Коротков А.И., Казаков С.М. Элементарные процессы

формат djvu
размер 2.44 МБ
добавлен 16 апреля 2010 г.

ЧГУ им. И. Н. Ульянова. Учебное пособие.
1981 г.
Специальный физический практикум посвящён изучению элементарных процессов, протекающих при взаимодействии различного типа атомных частиц. Условно содержание практикума может быть разделено на три части. В первой части практикума описаны работы по методам формирования, селекции и регистрации пучков заряженных частиц. Второй раздел практикума посвящен вопросам, связанным с методикой получения, селекции и регистрации пучков атомов и молекул находящихся в различных квантовых состояниях. В третьей части практикума представлены работы по определению эффективных сечений возбуждения излучающих и нестабильных уровней оптическим и электрическим методами.
Практикум рассчитан на студентов и аспирантов, специализирующихся в области оптики и спектроскопии, физики плазмы и квантовой электроники, и может быть полезным другим работникам этих специальностей.

Похожие разделы

Смотрите также

Васильев А.Н., Михайлин В.В. Введение в спектроскопию диэлектриков. Часть I

формат pdf
размер 992.79 КБ
добавлен 08 ноября 2011 г.

М.: НИЯФ МГУ, 2008.- 219 с. В учебном пособии отражены как теоретические, так и экспериментальные аспекты спектроскопии твердого тела. В первой части пособия рассматриваются как общие подходы к описанию взаимодействия оптического излучения с конденсированными средами, так и элементарные электронные и фононные возбуждения. Пособие написано на основе курсов лекций, читаемых авторами студентам старших курсов на физическом факультете Московского госу...

Васильев А.Н., Михайлин В.В. Введение в спектроскопию диэлектриков. Часть II. Вторичные процессы

формат pdf
размер 4.13 МБ
добавлен 08 ноября 2011 г.

М.: Университетская книга, 2010. - 238 с. В учебном пособии отражены как теоретические, так и экспериментальные аспекты спектроскопии твердого тела. Во второй части пособия рассматриваются разнообразные вторичные процессы, происходящие в диэлектрических кристаллах после поглощения света или после прохождения ионизирующей частицы. Основное внимание уделяется люминесценции при возбуждении в области фундаментального поглощения. Пособие написано на...

Волох В.И. Применение портативного прибора для измерения твердости

Статья

формат doc
размер 120 КБ
добавлен 26 февраля 2011 г.

Опубликована в журнале "Металлургичекие процессы и оборудование" №3 сентябрь 2009 год. Рассмотрены достоинства и недостатки применения портативного твердомера в производственных условиях. Исследовано изменения твердости материала (сталь 09Г2С)в лабораторных условиях при деформационных растяжениях. Представлены результаты экспериментов по определения зависимости коэрцитивной силы от твердости по разным шкалам(НRC, НВ, НV).

Козаков А.Т. Физические основы электронной спектроскопии заряженных поверхностей твердых тел

формат pdf
размер 22.02 МБ
добавлен 17 августа 2011 г.

Монография. - Ростов-на-Дону, ЮФУ, 2009. - 406 с. В монографии рассмотрены процессы, сопровождающие вылет электронов из заряженных поверхностей поляризованных электретов, сегнето-электриков. В первых главах рассмотрено устройство рентгеноэлектронного спектрометра, принципы функционирования энергоанлизатора электронов, разработана методика получения спектров медленных электронов с нейтральных и заряженных поверхностей материалов. В процессе даль...

Кортнев А.В, Рублев Ю.В. и др. Практикум по физике

Практикум

формат djvu
размер 10.92 МБ
добавлен 26 октября 2011 г.

3-е изд., доп. и перераб. - М.: Высшая школа, 1965. - 568 с. Физический практикум призван помочь студентам глубже осознать основные физические закономерности и приобрести элементарные навыки экспериментирования. Практикум является как бы введением в дальнейшую самостоятельную работу. Книга охватывает все основные разделы курса физики и знакомит студентов с сущностью физических явлений и методами измерения физических величин.

Круглов А.В., Голубок А.О. Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография

формат pdf
размер 3.09 МБ
добавлен 08 апреля 2011 г.

Москва, НИИФП, ЗАО «НТ-МДТ». - 108 с. В данном учебном пособии представлены лабораторные работы, посвященные изучению методов сканирующей зондовой микроскопии, включая спектроскопические измерения и процессы литографии, а также их применение для исследований и модификации микро- и наноструктур. Учебное пособие предназначено для студентов старших курсов и магистратуры, обучающихся по специальностям: 20200 "Нанотехнология в электронике", 073800 "...

Ллойд Дж. Системы тепловидения

формат djvu
размер 14.67 МБ
добавлен 01 марта 2010 г.

Издательство «Мир» Москва 1978. В книге изложены физические основы тепловидения и принципы построения тепловизионных приборов. В ней достаточно подробно описаны все основные процессы, происходящие в системах тепловидения, - от генерирования теплового излучения до зрительного восприятия тепловизионных изображений. Помимо энергетических характеристик приборов рассматриваются проблемы воспроизведения изображений с заданным качеством. Книга предна...

Ноздрев В.Ф. (ред.) Практикум по общей физике

Практикум

формат djvu
размер 2.56 МБ
добавлен 28 августа 2011 г.

Учеб. пособие для физ.-мат. фак. пед. ин-тов. М., "Просвещение", 1971. - 311 с. с илл. Перед загл. авт.: З.И. Авдусь, М.М. Архангельский, Н.И. Кошкин и др. Пособие предназначается для студентов физико-математетических факультетов педагогических институтов. Практикум по курсу общей физики в педагогических институтах должен помочь студентам глубже уяснить основные физические законы и явления, отчетливое понимание которых особенно важно будущим учит...

Пущаровский Д.Ю. Рентгенография минералов

формат pdf
размер 11.59 МБ
добавлен 19 декабря 2010 г.

ЗАО "Геоинформмарк" Москва, 2000. - 288 c. В работе дается описание физических явлений, сопровождающих процессы рассеяния дифракции рентгеновских волн в кристаллах, без привлечения сложного математического аппарата. Рассматриваются природа и свойства рентгеновских лучей, излагаются подходы к решению ряда практических задач рентгенографии металлов, представлены основные принципы рассеяния рентгеновских лучей в кристаллах и теоретичексие основы рен...

Углов В.В., Черенда Н.Н., Анищик В.М. Методы анализа элементного состава поверхностных слоев

формат pdf
размер 8.67 МБ
добавлен 03 июня 2011 г.

Учеб. пособие. -Мн.: БГУ, 2007. -158с. Изложены основные представления о современных методах анализа элементного состава поверхностных слоев материалов. Для каждого из методов рассматриваются физические процессы, лежащие в основе метода, основные их закономерности, зависимости получаемых данных от параметров анализирующего пучка, достоинства и недостатки метода, а также некоторые технологические вопросы. Учебное пособие предназначено для студенто...