии» составлено в соответствии с требованиями регионального компонента к обязательному минимуму содержания и уровню подготовки бакалавров по направлению 210600 «Нанотехнология» по циклу «Специальные дисциплины и/или дисциплины специал...