Круглов А.В., Голубок А.О. Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография

формат pdf
размер 3.09 МБ
добавлен 08 апреля 2011 г.

Москва, НИИФП, ЗАО «НТ-МДТ». - 108 с.
В данном учебном пособии представлены лабораторные работы, посвященные изучению методов сканирующей зондовой микроскопии, включая спектроскопические измерения и процессы литографии, а также их применение для исследований и модификации микро- и наноструктур.

Учебное пособие предназначено для студентов старших курсов и магистратуры, обучающихся по специальностям:
20200 "Нанотехнология в электронике",
073800 "Наноматериалы",
200100 "Микроэлектроника и твердотельная электроника",
201900 "Микросистемная техника".

Лабораторные работы проводятся на базе сканирующего зондового микроскопа NanoEducator, разработанного специально для учебно-научных целей компанией «НТ-МДТ». В ходе подготовки к лабораторной работе каждый студент должен понять цель работы,
изучить содержание работы и основные физические закономерности используемых или исследуемых явлений. Результаты экспериментов представляются на проверку преподавателю.

Смотрите Часть 2 - Сканирующий зондовый микроскоп NanoEducator

Похожие разделы

Смотрите также

Вагизов Ф.Г. Садыков Э.К. Гайнов Р.Р. Метод задержанных совпадений в гамма-резонансной спектроскопии (теория и практика мессбауэровской спектроскопии)

формат pdf
размер 381.48 КБ
добавлен 21 ноября 2011 г.

Казань: КазФУ, 2011. - 20 с. В настоящее время гамма-резонансная спектроскопия (ГРС) является одним из эффективных методов исследования микроструктуры твердых тел. Традиционной методикой эксперимента в ГРС является измерение энергетических мёссбауэровских спектров поглощения. Наряду с этим существует принципиально отличная методика, основанная на измерении временных мессбауэровских спектров. В этом случае источником информации служит временная з...

Волков С.В., Яцимирский К.Б. Спектроскопия расплавленных солей

формат pdf
размер 12.66 МБ
добавлен 31 марта 2011 г.

Киев.: Наукова Думка. 1977. 223 с. В монографии представлены результаты исследований в области электронной, колебательной (инфракрасной и комбинационного рассеяния ) спектроскопии расплавленных солей.

Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности

формат djvu
размер 5.52 МБ
добавлен 12 июля 2010 г.

М., Мир, 1989. -564с. В книге излагаются физические основы более двадцати современных методов исследованния поверхности (дифракция медленных электронов, ионная и электронная спектроскопия и т. д. ).

Зайдель А.Н., Шрейдер Е.Я. Вакуумная спектроскопия и ее применение

формат djvu
размер 4.01 МБ
добавлен 12 июня 2011 г.

Монография (серия - Физика и техника спектрального анализа). Москва, Изд-во Наука, 1976, 218 с. В книге описана экспериментальная техника, спектральные приборы, оптические материалы и источники света, применяемые при исследованиях, связанных с использованием вакуумной ультрафиолетовой области спектра. Изложены также основные результаты по применению этой области к изучению плазмы, атомных спектров, атомных столкновений, флуоресцентного и эмиссион...

Зигбан К., Нордлинг К. Электронная спектроскопия

формат djvu
размер 6.92 МБ
добавлен 04 сентября 2010 г.

Пер. с англ. М.: Мир; Год: 1973; Стр. : 493; Книга посвящена спектроскопии фотоэлектронов, возбужденных рентгеновким или УФ-излучением. Электронная спектроскопия позволяет получать важную информацию об электронной структуре вещества - абсолютных значениях энергии связи электронов на всей совокупности атомных уровней, эффективные заряды атомов, распределение электронов по энергиям в валентной зоне.

Кочубей Д.И. и др. Рентгеноспектральный метод изучения структуры аморфных тел: EXAFS-спектроскопия

формат djv
размер 3.47 МБ
добавлен 09 апреля 2011 г.

Новосибирск. Наука. Сиб. отд. 1988. 306 с. В монографии подробно описан новый мощный структурный метод, позволяющий в объекте любой сложности и любого агрегатного состояния измерять кривую радиального распределения атомов для локального (до 5 А) координационного окружения заданного химического элемента по дальней тонкой структуре его рентгеновских спектров поглощения (EXAFS-спектроскопия). Рассмотрены теоретические и методические вопросы EXAFS-сп...

Лекции - Современные методы исследования конденсированных материалов

Статья

формат pdf
размер 1.71 МБ
добавлен 20 марта 2011 г.

2008, 78с. Белорусский государственный университет. Физический факультет. Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники. Для специализации G 1. 31.04.01.01.06 Физика полупроводников и диэлектриков, G 1. 31.04.01.01.14 Новые материалы и технологии, G 1. 31.04.01.01.17 Микроэлектроника. Содержание Основные понятия. Методы изучения электрических характеристик. Измерение удельного сопротивления. Измерение э. д. с. Холла и магнитосопротивления...

Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии

формат djvu
размер 7.37 МБ
добавлен 19 июня 2010 г.

М., Техносфера 2005 г. 144 стр. Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур – сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), атомно-силовая микроскопия (АСМ), электросиловая микроскопия (ЭСМ), магнитно-силов...

Михайлин В.В. Синхротронное излучение в спектроскопии

формат pdf
размер 2.63 МБ
добавлен 02 марта 2011 г.

М.: НИИЯФ МГУ, 2007. - 161 с. Учебное пособие предназначено для студентов физического факультета МГУ им. М. В. Ломоносова, слушающих курсы «Синхротронное излучение и его применения» и «Спектроскопия твердого тела» и аспирантов, слушающих курс «Методы спектроскопии с синхротронным излучением», Содержание. Свойства синхротронного излучения. Источники и каналы СИ. Спектральные приборы в каналах СИ. Экспериментальные установки в каналах СИ. Методы...

Сканирующий зондовый микроскоп NanoEducator

формат pdf
размер 5 МБ
добавлен 11 июня 2011 г.

Руководство пользователя. - Москва, НИИФП, ЗАО «НТ-МДТ», 2008. - 137 с. Принцип работы и конструкция Подготовка прибора к работе Интерфейс программы NanoEducator Проведение измерений Анализ и обработка изображений в программе Scan Viewer Приложения: Травление игл Программный осциллограф Цифровой видеомикроскоп Электронный блок Смотрите Часть 1 - Круглов А. В., Голубок А. О. Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография