Мн.: Университетское, 1989. — 368 с. — ISBN 5-7855-0045-0.
Монография посвящена вопросам постановки, методам и алгоритмам
решения задачи численного моделирования микроэлектронных структур.
Содержит обобщающее введение в проблему получения математических
моделей полупроводниковых структур, берущую свое начало в
закономерностях электромагнитных процессов, выраженных уравнениями
Максвелла. Главное внимание уделяется аспектам автоматизации
численного моделирования, созданию вычислительного инструментария
проверки модельных технолого-конструктивных решений. Результаты
теоретических исследований иллюстрируются большим количеством
примеров и рисунков.
Адресуется специалистам в области автоматизации проектирования в микроэлектронике, инженерам-разработчикам полупроводниковых приборов и интегральных схем. Может быть полезной студентам и аспирантам, специализирующимся в области микроэлектроники и автоматизации проектирования.
Адресуется специалистам в области автоматизации проектирования в микроэлектронике, инженерам-разработчикам полупроводниковых приборов и интегральных схем. Может быть полезной студентам и аспирантам, специализирующимся в области микроэлектроники и автоматизации проектирования.