/ Ю. В. Воробьев, В. Н. Добровольский, В. И. Стриха.
К.: Выща шк. Головное изд-во, 1988. - 232 с. , 125 ил. - Библиогр. : 35 назв.
ISBN 5-11-000230-4
В учебном пособии рассмотрены методы определения основных параметров полупроводниковых материалов (удельного сопротивления, концентрации и подвижности носителей заряда, термических, термоэлектрических и рекомбинационных параметров, а также параметров, характеризующих поверхность полупроводника). Изложены физические принципы методик исследования полупроводников, приведены схемы экспериментальных установок, проанализированы условия применимости различных методик и основные источники их погрешнстей.
Особое внимание уделено проблеме использования ЭВМ в исследованиях полупроводников.
Для студентов физических и радиофизических специальностей вузов.
К.: Выща шк. Головное изд-во, 1988. - 232 с. , 125 ил. - Библиогр. : 35 назв.
ISBN 5-11-000230-4
В учебном пособии рассмотрены методы определения основных параметров полупроводниковых материалов (удельного сопротивления, концентрации и подвижности носителей заряда, термических, термоэлектрических и рекомбинационных параметров, а также параметров, характеризующих поверхность полупроводника). Изложены физические принципы методик исследования полупроводников, приведены схемы экспериментальных установок, проанализированы условия применимости различных методик и основные источники их погрешнстей.
Особое внимание уделено проблеме использования ЭВМ в исследованиях полупроводников.
Для студентов физических и радиофизических специальностей вузов.