Мошников В.А., Спивак Ю.М. Атомно-силовая микроскопия для нанотехнологии и диагностики

формат pdf
размер 3.24 МБ
добавлен 21 мая 2011 г.

Учеб. пособие СПб.: Изд-во СПбГЭТУ ЛЭТИ, 2009, 80 с. ISBN 978-5-7629-0908-8 Рассматриваются различные методы сканирующей зондовой микроскопии и их применение в нанотехнологии и диагностике
Предназначено для студентов. обучающихся по магистерским образовательным программам "Нанотехнология и диагностика", "Нано-и микросистемная техника". Гриф УМО вузов РФ по образованию в области радиотехники, электроники, биомедицинской техники и автоматизации в качестве учебного пособия для студентов вузов, обучающихся по направлениям подготовки 210100 "электроника и микроэлектроника" и 210600 "Нанотехнология"

Похожие разделы

Смотрите также

Зятьков И.И., Максимов А.И., Мошников В.А. Сенсоры на основе полевых транзисторов

формат djvu
размер 1.56 МБ
добавлен 06 июня 2011 г.

Санкт-Петербург, издательство СПбГЭТУ "ЛЭТИ", 2002. - 56 с. Учебное пособие ISBN 5-7629-0474-1 Рассмотрены основные понятия и закономерности в области электродных явлений и мембранного транспорта, а также принципы работы и конструкции сенсоров на основе МДП-транзисторов. Рекомендуется студентам, обучающимся по специальности 200100 "Микроэлектроника и твердотельная электроника" и магистрантам специализации 553122 "Физика сенсорных материалов и у...