Троян В.И., Пушкин М.А., Борман В.Д., Тронин В.Н.
Учебное пособие. - М.: МИФИ, 2008. - 260 с. Распознано
В книге представлены физические основы экспериментальных методов, являющихся базовыми в исследованиях наноструктур и поверхности твердого тела: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, оже-электронная спектроскопия, спектроскопия рассеяния медленных ионов, сканирующая зондовая микроскопия и дифракция медленных эленктронов. Набор этих методов позволяет проводить исследования структурных, электронных и магнитных свойств нанообъектов и поверхности. Для специалистов в области физики поверхности и наноструктур, аспирантов и студентов старших курсов физических специальностей университетов.
Оглавление (6 глав): Предисловие.
Введение.
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.
Ожэ-электронная спектроскопия.
Спектроскопия рассеяния медленных ионов.
Сканирующая зондовая микроскопия.
Дифракция медленных электронов.
Задачи.
Список рекомендуемой литературы.
В книге представлены физические основы экспериментальных методов, являющихся базовыми в исследованиях наноструктур и поверхности твердого тела: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, оже-электронная спектроскопия, спектроскопия рассеяния медленных ионов, сканирующая зондовая микроскопия и дифракция медленных эленктронов. Набор этих методов позволяет проводить исследования структурных, электронных и магнитных свойств нанообъектов и поверхности. Для специалистов в области физики поверхности и наноструктур, аспирантов и студентов старших курсов физических специальностей университетов.
Оглавление (6 глав): Предисловие.
Введение.
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.
Ожэ-электронная спектроскопия.
Спектроскопия рассеяния медленных ионов.
Сканирующая зондовая микроскопия.
Дифракция медленных электронов.
Задачи.
Список рекомендуемой литературы.