Конончук П.Ю. Адаптация метода оптической счётной микроскопии для определения гранулометрического состава почв - Автореферат

  1. Файлы
  2. Академическая и специальная литература
  3. Физика
  4. Практикумы, экспериментальная физика и физические методы исследования
  5. Микроскопия
Практикумы, экспериментальная физика и физические методы исследования
Дисертация
  • формат pdf
  • размер 1.16 МБ
  • добавлен 12 декабря 2010 г.
Конончук П.Ю. Адаптация метода оптической счётной микроскопии для определения гранулометрического состава почв - Автореферат
Автореферат диссертации на … кандидата сельскохозяйственных наук. Спб, 2009. – 21 с.
Цель исследования состояла в адаптации оптической счётной микроскопии для определения гранулометрического состава почв.
Новизна и научная значимость работы заключается в том, что в ней впервые показаны адаптивные требования к методу оптической счётной микроскопии в ее стандартном приборном исполнении для определения гранулометрического состава почв.
Основными положениями диссертации, выносимыми на защиту являются: обоснование возможности применения оптической счётной микроскопии для определения гранулометрического состава почв, параметры применения этого метода с ручным или автоматическим счётом частиц и обработкой результатов при использовании оптического микроскопа в стандартной комплектации; метрологические характеристики метода, позволяющие применять его в качестве альтернативного или арбитражного
Похожие разделы
  1. Академическая и специальная литература
  2. Биологические дисциплины
  3. Гистология
  4. Гистологическая и микроскопическая техника
Смотрите также

Анищик В.М., Углов В.В., Черенда Н.Н. Резерфордовское обратное рассеяние. Методические указания к лабораторным работам

Практикум
  • формат pdf
  • размер 1.6 МБ
  • добавлен 07 июня 2011 г.
Мн.: БГУ, 2004, – 48 с. Методические указания предназначены для студентов кафедры физики твердого тела и направлены на освоение метода резерфордовского обратного рассеяния и на развитие практических навыков определения из спектров обратного рассеяния состава гомогенных, гетерогенных и слоистых тонкопленочных систем, имеющих важное практическое значение в материаловедении и микроэлектронике. Пособие состоит из 5 лабораторных работ и рассчитано на...

Горелик С.С. Рентгенографический и электроннооптический анализ, 2-е издание

  • формат pdf
  • размер 38.97 МБ
  • добавлен 19 октября 2009 г.
Книга является учебным пособием по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии. В ней рассмотрена экспериментальная и расчетная методика решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электрон- ной микроскопии. В описании каждой работы имеются необходимые теоретические пояс- нения и изложен порядок выполнения задач. В приложении дан необходимый справочный материал. Книга предназначена для студентов м...

Гоулдстейн Дж., Яковица Х. Практическая растровая электронная микроскопия

  • формат pdf
  • размер 36.5 МБ
  • добавлен 20 мая 2010 г.
М: Мир, 1978, 656 с. В книге подробно изложены различные аспекты растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Рассмотрены электронная оптика приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, формирование изображения и контраст, проблема разрешения, рентгеновские спектры и количественный микроанализ, методы приготовления образцов, а также ряд более специальных вопросов. Книга представляет интерес для материаловедов, химиков...

Заблоцкий А.В., Тимофеев А.А., Коростылёв Е.В., Кузьмин А.А. Электронная микроскопия в нанодиагностике

  • формат pdf
  • размер 12.75 МБ
  • добавлен 04 ноября 2011 г.
Учебное пособие. - М.: Издательство МФТИ, 2011. - 144 с. Целью данного пособия является ознакомление основными методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, устройством и принципом работы микроскопов и формированием изображении электронно-оптической системой. Читатели ознакомятся со способами интерпретации изображений, спектров характеристического рентгеновского излучения, спектров катодолюминесценции, расшифровки картин дифракции...

Меньшиков Е.А. Анализ наноструктурированных полимерных пленок совмещенными методами атомно-силовой и интерференционной микроскопии

Дисертация
  • формат pdf
  • размер 1.1 МБ
  • добавлен 05 декабря 2011 г.
Автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук. - Москва, МГУ им. М.В. Ломоносова, 2009. - 26 с. Специальность 02.00.06 – высокомолекулярные соединения 01.04.01 – приборы и методы экспериментальной физики Основным актуальным аспектом работы является изучение структуры тонких пленок блок-сополимеров, поскольку их использование предоставляет широкие возможности для развития современных технологий. Большой...

Пилянкевич А.Н., Климовицкий А.М. Электронные микроскопы

  • формат djvu
  • размер 1.56 МБ
  • добавлен 04 сентября 2010 г.
Киев. «Техшка», 1976, 168 с. Изложены основные представления электронной геометрической оптики, рассмотрен принцип действия электростатических и электромагнитных электронных линз и основные виды их аберраций, а также конструкции линз и их взаимодействие в оптической системе электронных микроскопов просвечивающего типа. Особое внимание уделено практическим вопросам эксплуатации электронных микроскопов: наладке, юстировке, проверке разрешающей спо...

Томас Г., Гориндж М. Дж. Просвечивающая электронная микроскопия материалов

  • формат pdf
  • размер 39.83 МБ
  • добавлен 11 января 2012 г.
М.: Наука, 1983. - 320 с. Книга известных зарубежных ученых Г. Томаса и М.Дж. Горинджа посвящена исследованию материалов методом просвечивающей электронной микроскопии. На основе новейших экспериментальных и теоретических данных изложены физические основы электронной микроскопии и дифракции электронов, теории контраста и динамической теории дифракции в применении к исследованию различных материалов, данные о реальной структуре кристаллов и матер...

Углов В.В., Черенда Н.Н., Анищик В.М. Методы анализа элементного состава поверхностных слоев

  • формат pdf
  • размер 8.67 МБ
  • добавлен 03 июня 2011 г.
Учеб. пособие. -Мн.: БГУ, 2007. -158с. Изложены основные представления о современных методах анализа элементного состава поверхностных слоев материалов. Для каждого из методов рассматриваются физические процессы, лежащие в основе метода, основные их закономерности, зависимости получаемых данных от параметров анализирующего пучка, достоинства и недостатки метода, а также некоторые технологические вопросы. Учебное пособие предназначено для студенто...

Шиммель Г. Методика электронной микроскопии

  • формат djvu
  • размер 7.31 МБ
  • добавлен 08 августа 2010 г.
М., Изд-во «МИР», 1972, 300 с. Книга западногерманского специалиста в области электронной микроскопии Г. Шиммеля представляет собой обзор по методике электронно-микроскопических исследований. После обсуждения общих вопросов электронной микроскопии в ней рассмотрены важнейшие характеристики приборов, способы приготовления реплик, приложение метода для изучения фазового состава, динамики (в том числе количественной оценки) разнообразных процессов....

Garcia R., Perez R. Dynamic atomic force microscopy metods

  • формат pdf
  • размер 3.11 МБ
  • добавлен 15 декабря 2011 г.
Surface Science Reports 47 (2002) р.197–301 journal homepage: www.elsevier.com/locate/surfrep Данный доклад посвящен основам, применению и перспективам развития динамической атомно-силовой микроскопии. Рассмотрены полуконтактная и бесконтактная моды атомно-силовой микроскопии.
  • 2008 — 2024 «СтудМед»