Левинсон И.Б., Никитин А.А. Руководство по теоретическому вычислению интенсивностей линий в атомных спектрах

формат djvu
размер 11.69 МБ
добавлен 18 апреля 2011 г.

Издательство Ленинградского университета, 1962 г, 372 с.
Книга является справочным руководством для вычисления вероятностей дипольных, квадрупольных и магнитных дипольных переходов в атомных спектрах. Рассматриваются случаи различных векторных связей и различных электронных конфигураций. Приводятся приближенные методы расчета вероятностей переходов и коэффициенты поглощений. В конце книги приложены таблицы сил мультиплетов и сил линий, а также перевод трех работ Ракаха по теории атомных спектров.
Книга рассчитана на научных работников и студентов астрономов, а также и на спектроскопистов-экспериментаторов.

Похожие разделы

Смотрите также

Зайдель А.Н., Шрейдер Е.Я. Вакуумная спектроскопия и ее применение

формат djvu
размер 4.01 МБ
добавлен 12 июня 2011 г.

Монография (серия - Физика и техника спектрального анализа). Москва, Изд-во Наука, 1976, 218 с. В книге описана экспериментальная техника, спектральные приборы, оптические материалы и источники света, применяемые при исследованиях, связанных с использованием вакуумной ультрафиолетовой области спектра. Изложены также основные результаты по применению этой области к изучению плазмы, атомных спектров, атомных столкновений, флуоресцентного и эмиссион...

Зигбан К., Нордлинг К. Электронная спектроскопия

формат djvu
размер 6.92 МБ
добавлен 04 сентября 2010 г.

Пер. с англ. М.: Мир; Год: 1973; Стр. : 493; Книга посвящена спектроскопии фотоэлектронов, возбужденных рентгеновким или УФ-излучением. Электронная спектроскопия позволяет получать важную информацию об электронной структуре вещества - абсолютных значениях энергии связи электронов на всей совокупности атомных уровней, эффективные заряды атомов, распределение электронов по энергиям в валентной зоне.

Иванов А.Н. Дифракционные методы исследования материалов

формат pdf
размер 3.87 МБ
добавлен 12 декабря 2011 г.

Москва. МИСИС. 2008. 99 стр. Конспект лекций по спецкурсу Физика металлов. Рентгеновская техника Анализ субструктуры по ширине, профилю и интенсивности рентгеновских линий Некоторые применения дифракционных методов исследования

Исаков А.Я. Энергия. Часть 3

формат pdf
размер 12.55 МБ
добавлен 13 января 2011 г.

Руководство по самостоятельной работе для аспирантов и студентов. Петропавловск-Камчатский: КамчатГТУ, 2010. - 259 с. В настоящей книге, материал изложен с позиции предназначения и основной отличительной особенности человека. Полагается, что основным отличием человека от иных живых организмов является его способность преобразовывать окружающее пространство для своих целей, посредством освоения методов и средств добывания, преобразования, концент...

Капчинский И.М. Динамика частиц в линейных резонансных ускорителях

формат djvu
размер 7.41 МБ
добавлен 03 октября 2010 г.

М. : 1966. – 310 с Линейные ускорители заряженных атомных частиц в настоящее время все шире применяются в экспериментальной физике и в некоторых областях техники. Это обусловило значительный прогресс в разработке как теоретических проблем, связанных с динамикой частиц в линейных ускорителях, так и инженерных вопросов, связанных с конструкциями ускоряющих систем и вспомогательного технологического оборудования. Основное достоинство линейных ускори...

Коротков А.И., Казаков С.М. Элементарные процессы

формат djvu
размер 2.44 МБ
добавлен 16 апреля 2010 г.

ЧГУ им. И. Н. Ульянова. Учебное пособие. 1981 г. Специальный физический практикум посвящён изучению элементарных процессов, протекающих при взаимодействии различного типа атомных частиц. Условно содержание практикума может быть разделено на три части. В первой части практикума описаны работы по методам формирования, селекции и регистрации пучков заряженных частиц. Второй раздел практикума посвящен вопросам, связанным с методикой получения, селекц...

Майсова Н.Н. Практикум по курсу общей физики

Практикум

формат djvu
размер 4.3 МБ
добавлен 26 октября 2011 г.

Издательство: Высшая школа 1970г. Стр.443 В учебном пособии изложен теоретический материал в соответствии с программой курса физики для втузов и дается описание методики проведения каждой работы. Основное внимание уделено принципам измерения физических величин, технике выполнения лабораторных работ, вычислению погрешностей, обработке результатов и графическому tfx отображению. Единицы измерения приведены по Международной системе единиц (СИ).

Петухов В.Ю., Хабибулина Н.Р. Исследование тонких пленок методом ЭПР

формат pdf
размер 904.09 КБ
добавлен 22 апреля 2011 г.

Казань, 2009. - 31 с. Методическое пособие предназначено для студентов четвертого курса, приступивших к изучению спецкурса «Физика поверхности и тонких пленок». В первой части пособия кратко изложены основы метода ЭПР, приведены основные характеристики спектров: g-фактор, интенсивность, ширина и форма линий. Более подробно рассмотрены вопросы возникновения сверхтонкой и тонкой структуры спектров ЭПР. Во второй части пособия описана техника получе...

Тюкин А.В. Руководство к компьютерным лабораторным работам по физике

формат doc
размер 1.49 МБ
добавлен 21 января 2012 г.

Учебно-методическое пособие. - Омск: СибАДИ, 2009. - 94 с. Предлагаемое руководство предназначено для подготовки к выполнению, проведению и защите компьютерных лабораторных работ по курсу общей физики, созданных на кафедре физики СибАДИ. Может быть использовано для проведения лабораторных занятий со студентами очного и заочного отделений, для самостоятельного и углубленного изучения курса физики в техническом вузе. Табл. 41 Ил 34 Библиогр.: 6 на...

Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок

формат djvu
размер 2.56 МБ
добавлен 14 августа 2010 г.

Пер. с англ. — М.: Мир, 1989. — 344 с, ил. Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры и состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на вы...